[發(fā)明專利]一種雷達物位計

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010317352.5
• 申請日: 2020-04-21
• 公開（公告）號: CN111380593B
• 公開（公告）日: 2021-12-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 韋恩·謝拉德
• 申請（專利權(quán)）人: 羅克希爾自動化有限公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284;H01Q1/22;H01Q1/36;H01Q15/14
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 張子寬

本申請公開了一種雷達物位計，包括：外殼；天線組件，天線組件收發(fā)面沿豎直正負45°范圍內(nèi)的任一方向設(shè)置，收發(fā)面收發(fā)的微波方向垂直于收發(fā)面；反射板，天線組件和反射板均設(shè)置于外殼中，反射板的反射面與天線組件的收發(fā)面相對設(shè)置，反射面用于將天線組件發(fā)射的微波豎直反射至液面并將液面反射的微波反射至收發(fā)面。該雷達物位計的天線組件的收發(fā)面沿豎直正負45°范圍內(nèi)的任一方向設(shè)置，因此，液體蒸發(fā)后的水汽在天線組件的收發(fā)面冷凝成的液態(tài)水因為收發(fā)面豎直傾角大，液態(tài)水在自身重力下能夠順利地沿著收發(fā)面流下來，不會在收發(fā)面形成集聚，從而不會影響收發(fā)面對微波的接收，保證了微波接收強度，有效解決了冷凝水對液位測量的不良影響。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及物位計技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種雷達物位計。

背景技術(shù)

雷達物位計作為一種非接觸式測量工具，在現(xiàn)代工業(yè)物位測量領(lǐng)域中有廣泛的應(yīng)用。雷達物位測量的原理是：電磁波由雷達物位計天線發(fā)射，到達被測物表面，在被測物表面反射后又被天線接收，通過發(fā)射和接收電磁波的時間差就能計算出電磁波發(fā)射位置到被測物表面之間的距離，從而實現(xiàn)物位測量。

目前現(xiàn)有雷達物位計通常都是測量具有水平液面的液體，所以天線發(fā)射的微波必須是豎直向下發(fā)射。為了保證能夠在豎直向下的方向上發(fā)射微波，雷達物位計的天線表面一般都是水平設(shè)置。由于雷達物位計經(jīng)常用于測量水、酸等液體，有些被測介質(zhì)具有揮發(fā)冷凝的特性，如高溫下的水會產(chǎn)生水蒸氣，天線表面會不可避免的產(chǎn)生冷凝水。水平設(shè)置的天線表面產(chǎn)生的冷凝水很難自流，往往會結(jié)在天線表面上，當水量比較大時就會影響天線信號的接收。冷凝水會極大的吸收微波信號的能量，從而造成接收的微波信號會衰弱，有時甚至接收不到信號。

目前現(xiàn)有的方法都是在雷達物位計的天線表面01上加裝一個天線罩02，如圖1所示，由天線罩02構(gòu)成一個斜面，但是由于這個斜面不可能角度太大，目前的角度往往都是小于45度的角度，所以冷凝水的現(xiàn)象仍然比較嚴重，使用效果也不太明顯，無法有效的提高產(chǎn)品的測量精度。

綜上所述，如何有效解決雷達物位計的天線表面冷凝水影響液位測量的問題，成為了本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種雷達物位計，以有效解決雷達物位計的天線表面冷凝水對液位測量的不良影響。

為達到上述目的，本發(fā)明提供以下技術(shù)方案：

一種雷達物位計，包括：

外殼；

天線組件，所述天線組件具有用于收發(fā)微波的收發(fā)面，所述收發(fā)面沿豎直正負45°范圍內(nèi)的任一方向設(shè)置，所述收發(fā)面收發(fā)的微波方向垂直于所述收發(fā)面；

反射板，所述天線組件和反射板均設(shè)置于所述外殼中，所述反射板的反射面與所述天線組件的收發(fā)面相對設(shè)置，所述反射面用于將所述天線組件發(fā)射的微波豎直反射至液面并將液面反射的微波反射至所述收發(fā)面。

優(yōu)選地，在上述的雷達物位計中，所述天線組件的收發(fā)面沿豎直方向設(shè)置，所述反射板的反射面相對水平面呈40°～50°角設(shè)置。

優(yōu)選地，在上述的雷達物位計中，所述天線組件為收發(fā)一體天線或收發(fā)分體天線。

優(yōu)選地，在上述的雷達物位計中，所述天線組件為喇叭天線、透鏡天線或微帶天線。

優(yōu)選地，在上述的雷達物位計中，所述反射板的反射面為平面或弧面。

優(yōu)選地，在上述的雷達物位計中，還包括：

天線防護罩，設(shè)置于所述外殼中，且所述天線防護罩平行罩設(shè)于所述天線組件的收發(fā)面，微波可穿過所述天線防護罩；

反射板防護罩，設(shè)置于所述外殼中，且所述反射板防護罩平行罩設(shè)于所述反射板的反射面，微波可穿過所述反射板防護罩。