[發明專利]一種光電發射器照射延遲的測試裝置及方法

有效

• 申請號: 202010311248.5
• 申請日: 2020-04-20
• 公開（公告）號: CN111473692B
• 公開（公告）日: 2021-08-17
• 發明（設計）人: 鄭興;唐穩;朱萌;王敬輝;王濤;劉子驥;蔣亞東
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: F41G1/54
• 分類號: F41G1/54
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 唐邦英

1.一種光電發射器照射延遲的測試裝置的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

1)、安裝信號輸入端、光電發射器(3)、光電探測器(6)和計數器(7)，通電后將光電發射器(3)調節到開機對準狀態，確保光電探測器(6)能夠接收到光電發射器(3)發出的激光脈沖；

2)、將光電發射器(3)調整到照射延遲的狀態下，設置光電發射器(3)的照射延遲時間T_s；

3)、通過信號輸入端產生觸發信號，觸發信號通過BNC雙通連接器(10)分為兩路，一路傳遞給光電發射器(3)為照射延遲開始的觸發信號，另一路傳遞給計數器(7)為計時的觸發信號，此時，計數器(7)始計時T₁并且光電發射器(3)也開始延遲，當達到設置好的光電發射器(3)的照射延遲時間后，發射出激光脈沖，并且光電探測器(6)探測到這個激光脈沖后，將這個激光脈沖傳遞給計數器(7)作為停止計時T₂的標志，此時兩個時間的差為T＝T₂-T₁，T就是測試到照射延遲的時間，計算相對誤差|T-T_s|；

4)、更換光電發射器(3)的照射延遲時間，重復步驟1)-步驟3)，從而進行不同照射延遲的測量；

所述測試方法采用的測試裝置包括信號輸入端、光電發射器(3)、光電探測器(6)和計數器(7)；

所述信號輸入端用于產生用作測試的信號源，所述信號輸入端通過BNC雙通連接器(10)分別與光電發射器(3)和計數器(7)通信連接；

所述光電發射器(3)接收到信號輸入端的觸發信號后，經過一段時間的延時后輸出激光脈沖；

所述光電探測器(6)用于接收光電發射器(3)發出的激光脈沖并傳遞給計數器(7)。

2.根據權利要求1所述的一種光電發射器照射延遲的測試裝置的測試方法，其特征在于，所述信號輸入端為觸發電路(1)或信號發生器(12)。

3.根據權利要求1所述的一種光電發射器照射延遲的測試裝置的測試方法，其特征在于，還包括漫反射板(4)，所述光電發射器(3)發出的激光脈沖經過漫反射板(4)反射后再被光電探測器(6)接收。

4.根據權利要求3所述的一種光電發射器照射延遲的測試裝置的測試方法，其特征在于，所述漫反射板(4)安裝在第一光學支架(5)上，所述光電探測器(6)安裝在第二光學支架(13)上。

5.根據權利要求1所述的一種光電發射器照射延遲的測試裝置的測試方法，其特征在于，還包括示波器(11)，所述示波器(11)用于測試前與信號輸入端或光電探測器(6)連接，用于輔助觀察信號波形。

6.根據權利要求1所述的一種光電發射器照射延遲的測試裝置的測試方法，其特征在于，還包括光電發射器安裝工裝(2)，所述光電發射器安裝工裝(2)用于固定光電發射器(3)。

7.根據權利要求6所述的一種光電發射器照射延遲的測試裝置的測試方法，其特征在于，還包括光學升降臺(8)，所述光學升降臺(8)的頂部與光電發射器安裝工裝(2)連接。

8.根據權利要求1所述的一種光電發射器照射延遲的測試裝置的測試方法，其特征在于，所述信號輸入端、光電發射器(3)、光電探測器(6)和計數器(7)均安裝在光學平臺(9)上。