[發(fā)明專利]一種分析斷路器壽命老化的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010306587.4
• 申請日: 2020-04-17
• 公開（公告）號(hào): CN111458632A
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王泊志;葉春志;余勁;馬世成
• 申請（專利權(quán)）人: 四川漢舟電氣股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/327
• 分類號(hào): G01R31/327;G01M13/00
• 代理公司: 成都九鼎天元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51214
• 代理人: 李想

本發(fā)明提供的一種分析斷路器壽命老化的方法，涉及電氣元件運(yùn)行性能領(lǐng)域，包括：判斷斷路器的操作老化；計(jì)算斷路器的環(huán)境老化；計(jì)算斷路器控制單元的熱老化；計(jì)算斷路器控制單元的腐蝕老化；計(jì)算斷路器控制單元的環(huán)境老化；提供了一種計(jì)算斷路器老化值的方法，根據(jù)環(huán)境的溫度、濕度、鹽霧環(huán)境和/或腐蝕氣體，綜合考慮相應(yīng)斷路器的運(yùn)行狀態(tài)，計(jì)算斷路器的老化值，方便后續(xù)對老化電路器的更換，降低了設(shè)備的故障率，提高了可靠性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電氣元件運(yùn)行性能領(lǐng)域，尤其涉及一種分析斷路器壽命老化的方法。

背景技術(shù)

斷路器壽命老化分析是根據(jù)大量現(xiàn)場設(shè)備運(yùn)行情況的統(tǒng)計(jì)學(xué)分析模型。與任何統(tǒng)計(jì)模型一樣，老化預(yù)測并非嚴(yán)格100％時(shí)間準(zhǔn)確。它是提供了對老化導(dǎo)致失效概率的估算結(jié)果。如果一個(gè)設(shè)備老化到100％，也并不意味著該設(shè)備將立即發(fā)生故障，而是指該設(shè)備的故障概率很大，出現(xiàn)故障的風(fēng)險(xiǎn)會(huì)很高。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是：如何提前預(yù)知斷路器的運(yùn)行狀態(tài)，以及時(shí)更換老舊的斷路器，降低設(shè)備的故障概率。

本發(fā)明提供的一種分析斷路器壽命老化的方法，包括：

判斷斷路器的操作老化；

計(jì)算斷路器的環(huán)境老化；

計(jì)算斷路器控制單元的熱老化；

計(jì)算斷路器控制單元的腐蝕老化；

計(jì)算斷路器控制單元的環(huán)境老化；

老化的計(jì)算公式為：

其中，％Ag為在t₀時(shí)刻的初始熱老化值；Δt_i為從t₀時(shí)刻開始，在操作條件i下的運(yùn)行時(shí)間；TF₀為在改條件運(yùn)行下的失效時(shí)間；A_i為在運(yùn)行條件i下的老化加速因子。

其中，所述操作老化包括操作次數(shù)、電氣磨損和機(jī)械磨損。

更進(jìn)一步的，所述電氣磨損為斷路器在不同中斷電流下工作時(shí)造成的觸點(diǎn)磨損。

更進(jìn)一步的，當(dāng)電流小于最低老化電流時(shí)，所述電氣磨損為該設(shè)備的機(jī)械耐久性。

更進(jìn)一步的，所述機(jī)械磨損由斷路器的操作次數(shù)和電流大小決定，當(dāng)電流小于最小老化電流時(shí)，該機(jī)械磨損可以忽略。

更進(jìn)一步的，所述斷路器的環(huán)境老化由環(huán)境因子決定，所述環(huán)境因子包括鹽霧、腐蝕氣體、濕度、粉塵、震動(dòng)和溫度等；

所述斷路器的環(huán)境老化因子A的計(jì)算公式為：

A＝max[max(A_SA,A_CG)×A_H,A_D,A_V]×A_T

其中，A_SA為鹽霧環(huán)境老化加速因子；A_CG為腐蝕性氣體老化加速因子；A_H為濕熱環(huán)境老化加速因子；A_D為粉塵環(huán)境老化加速因子；A_V為震動(dòng)環(huán)境老化加速因子；A_T為環(huán)境溫度老化加速因子。

更進(jìn)一步的，所述環(huán)境溫度老化加速因子A_T的計(jì)算公式為：

A_T＝A_AT·A_HA·A_IP·A_load