[發(fā)明專利]基于紫外成像的電力外絕緣設(shè)備典型缺陷故障識別方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010231629.2 | 申請日: | 2020-03-27 |
| 公開(公告)號: | CN111308293A | 公開(公告)日: | 2020-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 包艷艷;溫定筠;劉康;張廣東;郭陸;陳博棟;吳玉碩;楊志華;王津;李峰;盧武;唐敏;趙文彬 | 申請(專利權(quán))人: | 國網(wǎng)甘肅省電力公司電力科學(xué)研究院;上海電力大學(xué) |
| 主分類號: | G01R31/12 | 分類號: | G01R31/12 |
| 代理公司: | 北京前審知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11760 | 代理人: | 張波濤;尹秀峰 |
| 地址: | 730070 甘肅省蘭州市安*** | 國省代碼: | 甘肅;62 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 紫外 成像 電力 絕緣 設(shè)備 典型 缺陷 故障 識別 方法 | ||
1.一種基于紫外成像的電力外絕緣設(shè)備典型缺陷故障識別方法,包括以下步驟:
S100:模擬電力設(shè)備外絕緣典型缺陷;
S200:利用紫外成像技術(shù)觀察電力設(shè)備電暈放電現(xiàn)象,得到各種缺陷類型的紫外放電圖譜;
S300:提取所述紫外放電圖譜的原始特征,并利用模式識別技術(shù)對原始特征進(jìn)行分類判別,從而建立一個涵蓋外絕緣設(shè)備電暈放電的典型缺陷故障數(shù)據(jù)庫;
S400:基于所述典型缺陷故障數(shù)據(jù)庫,對實(shí)際運(yùn)行的電力外絕緣設(shè)備的紫外放電圖譜進(jìn)行分析,識別其缺陷故障。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中:
優(yōu)選的,步驟S100中,所述外絕緣典型缺陷包括:模擬復(fù)合絕緣子、瓷絕緣子、支柱絕緣子、輸電導(dǎo)線、變壓器外絕緣、外絕緣設(shè)備污穢。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,步驟S200還包括:
S201:根據(jù)所述紫外放電圖譜,分析設(shè)備的放電特征,建立電力設(shè)備專有的外絕緣設(shè)備典型光譜模型。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中:
步驟S300中,所述模式識別技術(shù)包括:神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、模糊分類。
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