[發明專利]劃痕缺陷檢測方法、裝置、計算設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202010219811.6
• 申請日: 2020-03-25
• 公開（公告）號: CN111444921A
• 公開（公告）日: 2020-07-24
• 發明（設計）人: 郎建業;黃虎
• 申請（專利權）人: 浙江華睿科技有限公司
• 主分類號: G06K9/34
• 分類號: G06K9/34;G06T3/40;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/187
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 王英

1.一種劃痕缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待檢測對象的目標圖像；

對所述目標圖像進行語義分割，以確定語義分割結果為具有劃痕缺陷的候選像素點；

對所述候選像素點進行連通區域分析，得到至少一個連通區域；

分別對每個連通區域進行骨架提取，得到至少一個骨架作為檢測出的劃痕。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

對所提取的各骨架分別進行直線檢測，得到各所述骨架分別對應的直線段；

根據各直線段組成的線條集合以及預設的劃痕特征確定最終檢測出的劃痕。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據各直線段組成的線條集合以及預設的劃痕特征確定最終檢測出的劃痕，包括：

將所述線條集合中滿足所述劃痕特征的直線段確定為最終檢測出的劃痕。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，若各所述骨架分別對應的直線段中存在滿足預設的拼接條件的直線段，則所述根據各直線段組成的線條集合以及預設的劃痕特征確定最終檢測出的劃痕，包括：

對所述線條集合進行拼接處理，得到拼接處理后的線條集合，其中，所述拼接處理為將所述線條集合中的滿足所述拼接條件的至少兩個直線段進行拼接，所述拼接條件為任何兩個直線段的端點間距小于預設的距離閾值；

針對拼接處理后得到的線條集合中的各元素，若所述元素具有所述劃痕特征，則將所述元素作為最終檢測出的劃痕。

5.根據權利要求2-4中任一項所述的方法，其特征在于，進行直線檢測所采用的算法包括霍夫變換直線檢測算法。

6.根據權利要求2-4中任一項所述的方法，其特征在于，所述劃痕特征包括下述的至少一項：

線條長度大于或等于預設的長度閾值；

線條梯度均值大于或等于預設的梯度閾值；

線條指標大于或等于預設的指標閾值，所述線條指標是基于線段長度和線段梯度均值確定的。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，對所述目標圖像進行語義分割之前，所述方法還包括：

基于圖像特征，確定所述目標圖像中具有劃痕缺陷的候選圖像塊，

對所述目標圖像進行語義分割，包括：

對所述目標圖像中的候選圖像塊進行語義分割。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，基于圖像特征，確定所述目標圖像中具有劃痕缺陷的候選圖像塊，包括：

基于第一指定尺寸的滑動窗口將所述目標圖像劃分為多個圖像塊，各所述圖像塊在所述目標圖像中的位置信息用對應的滑動窗口的標識表示；

對所述滑動窗口的各所述標識對應的各所述圖像塊分別進行特征提取以及目標檢測，以得到至少一個候選框，其中，所述候選框用于標記劃痕缺陷，且所述候選框對應的圖像塊在所述目標圖像中的位置信息用所述候選框的標識表示；

基于所述至少一個候選框的標識，從所述目標圖像中定位到劃痕缺陷的圖像塊作為所述候選圖像塊。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，所述候選框的標識包括所述候選框的坐標，對所述目標圖像中的候選圖像塊進行語義分割之前，所述方法還包括：

基于所述候選框的坐標，將位置相鄰的至少一個候選框進行拼接處理，將拼接處理后的候選框對應的圖像塊作為所述候選圖像塊。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，將所述拼接處理后的候選框對應的圖像塊作為所述候選圖像塊之后，且在對所述目標圖像中的候選圖像塊進行語義分割之前，所述方法還包括：

若所述候選圖像塊的尺寸大于進行語義分割所需的窗口尺寸，則將所述候選圖像塊按照進行語義分割所需的窗口尺寸重新進行劃分，得到用于進行語義分割的圖像塊；

若所述候選圖像塊的尺寸小于進行語義分割所需的窗口尺寸，則將所述拼接處理后的候選框放大到進行語義分割所需的窗口尺寸。