[發明專利]磁編碼器校正系統及方法、控制終端及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010320615.8
• 申請日: 2020-04-22
• 公開（公告）號: CN111521212A
• 公開（公告）日: 2020-08-11
• 發明（設計）人: 王軍
• 申請（專利權）人: 上海英威騰工業技術有限公司
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所(普通合伙) 31251
• 代理人: 郭桂峰

1.一種磁編碼器校正系統，其特征在于，包括：控制終端、驅動控制器及磁編碼器校正工裝，其中，所述驅動控制器分別與所述控制終端和磁編碼器校正工裝連接；所述控制終端用于通過所述驅動控制器控制所述磁編碼器校正工裝運轉；

所述磁編碼器校正工裝包括：

工裝支撐板；

固設于所述工裝支撐板表面的工裝對拖臺架，用于固定標準電機、磁編電機及聯軸器；

所述聯軸器安裝于所述標準電機和磁編電機之間，用于確保所述標準電機和磁編電機的同心度；

所述磁編電機中安裝有待校正的測試磁編碼器；

所述標準電機中安裝有一基準編碼器，且所述基準編碼器的精度高于所述測試磁編碼器的精度；所述標準電機用于拖動所述磁編碼器，同時為校正所述測試磁編碼器提供基準；

所述控制終端中包括：

存儲模塊，用于存儲預設的校正測試流程及磁編電機測試標準；

指令發送模塊，與所述存儲模塊連接，用于根據所述存儲模塊中存儲的校正測試流程及磁編電機測試標準發送指令至所述驅動控制器，控制所述磁編碼器校正工裝按照所述校正測試流程運轉；

運行參數獲取模塊，用于獲取所述磁編碼器校正工裝運轉過程中的運行參數；

校正數據計算模塊，與所述運行參數獲取模塊連接，用于根據所述運行參數獲取模塊獲取的運行參數得到相應的補償和校正參數；

數據寫入模塊，與所述校正數據計算模塊連接，用于將所述校正數據計算模塊得到的補償和校正參數、及所述標準電機和磁編電機的參數寫入所述測試磁編碼器中。

2.如權利要求1所述的磁編碼器校正系統，其特征在于，

所述運行參數獲取模塊中獲取的運行參數包括：所述磁編電機啟動后預設時間段內采集的多組溫度數據，及溫度采集時磁阻傳感器輸出的正余弦幅值和直流偏置數據；

所述校正數據計算模塊中包括：

關聯關系建立單元，用于根據所述獲取的運行參數分別建立所述磁阻傳感器的正余弦幅值與溫度之間的關聯關系，及建立所述磁阻傳感器的直流偏置與溫度之間的關聯關系；

曲線擬合單元，與所述關聯關系建立單元連接，用于采用預設算法對所述關聯關系建立單元建立的關聯關系進行曲線擬合，得到所述磁阻傳感器的溫度補償參數，所述溫度補償參數包括所述磁阻傳感器正余弦幅值的理想余弦幅值和溫度系數，及所述磁阻傳感器直流偏置的理想直流偏置和溫度系數；

和/或，

所述運行參數獲取模塊中獲取的運行參數包括：所述標準電機拖動磁編電機工作時，各步進角度下采集的標準電機和磁編電機的位置數據；

所述校正數據計算模塊，用于根據所述運行參數計算各步進角度下所述標準電機和磁編電機的位置誤差，進而根據所述位置誤差及所述磁編電機的位置數據計算得到精度校正后的磁編電機位置數據。