[發明專利]檢查模塊及包括該檢查模塊的檢查裝置

在審

• 申請號: 202010316259.2
• 申請日: 2020-04-21
• 公開（公告）號: CN112782877A
• 公開（公告）日: 2021-05-11
• 發明（設計）人: 林用賱
• 申請（專利權）人: 三星顯示有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識產權代理有限責任公司 11204
• 代理人: 王達佐;劉錚

1.用于檢測顯示基板的缺陷的檢查裝置，所述檢查裝置包括：

檢查模塊，包括第一偏光板、第二偏光板和液晶層，所述第一偏光板與所述第二偏光板彼此相對，并且所述液晶層布置在所述第一偏光板與所述第二偏光板之間，

其中，所述第二偏光板能夠旋轉。

2.根據權利要求1所述的檢查裝置，其中，

所述第一偏光板包括在一個方向上形成的第一光軸，以及

所述第二偏光板包括在一個方向上形成的第二光軸。

3.根據權利要求2所述的檢查裝置，其中，如果所述第二偏光板旋轉，則所述第一光軸和所述第二光軸所形成的平面上的角度改變。

4.根據權利要求3所述的檢查裝置，其中，所述檢查裝置在所述第一光軸和所述第二光軸所形成的平面上的角度不同的多種狀態下收集所述顯示基板的圖像。

5.根據權利要求4所述的檢查裝置，其中，所述多種狀態包括所述第一光軸和所述第二光軸所形成的平面上的角度為0°、45°、90°和135°。

6.根據權利要求1所述的檢查裝置，其中，

所述顯示基板包括多個導電層，

其中，所述液晶層通過所述多個導電層之間的電場使液晶分子取向。

7.根據權利要求1所述的檢查裝置，其中，所述顯示基板的缺陷包括數據線的斷開、柵極線的斷開、數據線與柵極線之間的短路、存儲電容器與數據線之間的短路或相鄰數據線之間的短路。

8.根據權利要求1所述的檢查裝置，其中，所述檢查模塊還包括：

第一取向膜，布置在所述第一偏光板與所述液晶層之間；以及

第二取向膜，布置在所述第二偏光板與所述液晶層之間。

9.根據權利要求8所述的檢查裝置，其中，當檢測所述顯示基板的缺陷時，所述第一偏光板相比所述第二偏光板鄰近所述顯示基板。

10.根據權利要求9所述的檢查裝置，其中，當檢測所述顯示基板的缺陷時，所述檢查模塊與所述顯示基板的間隔為40μm至60μm。

11.根據權利要求1所述的檢查裝置，其中，所述第一偏光板為四邊形形狀，其中，橫向長度和縱向長度分別為5mm至10mm。

12.根據權利要求11所述的檢查裝置，其中，所述第二偏光板具有與所述第一偏光板相同的形狀和大小。

13.根據權利要求1所述的檢查裝置，其中，所述第二偏光板包括具有彼此不同的方向的光軸的多個偏光區域。

14.根據權利要求13所述的檢查裝置，其中，所述第二偏光板包括：

第一偏光區域，包括第二光軸；

第二偏光區域，包括相對于所述第二光軸旋轉45°的第三光軸；

第三偏光區域，包括相對于所述第二光軸旋轉90°的第四光軸；以及

第四偏光區域，包括相對于所述第二光軸旋轉135°的第五光軸。

15.根據權利要求1所述的檢查裝置，其中，所述第一偏光板和所述第二偏光板均能夠旋轉。

16.根據權利要求1所述的檢查裝置，還包括：

光源，輸出光以提供給所述檢查模塊；

測量單元，接收透過所述檢查模塊的所述光以生成與所述光對應的數據信號；以及

圖像處理部，將所述數據信號轉換為圖像。

17.根據權利要求16所述的檢查裝置，其中，所述圖像處理部將隨著所述第二偏光板旋轉而基于光產生的多個數據信號轉換為相應的圖像，并且合并所述相應的圖像。