[發明專利]一種微振鏡掃描結構、電能驅動系統及角度檢測系統在審
| 申請號: | 202010230641.1 | 申請日: | 2020-03-27 |
| 公開(公告)號: | CN111273435A | 公開(公告)日: | 2020-06-12 |
| 發明(設計)人: | 任建峰;雷成峰;黃土新 | 申請(專利權)人: | 昂納信息技術(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | G02B26/08 | 分類號: | G02B26/08 |
| 代理公司: | 深圳市道臻知識產權代理有限公司 44360 | 代理人: | 陳嘉琪 |
| 地址: | 518000 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 微振鏡 掃描 結構 電能 驅動 系統 角度 檢測 | ||
1.一種激光雷達的微振鏡掃描結構,其特征在于:所述微振鏡掃描結構包括磁鐵、外框架、內框架和鏡片框架,所述內框架上設置有第一繞組且自旋轉設置在外框架內,所述鏡片框架上設置有第二繞組和反射鏡片,且自旋轉設置在內框架內,所述磁鐵設置在外框架外側,且在外框架內形成磁場,所述第一繞組和第二繞組在通電后產生電磁力并在磁場中運動,以帶動對應的內框架和鏡片框架自旋轉。
2.根據權利要求1所述的微振鏡掃描結構,其特征在于:所述內框架通過第一扭轉軸自旋轉設置在外框架內,且所述第一繞組環繞設置在內框架上;所述鏡片框架通過第二扭轉軸自旋轉設置在內框架內,且所述第二繞組環繞設置在鏡片框架上,且所述反射鏡片的鏡面與鏡片框架的自旋轉軸平行設置。
3.根據權利要求1或2所述的微振鏡掃描結構,其特征在于:所述內框架的自旋轉軸與鏡片框架的自旋轉軸垂直設置。
4.根據權利要求1至3任一所述的微振鏡掃描結構,其特征在于:所述內框架的自旋轉軸與鏡片框架的自旋轉軸共面設置。
5.根據權利要求4所述的微振鏡掃描結構,其特征在于:所述磁鐵在外框架內形成的磁場磁力線方向與外框架的結構面平行設置或接近平行設置。
6.根據權利要求5所述的微振鏡掃描結構,其特征在于:所述磁場磁力線方向與內框架自旋轉軸的方向構成夾角;所述磁場磁力線方向與鏡片框架自旋轉軸的方向構成夾角。
7.一種微振鏡掃描結構的電能驅動系統,其特征在于:包括如權利要求1-6任一所述的微振鏡掃描結構和電流輸入裝置,所述電流輸入裝置分別向微振鏡掃描結構的第一繞組和第二繞組輸入正負驅動電流,所述第一繞組和第二繞組在通電后產生電磁力并在磁場中往復運動,以帶動對應的內框架和鏡片框架往復自旋轉。
8.據權利要求7所述的電能驅動系統,其特征在于:施加于第一繞組的所述正負驅動電流為連續的電流驅動信號,且掃描頻率可控,所述掃描驅動波形包括階梯波、三角波、鋸齒波和正弦波中的一種;以及,施加于第二繞組的所述正負驅動電流的驅動信號波形包括階梯波、正弦波、三角波和PWM脈沖中的一種,且驅動信號可控。
9.據權利要求7所述的電能驅動系統,其特征在于:所述電流輸入裝置向第一繞組輸入的第一驅動信號和向第二繞組輸入的第二驅動信號頻率為整數倍時實現固定線數掃描;或者,第二掃描軸驅動信號頻率為第一驅動信號的非整數倍,以使各幀掃描線之間產生偏移。
10.一種微振鏡掃描結構的角度檢測系統,其特征在于:所述角度檢測系統包括如權利要求1-6任一所述的微振鏡掃描結構和所述角度檢測裝置檢測微振鏡掃描結構的反射鏡片鏡面反射方向。
11.據權利要求10所述的角度檢測系統,其特征在于:所述微振鏡掃描結構的反射鏡片的正面為工作面,用于激光掃描,所述反射鏡的背面可為鍍膜處理,用于光電角度檢測。
12.據權利要求11所述的角度檢測系統,其特征在于:所述角度檢測裝置包括光源和光電式探測器;所述光源可以是LED、VCSEL和LD激光管中的一種,并朝向反射鏡片背面發射光線,所述光電式探測器設置有四個,且分別設置在光源四周,獲取從反射鏡片反射回的光線。
13.據權利要求11所述的角度檢測系統,其特征在于:所述角度檢測系統包括光源和四象限探測器;所述光源可以是LED、VCSEL和LD激光管中的一種,并朝向反射鏡片背面發射光線,所述四象限探測器和光源設置在反射鏡片的同側,所述四象限探測器獲取從反射鏡片反射回的光線。
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