[發明專利]LED光源測試工裝及LED光源測試系統

有效

• 申請號: 202010310058.1
• 申請日: 2020-04-17
• 公開（公告）號: CN111474458B
• 公開（公告）日: 2022-08-19
• 發明（設計）人: 龐鳳穎
• 申請（專利權）人: 歌爾微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/44;G01R31/68
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

本發明公開一種LED光源測試工裝及LED光源測試系統，LED光源測試工裝包括：LED安裝基板，被配置為安裝待測LED燈珠；散熱器，被配置為在對待測LED燈珠測試進行時，給LED安裝基板進行接觸散熱；機械按壓開關，與散熱器驅動連接，被配置為在被觸發時，驅動散熱器朝向LED安裝基板運動；光電檢測開關，被配置為檢測散熱器的運動位置，并輸出相應的檢測信號；供電控制模塊，與光電檢測開關電連接，被配置為在根據光電檢測開關輸出的檢測信號確定散熱器運動至預設位置時，給待測LED燈珠供電。本發明可以確保在散熱器與LED安裝基板接觸良好時進行測試，保護光源測試工裝及LED燈珠，有利于提高LED光源測試的準確性。

技術領域

本發明涉及LED測試技術領域，特別涉及一種LED光源測試工裝及LED光源測試系統。

背景技術

LED多采用金屬安裝基板和散熱基板來實現承載和散熱功能，LED光源具有亮度高，功率大，并且發熱嚴重等特點，因此在對LED進行測試時，需要保證LED光源的熱能夠及時有效的被散掉，若金屬安裝基板和散熱基板支架接觸不良，則會導致LED光源散熱不好會導致LED光源光通量低，使得測試時準確性降低，并且容易導致發光亮度受限、壽命受損、LED燈珠燒毀等問題發生。

發明內容

本發明的主要目的是提出一種LED光源測試工裝及LED光源測試系統，旨在提高LED光源測試的準確性。

為實現上述目的，本發明提出一種LED光源測試工裝，所述LED光源測試工裝包括：

LED安裝基板，被配置為安裝待測LED燈珠；

散熱器，被配置為在對待測LED燈珠測試進行時，給所述LED安裝基板進行接觸散熱；

機械按壓開關，與所述散熱器驅動連接，被配置為在被觸發時，驅動散熱器朝向所述LED安裝基板運動；

光電檢測開關，被配置為檢測所述散熱器的運動位置，并輸出相應的檢測信號；

供電控制模塊，與所述光電檢測開關電連接，被配置為在根據所述光電檢測開關輸出的檢測信號確定所述散熱器運動至預設位置時，給待測LED燈珠供電。

可選地，所述LED光源測試工裝還包括風機，所述風機與所述供電控制電連接；

供電控制模塊，還被配置為在根據所述光電檢測開關輸出的檢測信號確定所述散熱器運動至預設位置時，驅動所述風機工作，以給待測LED安裝基板進行散熱。

可選地，所述光電檢測開關包括：

光控電路板；

光電發射器和光電接收器，設置于所述光控電路板上；

光電檢測件，所述光電檢測件背離所述光控電路板的方向凹槽形成有相對設置的第一容置腔和第二容置腔，所述光電發射器容置于所述第一容置腔內，所述光電接收器容置于所述第二容置腔。

可選地，所述LED光源測試工裝還包括：

箱體，所述箱體上端開口，所述光電檢測開關設置于所述箱體的一側壁上；

箱蓋，設置于所述箱體的上方；

光柵擋片，設置于所述箱蓋的一側壁上，所述光柵擋片的位置與所述光電檢測開關對應；所述光柵擋片在所述散熱器運動至預設位置時，伸入至所述第一容置腔和所述第二容置腔形成的凹槽內。

可選地，所述LED光源測試工裝還包括：

支撐部，設置于所述箱體上，所述光電檢測開關固定安裝于所述支撐部上。

可選地，所述箱體和箱蓋上還設置有安裝槽，所述機械按壓開關設置于所述箱體上的安裝槽內；