[發(fā)明專利]一種大尺寸LCD顯示模組機器視覺檢查方法與系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010317017.5
• 申請日: 2020-04-21
• 公開（公告）號: CN111474748A
• 公開（公告）日: 2020-07-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 肖學(xué)軍;劉品德;陳顯鋒
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州佳智彩光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳市添源知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44451
• 代理人: 羅志偉

1.一種大尺寸LCD顯示模組機器視覺檢查方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、圖像校準，采用高分辨率的相機拍照前，對拍照圖片進行校準，通過精密運動機構(gòu)調(diào)整相機位置和角度，使屏幕照片分辨率和屏幕實際分辨率達到3:1，消除相機芯片采樣和屏幕信號的高頻干擾；

S2、圖像采集，采用高分辨率的相機獲取多張不同情況下LCD屏幕的照片；

步驟S2包括以下子步驟：

S21、打開除灰燈，不點亮屏幕，拍攝Dust圖像G_D；

S22、除灰燈不亮，屏幕點亮，顏色為白色，拍攝白色ROI定位圖像G_ROI，用于提取檢測區(qū)域；

S23、將屏幕分別點亮并顯示畫面為白色(最高灰階)、128灰度、64灰度、黑色、R紅、G綠、B藍，拍攝檢測圖像，分別表示為G₁，G₂，G₃，G₄，G₅，G₆，G₇；

S3、缺陷檢測，對照片進行缺陷相關(guān)的圖像處理，綜合分析輸出最終檢測結(jié)果；

步驟S3包括以下子步驟：

S31、通過白色ROI定位圖像G_ROI，獲取幾何變換矩陣M，得到各檢測圖像的待檢測區(qū)域R_Gi：

R_Gi＝M*G_i,,G_i∈{G_D，G₁，G₂，G₃，G₄，G₅，G₆，G₇}；

S32、定位Dust圖像G_D中的灰塵，亮點為灰塵，并記錄其位置信息：

S33、利用白色檢測圖像G₁，檢測LCD的背光和暗點，標記為可疑瑕疵M₁，記錄其位置信息：

S34、利用128灰度G₂、64灰度圖像G₃，檢測LCD的亮點或暗點，標記為可疑瑕疵M₂、M₃，記錄其位置信息：

S35、利用黑色圖像G₄，檢測LCD的亮點，標記為可疑瑕疵M₄，記錄其位置信息：

S36、利用R、G、B各通道圖像G₅，G₆，G₇，檢測LCD的亮點或暗點，標記為可疑瑕疵M₄、M₆、M₇，記錄其位置信息：

S37、將檢測圖像G₁，G₂，G₃，G₄，G₅，G₆，G₇相互對比，重復(fù)記錄的瑕疵位置認為是同一個瑕疵，記錄一次即可；

M_G＝M₁∩M₂∩M₃∩M₄∩M₅∩M₆∩M₇；

S38、將檢測圖像瑕疵M_G與圖像G_D中灰塵D進行對比，位置相同的，記為灰塵，忽略不計，因此LCD屏檢測的瑕疵為：

M＝M_G-D；

將剩下的7張檢測圖像瑕疵M合并成一張，得到最終的檢測結(jié)果。

2.一種大尺寸LCD顯示模組機器視覺檢查系統(tǒng)，其特征在于：包括可讀存儲介質(zhì)，所述可讀存儲介質(zhì)中存儲有執(zhí)行指令，所述執(zhí)行指令被處理器執(zhí)行時用于實現(xiàn)如權(quán)利要求1所述的方法。