[發(fā)明專利]自動校準(zhǔn)每個通道的電容的裝置和方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010313908.3
• 申請日: 2020-04-20
• 公開（公告）號: CN111984143A
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐英鎮(zhèn);許榮健
• 申請（專利權(quán)）人: 現(xiàn)代單片機(jī)有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京三高永信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11138
• 代理人: 唐述燦

1.一種用于自動校準(zhǔn)每個通道的電容的裝置，包括：

觸摸感測設(shè)備，包括多個觸摸感測區(qū)域；和

電容測量及校準(zhǔn)裝置，配置為分別測量連接到所述多個觸摸感測區(qū)域的通道的寄生電容，且在每一通道連接到所述寄生電容時將每一通道的唯一校準(zhǔn)電容添加到對應(yīng)通道以獲取預(yù)設(shè)參考電容。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述電容測量及校準(zhǔn)裝置并聯(lián)連接到所述寄生電容。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述電容測量和校準(zhǔn)裝置包括：

校準(zhǔn)控制器，配置為測量每個通道的寄生電容，以將每個通道的已測量的寄生電容與參考電容進(jìn)行比較，并且為每一個通道生成對應(yīng)于比較結(jié)果的校準(zhǔn)控制信號；和

電容校準(zhǔn)電路，其包括多個電容校準(zhǔn)模塊，所述多個電容校準(zhǔn)模塊配置為為各自對應(yīng)的通道將校準(zhǔn)電容添加到所述各自的通道以響應(yīng)每一通道的所述校準(zhǔn)控制信號。

4.一種由權(quán)利要求1所述的自動校準(zhǔn)每個通道的電容的裝置執(zhí)行的自動校準(zhǔn)每個通道的電容的方法，所述方法包括：

測量每個通道的寄生電容，用于為觸摸感測設(shè)備的每個通道測量所述寄生電容；

檢測最大寄生電容，用于為各自的通道檢測已測量的寄生電容中的最大寄生電容；

生成校準(zhǔn)控制信號，用于將所述最大寄生電容與每個通道的所述寄生電容進(jìn)行比較，并且為每個通道生成校準(zhǔn)控制信號以響應(yīng)電容差異；和

添加校準(zhǔn)電容，用于將每個校準(zhǔn)電容添加到對應(yīng)的通道以響應(yīng)所述校準(zhǔn)控制信號的對應(yīng)控制信號，

其中，所述測量每個通道的所述寄生電容、所述檢測所述最大寄生電容、以及所述生成所述校準(zhǔn)控制信號由所述電容測量和校準(zhǔn)設(shè)備執(zhí)行；和

其中所述添加所述校準(zhǔn)電容由所述多個電容校準(zhǔn)模塊執(zhí)行。

5.一種由權(quán)利要求1所述的自動校準(zhǔn)每個通道的電容的裝置執(zhí)行的方法，所述方法包括：

測量每個通道的寄生電容，用于為觸摸感測設(shè)備的每個通道測量所述寄生電容；

生成校準(zhǔn)控制信號，用于將每個通道的已測量的寄生電容與預(yù)設(shè)的參考電容進(jìn)行比較，并且為每個通道生成校準(zhǔn)控制信號以響應(yīng)電容差異；

添加校準(zhǔn)電容，用于將每個校準(zhǔn)電容添加到對應(yīng)的通道，以由多個電容校準(zhǔn)模塊響應(yīng)所述校準(zhǔn)控制信號的對應(yīng)控制信號；和

其中所述測量每個通道的所述寄生電容和所述生成所述校準(zhǔn)控制信號由所述電容測量和校準(zhǔn)裝置執(zhí)行；和

其中所述添加所述校準(zhǔn)電容由所述多個電容校準(zhǔn)模塊執(zhí)行。