[發明專利]一種半導體芯片生產制備系統的電漿模組有效
| 申請號: | 202010243143.0 | 申請日: | 2020-03-31 |
| 公開(公告)號: | CN111900103B | 公開(公告)日: | 2023-03-24 |
| 發明(設計)人: | 陳維恕 | 申請(專利權)人: | 山東職業學院 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01J37/32 |
| 代理公司: | 北京匯信合知識產權代理有限公司 11335 | 代理人: | 徐榮榮 |
| 地址: | 250000 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 半導體 芯片 生產 制備 系統 模組 | ||
1.一種半導體芯片生產制備系統的電漿模組部分,其特征在于:半導體芯片生產制備裝置由上至下設置有第一操作腔體、第二操作腔體、第三操作腔體;電漿模組部分設置在第二操作腔體內部,通過射頻電源及機械傳動機構實現移動,其結構由上至下依次設置有O型環、石英套筒的磁鐵、具偏壓格柵一、石英窗、厚圓柱形石英柱狀桶環、具偏壓格柵二、多孔金屬陽極化圓盤且分別與機械傳動機構連接;工作過程中,是將等離子輔助化學氣相沉積鍍氧化硅薄膜于光面硅片表面,需要通過將電漿模組移至第二操作腔體正中央→開始通氣等離子鍍膜氧化硅;硅片上移至第二操作腔體蝕刻氧化硅然后去除光刻膠,是通過將第二操作腔體電漿模組移至中央才能夠進行作業,將氮化鉭及銅種子層濺鍍于已圖案化之氧化硅上;同樣也需要將第二操作腔體電漿模組移出→濺鍍遮板移至中央上方→將鉭靶移入后濺鍍氮化鉭→將銅靶移入后濺鍍銅。
2.根據權利要求1所述的一種半導體芯片生產制備系統的電漿模組部分,其特征在于:O型環、石英套筒的磁鐵、具偏壓格柵一、石英窗、厚圓柱形石英柱狀桶環、具偏壓格柵二、多孔金屬陽極化圓盤都是圓形。
3.根據權利要求1所述的一種半導體芯片生產制備系統的電漿模組部分,其特征在于:電漿模組部分底部設置有多層廢液捕捉盤。
4.根據權利要求1所述的一種半導體芯片生產制備系統的電漿模組部分,其特征在于:O型環具有外環線圈的閘閥,O型環作為此閘閥的密封、開啟是利用兩腔體間的氣壓差異。
5.根據權利要求1所述的一種半導體芯片生產制備系統的電漿模組部分,其特征在于:O型環、石英套筒的磁鐵、厚圓柱形石英柱狀桶環分別具有石英套筒的感應耦合電漿線圈。
6.根據權利要求1所述的一種半導體芯片生產制備系統的電漿模組部分,其特征在于:石英窗上方具有偏壓格柵的內環鐵氧體耦合線圈。
7.根據權利要求1所述的一種半導體芯片生產制備系統的電漿模組部分,其特征在于:厚圓柱形石英柱狀桶環、具偏壓格柵二分別具有偏壓格柵的感應耦合電漿輔助線圈。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





