[發明專利]一種通用型單工站檢測外觀瑕疵的方法及其裝置在審
| 申請號: | 202010301276.9 | 申請日: | 2020-04-16 |
| 公開(公告)號: | CN111458340A | 公開(公告)日: | 2020-07-28 |
| 發明(設計)人: | 張晶;趙建君;李強;李海榮 | 申請(專利權)人: | 廣東榮旭智能技術有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 東莞市創益專利事務所 44249 | 代理人: | 李衛平 |
| 地址: | 523000 廣東省東莞市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 通用型 單工站 檢測 外觀 瑕疵 方法 及其 裝置 | ||
1.一種通用型單工站檢測外觀瑕疵的裝置,其特征在于,包括:安裝支架(1)、檢測裝置(2)、第一光源裝置(3)、第二光源裝置(4)、夾持裝置(5)和調節裝置(6),所述安裝支架(1)上連接固定架(11),所述檢測裝置(2)連接于所述固定架(11)上,所述第一光源裝置(3)和第二光源裝置(4)與檢測裝置(2)的中心線處于同一直線上,且所述第一光源裝置(3)可轉動地連接于所述安裝支架(1),所述第二光源裝置(4)固定于所述安裝支架(1);
所述夾持裝置(5)與所述檢測裝置(2)對應設置,所述夾持裝置(5)連接有第一旋轉軸(7),且所述第一旋轉軸(7)可移動地連接于所述調節裝置(6)上。
2.如權利要求1所述的通用型單工站檢測外觀瑕疵的裝置,其特征在于,所述第一光源裝置(3)包括環狀LED光源,所述第一光源裝置(3)連接有第二旋轉軸(8),且所述第二旋轉軸(8)連接于所述安裝支架(1)上。
3.如權利要求1所述的通用型單工站檢測外觀瑕疵的裝置,其特征在于,所述第二光源裝置(4)包括白色圓頂光源(41)和RGB三色AOI光源(42),且所述第二光源裝置(4)采用一體成型式結構,所述白色圓頂光源(41)和所述第一光源裝置(3)的直徑相同。
4.如權利要求1所述的通用型單工站檢測外觀瑕疵的裝置,其特征在于,所述夾持裝置(5)設置為一個或多個抱夾(51)。
5.如權利要求1所述的通用型單工站檢測外觀瑕疵的裝置,其特征在于,所述夾持裝置(5)設置為一個或多個吸盤(52)。
6.如權利要求1所述的通用型單工站檢測外觀瑕疵的裝置,其特征在于,所述調節裝置(6)可在所述檢測裝置(2)的觀測平面的平行平面內任意移動。
7.如權利要求1所述的通用型單工站檢測外觀瑕疵的裝置,其特征在于,所述調節裝置(6)可在檢測裝置(2)觀測平面的法線方向上移動任意距離。
8.一種基于所述權利要求1~7所述的通用型單工站檢測外觀瑕疵的裝置的通用型單工站檢測外觀瑕疵的方法,所述方法包括:
S1,根據物體特點選擇吸嘴或夾子的方式,將被檢測物體(9)固定在所述夾持裝置(5)上,調整所述調節裝置(6)以保證被檢測物體(9)與所述第一光源裝置(3)之間的距離滿足被檢測物體(9)可旋轉一周;
S2,通過再次調整所述調節裝置(6)使被檢測物體(9)移動到所述檢測裝置(2)的檢測范圍內;
S3,所述第一旋轉軸(7)進行任意角度的旋轉,當被檢測物體(9)的目標檢測區出現在所述檢測裝置(2)的檢測范圍內時,所述第一旋轉軸(7)停止旋轉;
S4,所述第一旋轉軸(7)進行微動旋轉,以改變被檢測物體(9)表面與所述第二光源裝置(4)的相對角度,從而改變入射光到被檢測物體(9)目標檢測區的角度和從被檢測物體(9)的目標檢測區上反射光的角度,以改變被檢測物體(9)目標檢測區的成像角度,同時所述第二旋轉軸(8)進行轉動,以改變第一光源裝置(3)的補光角度,進而所述檢測裝置(2)得到被檢測物體(9)的最佳成像效果;
S5,所述調節裝置(6)調整被檢測物體(9)與所述檢測裝置(2)觀測平面法向上的距離,實現對目標檢測區的對焦;
S6,所述檢測裝置(2)進行拍攝檢測,檢測完畢后,調整所述調節裝置(6)將被檢測物體(9)移動到步驟S3中所述第一旋轉軸(7)停止旋轉的位置,且所述第一旋轉軸(7)恢復到步驟S3中停止旋轉的角度;
S7,重復步驟S3-S6,直到所述第一旋轉軸(7)旋轉360°;
S8,將已檢測的面更換為固定面,重復步驟S1-S7完成對被檢測的物體的全面檢測,并將被檢測物體(9)分類放置于良品區或不良品區;
S9,記錄步驟S3中所述第一旋轉軸(7)旋轉每個任意角度上每個檢測范圍內的每種瑕疵對應的位置關系,形成完整的外觀瑕疵成像流程。
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