[發(fā)明專利]測量用于增材制造的粉末的鋪展性的工裝及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010230789.5
• 申請日: 2020-03-27
• 公開（公告）號: CN111289517B
• 公開（公告）日: 2022-10-04
• 發(fā)明（設計）人: 王學兵;楊懷超;王鐵軍;況春江;陳飛雄
• 申請（專利權）人: 安泰科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84;G01N21/01;B33Y70/00
• 代理公司: 北京智橋聯(lián)合知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 11560
• 代理人: 商曉莉

1.一種測量用于增材制造的粉末的鋪展性的方法，其特征在于，所述方法由如下工裝實施，所述工裝包括：鋪粉基臺、透光材質(zhì)的鋪粉試件、刮粉裝置、設置在所述鋪粉基臺上方的光學數(shù)據(jù)采集設備、以及設置在所述鋪粉基臺下方的平面光源；

所述鋪粉試件具有敞口空腔；所述鋪粉基臺具有帶臺階的空洞，所述空洞用于放置所述鋪粉試件，所述空洞與所述鋪粉試件相適配，并且在所述鋪粉試件置于所述空洞內(nèi)時，所述鋪粉試件上表面與所述鋪粉基臺上表面相平齊；

所述平面光源用于對鋪粉基臺的工作區(qū)域進行照射；所述光學數(shù)據(jù)采集設備用于對透過所述工作區(qū)域的光線進行采集；

所述方法包括：

將預制的透光材質(zhì)的鋪粉試件置于測量用鋪粉基臺上與所述鋪粉試件相適配的帶臺階的空洞中，將刮粉裝置貼合在所述鋪粉基臺表面；

將定量的粉末均勻置于所述刮粉裝置與所述鋪粉試件對應的鋪粉區(qū)域之間；

驅(qū)動所述刮粉裝置在所述鋪粉基臺表面行走，將所述粉末鋪展于所述鋪粉區(qū)域內(nèi)；

鋪粉完成后利用設置在所述鋪粉基臺下方的平面光源照射所述鋪粉基臺的工作區(qū)域并采集透過所述工作區(qū)域的光線，得到可透過光線的粉末層面積或者工作區(qū)域的粉末遮擋面積；

根據(jù)工作區(qū)域底面面積、以及所述可透過光線的粉末層面積或者工作區(qū)域的粉末遮擋面積，確定所述粉末的鋪展性能；

計算公式如下：

A=S_過/S_粉；或者A=（S_粉-S_遮）/S_粉；

式中A為粉末鋪展性能系數(shù)；S_粉為工作區(qū)域底面面積，即鋪粉區(qū)域內(nèi)底面積；S_過為可透過光線的粉末層面積；S_遮為工作區(qū)域的粉末遮擋面積；

然后，根據(jù)所述粉末鋪展性能系數(shù)確定所述粉末的鋪展性能。

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述工裝還包括：定位裝置和拉力調(diào)節(jié)器；所述定位裝置設置在所述鋪粉基臺上；所述拉力調(diào)節(jié)器用于連接所述刮粉裝置及所述定位裝置。

3.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，所述定位裝置為導軌或?qū)χ脻L輪。

4.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述刮粉裝置為以下任意一種：長條形的平直金屬或非金屬部件、端部平齊的毛刷、滾輪形式的平直金屬或非金屬部件。

5.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述平面光源為0-4000流明的可見光或可測量的不可見光。

6.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述工裝還包括：

驅(qū)動裝置，用于驅(qū)動所述刮粉裝置在所述鋪粉基臺表面行走，將被測粉末鋪展于所述鋪粉試件對應的鋪粉區(qū)域內(nèi)。