[發明專利]基于顯示面板數據錯充的測試方法及裝置

有效

• 申請號: 202010280135.3
• 申請日: 2020-04-10
• 公開（公告）號: CN111341234B
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 肖光星
• 申請（專利權）人: TCL華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 黃靈飛

本發明公開了一種基于顯示面板數據錯充的測試方法及裝置。所述方法包括：PC機通過總線控制像素組輸出純色畫面；控制時序控制器的充電時間恒定不變，更新MASTER的充電時間與時序控制器的充電時間保持一致；控制MASTER的充電時間保持不變，并調整時序控制器的充電時間；判斷光學測試儀器的量測數據是否大于第一閾值并觀察顯示面板中部是否存在明顯分界，如若是，則確定錯充時間。基于此，本發明能夠快速有效的測試基于顯示面版是否為數據錯充，并有效獲取數據錯充時間，以此解決現有顯示面板充電時存在錯充的問題。

技術領域

本發明涉及顯示面板測試技術領域，尤其涉及一種基于顯示面板數據錯充的測試方法及裝置。

背景技術

隨著面板行業的發展，大尺寸顯示面板在快速發展。來自源極驅動器的數據信號需要通過漫長的傳輸線到達像素電路對應的柵極驅動電路，受數據線等傳輸路徑上的電阻/電容等影響，數據信號達到不同位置的柵極驅動電路存在延遲。

若顯示面板內所有像素的充電時間，都按照標準充電時間(像素在特定灰階電壓下，發光亮度到達特定亮度所需要的充電時間，特定亮度為特定灰階電壓在灰階電壓-發光亮度曲線內對應的亮度)，數據信號的延遲將會導致部分像素出現錯充的現象；

如現有技術圖1所示，由于屏端的電容耦合效應，ck是一個緩慢下降的曲線，如果當前行ck未關閉而下一行開始送數據，下一行的數據就會在當前行顯示，發生錯充現象。當前行能夠真正把ck關閉的時間點叫做錯充點，所說測試TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)錯充時間就十分必要的，但是目前還沒有一個有效的基于顯示面板的數據錯充進行測試的解決方法。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于，提供一種基于顯示面板數據錯充的測試方法及裝置，以解決現有顯示面板充電時有效測試數據錯充的技術問題。

為了解決上述技術問題，本發明公開了一種基于顯示面板數據錯充的測試方法，所述方法包括：

S1、PC機(Personal Computer，又稱個人電腦)通過總線控制PG(Pixel group，又稱像素組)輸出純色畫面；

S2、所述PC機控制SLAVE TCON(Timer Control Register,時序控制器)的充電時間恒定不變，更新MASTER(主件)的充電時間與SLAVE TCON的充電時間保持一致；

S3、所述PC機控制MASTER的充電時間保持不變，并調整SLAVE TCON的充電時間；

S4、所述PC機判斷所述光學測試儀器的量測數據是否大于第一閾值，如若大于第一閾值，則執行步驟S5，如若不大于第一閾值，則執行步驟S2；

S5、觀察顯示面板中部是否存在明顯分界，如若是，則確定錯充時間，如若不是，則執行步驟S2。

在本發明的基于顯示面板數據錯充的測試方法，所述步驟S1之前還包括：

將光學測試儀器與顯示面板相連接；

將所述顯示面板進行加熱，在加熱時間大于第二閾值時，則執行步驟S1。

在本發明的基于顯示面板數據錯充的測試方法，所述將光學測試儀器與顯示面板相連接的步驟中，所述光學測試儀器的光學探測器件與在所述顯示面板的左右兩側相連接。

在本發明的基于顯示面板數據錯充的測試方法，所述將所述顯示面板進行加熱，在加熱時間大于第二閾值時，則執行步驟S1的步驟，還包括：

S11、將所述顯示面板進行上電開機；

S12、將所述顯示面板進行加熱；

S13、判斷顯示面板的加熱時間是否大于第二閾值時，則執行步驟S1，否則執行步驟S12。