[發明專利]殘跡確定方法、裝置和電子設備

在審

• 申請號: 202010250328.4
• 申請日: 2020-04-01
• 公開（公告）號: CN111461016A
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發明（設計）人: 鐘玲
• 申請（專利權）人: 聯想（北京）有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 薛嬌

1.一種殘跡確定方法，包括：

獲取待分析的至少兩個第一圖像樣本，所述至少兩個第一圖像樣本為同一樣本對象的圖像；

按照像素點的位置分布，分別對所述至少兩個第一圖像樣本中處于同一位置的像素點進行信息疊加，得到疊加后的第二圖像樣本，其中，至少兩個第一圖像樣本中處于同一位置的像素點歸屬的特征類別均屬于第一特征類別，則所述第二圖像樣本中該位置的像素點歸屬的特征類別為第一特征類別；

所述第二圖像樣本中屬于第一特征類別的像素點滿足條件，確定所述至少兩個第一圖像樣本屬于殘跡圖像。

2.根據權利要求1所述的方法，還包括：

確定所述第一圖像樣本中各像素點所歸屬的特征類別；

所述按照像素點的位置分布，分別對所述至少兩個第一圖像樣本中處于同一位置的像素點進行信息疊加，得到疊加后的第二圖像樣本，包括：

按照像素點的位置分布和所述第一圖像樣本中各像素點歸屬的特征類別，分別對所述至少兩個第一圖像樣本中處于同一位置的像素點進行特征類別的疊加，得到疊加后的第二圖像樣本；

其中，信息疊加為像素點的特征類別的類別疊加；

所述第二圖像樣本中任一位置的像素點的像素點信息為疊加后的特征類別的信息。

3.根據權利要求1所述的方法，像素點歸屬的特征類別包括第一特征類別和第二特征類別；

其中，所述至少兩個第一圖像樣本中處于同一位置的像素點不全部屬于第一特征類別，則所述第二圖像樣本中該位置的像素點的特征類別為第二特征類別；

所述第二圖像樣本中屬于第一特征類別的像素點滿足條件，包括：

所述第二圖像樣本中屬于第一特征類別的像素點和屬于第二特征類別的像素點滿足條件。

4.根據權利要求3所述的方法，所述第二圖像樣本中屬于第一特征類別的像素點和屬于第二特征類別的像素點滿足條件，包括：

所述第二圖像樣本中屬于第一特征類別的像素點與屬于第二特征類別的像素點的比值大于設定比值。

5.根據權利要求3所述的方法，在所述按照像素點的位置分布，分別對所述至少兩個第一圖像樣本中處于同一位置的像素點進行信息疊加，得到疊加后的第二圖像樣本之前，還包括：

對所述第一圖像樣本進行灰度和二值化處理，其中，在處理后的第一圖像樣本中，取值為0的像素點對應的特征類別為第一特征類別；取值為255的像素點對應的特征類別為第二特征類別。

6.根據權利要求5所述的方法，所述按照像素點的位置分布，分別對所述至少兩個第一圖像樣本中處于同一位置的像素點進行信息疊加，得到疊加后的第二圖像樣本，包括：

按照像素點的位置分布，分別對所述至少兩個第一圖像樣本中處于同一位置的像素點的取值進行疊加，得到疊加后的第二圖像樣本，其中，至少兩個第一圖像樣本中處于同一位置的像素點的取值均為0，則所述第二圖像樣本中該位置的像素點的取值為0；所述至少兩個第一圖像樣本中處于同一位置的像素點的取值不全部為0，則所述第二圖像樣本中該位置的像素點的取值為255。

7.根據權利要求4所述的方法，第二圖像樣本中屬于第一特征類別的像素點和屬于第二特征類別的像素點滿足條件，確定所述至少兩個圖像樣本屬于殘跡圖像，包括：

確定所述第二圖像樣本中各像素點的取值相加所得的加和值，并確定所述第二圖像樣本中像素點的行數與所述第二圖像樣本中像素點的列數之間的乘積；

所述加和值與所述乘積之間的比值大于設定閾值，則確定所述至少兩個第一圖像樣本屬于殘跡圖像。

8.根據權利要求1所述的方法，所述至少兩個第一圖像樣本為至少兩個第一指紋圖像，所述至少兩個第一指紋圖像為同一用戶的同一個手指的指紋圖像。