[發(fā)明專利]電流測量裝置和電流測量組件

在審

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• 申請日: 2020-04-01
• 公開（公告）號: CN111413535A
• 公開（公告）日: 2020-07-14
• 發(fā)明（設計）人: 陳躍俊;賈超峰
• 申請（專利權）人: 北京華峰測控技術股份有限公司;華峰測控技術（天津）有限責任公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R15/20;G01R1/04
• 代理公司: 北京華進京聯(lián)知識產(chǎn)權代理有限公司 11606
• 代理人: 張書濤

本申請涉及一種電流測量裝置和電流測量組件。當需要測量電路板上流經(jīng)某些電路的電流大小時，可以將導電殼體的敞口扣合在電路板的表面，導電殼體與電路板電接觸。給需要測量電流的電路或者元器件通電產(chǎn)生電流，電流會通過導電殼體流向導電柱，然后經(jīng)過導電柱流匯出形成回路。電流先從敞口的邊緣流向底部，由于導電柱與底部電連接，且導電柱朝向敞口的方向延伸，因此電流又沿著導電柱的延伸方向朝向敞口所在的方向流動。電流在導電殼體中的流動方向和在導電柱的流動方向相反。因此，可以消除寄生電感等寄生參數(shù)，避免對測試動態(tài)響應的影響。由于導電殼體的橫截面積相對導線更大，因此電流受到的電阻更小，提高安全性能。

技術領域

本發(fā)明涉及測量技術領域，特別是涉及一種電流測量裝置。

背景技術

現(xiàn)有技術中，在測試大功率集成電路時，通常需要測量電流參數(shù)。獲取電流的方法很多，通過使得導線電流回路穿越電流互感器，利用電磁感應的原理來得到電流值是一個比較有效的手段。但是，現(xiàn)有技術中，通過電流互感器測量電流大小的方式對測試的動態(tài)響應會有較大的影響。

發(fā)明內容

基于此，有必要針對現(xiàn)有技術中，通過電流互感器測量電流大小的方式對測試的動態(tài)響應會有較大的影響的問題，提供一種電流測量裝置和電流測量組件。

一種電流測量裝置，包括：

導電殼體，包圍形成一個第一容納空間，所述導電殼體包括相對設置的敞口和底部；

導電柱，設置于所述第一容納空間，所述導電柱由所述底部朝向所述敞口延伸，所述導電柱與所述底部電連接；以及

電流互感器，設置于所述第一容納空間，所述電流互感器與所述導電殼體之間絕緣設置，所述導電柱穿過所述電流互感器。

在其中一個實施例中，所述敞口的邊緣設置有導電邊沿。

在其中一個實施例中，所述導電殼體設置有電流輸出口，所述電流輸出口與所述導電邊沿間隔設置。

在其中一個實施例中，所述電流輸出口設置于所述敞口的邊緣。

在其中一個實施例中，所述敞口的輪廓具有弧形區(qū)域和直線區(qū)域，所述直線區(qū)域與所述弧形區(qū)域首尾連接，所述導電邊沿圍繞所述弧形區(qū)域設置，所述電流輸出口設置于所述直線區(qū)域。

在其中一個實施例中，所述導電邊沿間隔設置有多個固定孔。

在其中一個實施例中，所述導電殼體具有對稱軸，所述導電柱的軸線與所述對稱軸重合。

在其中一個實施例中，還包括絕緣罩，所述絕緣罩設置于所述第一容納空間，所述絕緣罩包圍形成第二容納空間，所述電流互感器設置于所述第二容納空間。

在其中一個實施例中，所述絕緣罩包括第一罩體和第二罩體，所述第一罩體和所述第二罩體分別具有開口，所述第一罩體的開口和所述第二罩體的開口相對扣合形成所述第二容納空間。

一種電流測量組件，包括：

所述的電流測量裝置；

電路板，所述電路板設置有導電銷，所述導電殼體具有敞口，所述導電殼體扣合于所述電路板時，所述敞口的邊緣貼合于所述電路板，所述導電柱與所述導電銷電連接。

在其中一個實施例中，所述電路板設置有導電區(qū)，所述導電區(qū)的形狀與所述敞口的形狀相匹配，所述導電殼體扣合于所述電路板時，所述敞口在所述導電區(qū)與所述電路板接觸。