[發(fā)明專利]基于氧化銅/氧化鎵納米柱陣列pn結的柔性紫外探測器及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010299593.1 | 申請日: | 2020-04-16 |
| 公開(公告)號: | CN111613691B | 公開(公告)日: | 2022-01-04 |
| 發(fā)明(設計)人: | 常裕鑫;王順利;陶江偉;張麗瀅;郭道友 | 申請(專利權)人: | 浙江理工大學 |
| 主分類號: | H01L31/109 | 分類號: | H01L31/109;H01L31/0236;H01L31/032;H01L31/0352;H01L31/18;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 南京正聯知識產權代理有限公司 32243 | 代理人: | 沈留興 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 氧化銅 氧化 納米 陣列 pn 柔性 紫外 探測器 及其 制備 方法 | ||
1.一種基于氧化銅/氧化鎵納米柱陣列pn結的柔性紫外探測器的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
一,將金屬銅片襯底依次浸泡到丙酮、乙醇、去離子水中各超聲10分鐘,取出后再用去離子水沖洗,用干燥的氮氣吹干;將清洗干凈的金屬銅片置入馬弗爐中,并在500℃下退火0.5h,使金屬銅表面形成一層致密的CuO薄膜,即形成CuO/Cu片襯底,待用;
二,取濃度為10-15g/L的Ga(NO3)3溶液置于反應釜內膽中,然后將步驟一所得的CuO/Cu片襯底斜靠在反應釜內膽中,并浸沒于硝酸鎵溶液中;
三、將反應釜轉移至烘箱中,在150℃下反應5-8h,隨后取出樣品,清洗,烘干,退火得到CuO/β-Ga2O3納米柱陣列,其中,退火溫度為700-800℃,退火時間為1.0-2.0小時;
四、在步驟三得到的CuO/β-Ga2O3納米柱陣列上用濕法轉移法覆蓋一層石墨烯,并滴涂銀納米線溶液,制作石墨烯/Ag納米線復合透明導電電極;
五、在步驟四所得的石墨烯/Ag納米線復合電極上方沉積一塊銀膠作為上電極,刮去樣品邊緣表面部分,露出金屬銅表面,作為柔性探測器的下電極。
2.根據權利要求1所述的基于氧化銅/氧化鎵納米柱陣列pn結的柔性紫外探測器的制備方法,其特征在于,所述步驟二中Ga(NO3)3溶液的濃度為10-15g/L。
3.根據權利要求1所述的基于氧化銅/氧化鎵納米柱陣列pn結的柔性紫外探測器的制備方法,其特征在于,所述的步驟四中銀納米線溶液的濃度為0.5-1.0mol/L。
4.根據權利要求1所述的基于氧化銅/氧化鎵納米柱陣列pn結的柔性紫外探測器的制備方法,其特征在于,所述的步驟四的將反應釜轉移至烘箱中,在150℃下反應5-8h,反應生成的樣品為在CuO/Cu襯底上生長GaOOH納米柱陣列。
5.一種采用上述權利要求1-4任一項所述的方法制備的基于氧化銅/氧化鎵納米柱陣列pn結的柔性紫外探測器,其特征在于,包括依次設置的柔性銅片襯底,所述柔性銅片襯底的至少一側具有氧化銅層,位于所述銅片襯底一側的氧化銅層上設置β-Ga2O3納米柱陣列,位于所述β-Ga2O3納米柱陣列上的石墨烯/Ag納米線復合層,位于所述石墨烯/Ag納米線復合層上的Ag電極,所述氧化銅與所述β-Ga2O3納米柱陣列之間形成氧化銅/氧化鎵納米柱陣列pn結,所述柔性銅片襯底作為銅電極與所述Ag電極形成通路。
6.根據權利要求5所述的基于氧化銅/氧化鎵納米柱陣列pn結的柔性紫外探測器,其特征在于,所述氧化銅/氧化鎵納米柱陣列pn結由p型CuO薄膜和n型β-Ga2O3納米柱陣列構成。
7.根據權利要求5所述的基于氧化銅/氧化鎵納米柱陣列pn結的柔性紫外探測器,其特征在于,所述氧化銅層的厚度為300~500nm,所述β-Ga2O3納米柱陣列是由若干β-Ga2O3納米柱構成,β-Ga2O3納米柱的直徑為50-200nm,β-Ga2O3納米柱的長度為1.0-1.5μm。
8.根據權利要求5所述的基于氧化銅/氧化鎵納米柱陣列pn結的柔性紫外探測器,其特征在于,柔性銅片襯底的厚度為0.1mm。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





