[發明專利]一種波長漂移的測量方法和波長漂移的測量系統

有效

• 申請號: 202010220815.6
• 申請日: 2020-03-26
• 公開（公告）號: CN111431593B
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 羅超;薛振峰
• 申請（專利權）人: 武漢光迅科技股份有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079;H04J14/02
• 代理公司: 深圳市愛迪森知識產權代理事務所(普通合伙) 44341
• 代理人: 何婷

1.一種波長漂移的測量方法，所述測量方法用于測量ONU激光器突發時產生的波長漂移，其特征在于，所述測量方法包括：

將被測ONU激光器的發射光通過可調光濾波器進行衰減，其中，所述可調光濾波器滿足特定的衰減曲線；

獲取所述被測ONU激光器在常發光下的光功率P0和波長λ0，以及所述被測ONU激光器在突發時刻的光功率P1；

計算所述光功率P1相對于所述光功率P0的衰減量；

根據所述衰減量和所述衰減曲線，確定所述被測ONU激光器在突發時刻的波長λ1，計算所述波長λ1和所述波長λ0之間的差值，從而確定所述ONU激光器突發時產生的波長漂移；

其中，獲取所述被測ONU激光器在常發光下的光功率P0和波長λ0，以及所述被測ONU激光器在突發時刻的光功率P1包括：

通過示波器獲取所述被測ONU激光器在常發光下的光功率P0，其中，所述示波器測繪出所述被測ONU激光器從開始發光到處于常發光狀態下，時間與功率的變化曲線；根據所述被測ONU激光器的類型，確定突發時間；根據所述突發時間，在所述示波器測繪出的變化曲線中，確定所述被測ONU激光器在突發時刻的光功率P1。

2.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于，所述衰減曲線反映波長與功率的衰減關系，所述衰減曲線的尖峰波長與所述波長λ0相等，當波長λ小于所述波長λ0時，所述衰減曲線的功率值呈單調遞增；

所述根據所述衰減量和所述衰減曲線，確定所述被測ONU激光器在突發時刻的波長λ1具體包括：

以所述尖峰波長對應的尖峰功率為基準，在所述衰減曲線上確定一坐標點，使得所述坐標點對應的功率值相對于所述尖峰功率的衰減與所述衰減量相等；

獲取所述坐標點對應的波長值，所述坐標點對應的波長值等于所述波長λ1。

3.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于，所述測量方法還包括：

在獲取所述被測ONU激光器在常發光下的波長λ0后，調節所述可調光濾波器的驅動電壓，使得所述可調光濾波器的尖峰波長為λ0。

4.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于，所述測量方法還包括：

通過波長計獲取所述被測ONU激光器在常發光下的波長λ0。

5.一種波長漂移的測量系統，所述測量系統用于測量ONU激光器突發時產生的波長漂移，其特征在于，所述測量系統包括可調光濾波器和示波器，所述可調光濾波器與被測ONU激光器連接，其中，所述可調光濾波器滿足特定的衰減曲線；

所述可調光濾波器用于對所述被測ONU激光器的發射光進行衰減；

所述示波器用于獲取所述被測ONU激光器在常發光下的光功率P0，以及所述被測ONU激光器在突發時刻的光功率P1；

其中，通過示波器獲取所述被測ONU激光器在常發光下的光功率P0，其中，所述示波器測繪出所述被測ONU激光器從開始發光到處于常發光狀態下，時間與功率的變化曲線；根據所述被測ONU激光器的類型，確定突發時間；根據所述突發時間，在所述示波器測繪出的變化曲線中，確定所述被測ONU激光器在突發時刻的光功率P1；

其中，計算所述光功率P1相對于所述光功率P0的衰減量，根據所述衰減量和所述衰減曲線，確定所述被測ONU激光器在突發時刻的波長λ1，計算所述波長λ1和所述被測ONU激光器常發光下的波長λ0之間的差值，從而確定所述ONU激光器突發時產生的波長漂移。

6.根據權利要求5所述的測量系統，其特征在于，所述測量系統還包括波長計，所述波長計用于測量所述被測ONU激光器常發光下的波長λ0。

7.根據權利要求5所述的測量系統，其特征在于，所述測量系統還包括光探頭，所述可調光濾波器與所述示波器通過所述光探頭連接。

8.根據權利要求5所述的測量系統，其特征在于，所述衰減曲線反映波長與功率的衰減關系，所述衰減曲線的尖峰波長與所述波長λ0相等，當波長λ小于所述波長λ0時，所述衰減曲線的功率值呈單調遞增。

9.根據權利要求5所述的測量系統，其特征在于，所述示波器的采樣率大于1GHz。