[發(fā)明專利]測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)及電子設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010219546.1
• 申請(qǐng)日: 2020-03-25
• 公開（公告）號(hào): CN113448822A
• 公開（公告）日: 2021-09-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊京
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京同邦卓益科技有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京律智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11438
• 代理人: 王輝;闞梓瑄

1.一種測(cè)試方法，其特征在于，包括：

獲取待測(cè)試的被測(cè)系統(tǒng)包含的組件；

根據(jù)被測(cè)系統(tǒng)包含的組件，獲取針對(duì)所述被測(cè)系統(tǒng)的請(qǐng)求數(shù)據(jù)；

對(duì)所述被測(cè)系統(tǒng)整體進(jìn)行封裝，以得到所述被測(cè)系統(tǒng)的接口組件，并基于所述接口組件以及所述請(qǐng)求數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)；

通過所述測(cè)試數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)系統(tǒng)的性能指標(biāo)，以確定所述被測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)被測(cè)系統(tǒng)包含的組件獲取針對(duì)所述被測(cè)系統(tǒng)的請(qǐng)求數(shù)據(jù)，包括：

根據(jù)所述被測(cè)系統(tǒng)包含的組件，獲取所述組件對(duì)應(yīng)的腳本參數(shù)；

通過所述腳本參數(shù)運(yùn)行目標(biāo)腳本，以獲取所述請(qǐng)求數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)被測(cè)系統(tǒng)包含的組件獲取針對(duì)所述被測(cè)系統(tǒng)的請(qǐng)求數(shù)據(jù)，包括：

響應(yīng)所述被測(cè)系統(tǒng)中包含的組件的變更，更新所述目標(biāo)腳本，以對(duì)所述請(qǐng)求數(shù)據(jù)進(jìn)行更新。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)被測(cè)系統(tǒng)包含的組件獲取針對(duì)所述被測(cè)系統(tǒng)的請(qǐng)求數(shù)據(jù)，包括：

通過機(jī)器學(xué)習(xí)模型構(gòu)造所述被測(cè)系統(tǒng)；

獲取所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型的樣本數(shù)據(jù)作為所述被測(cè)系統(tǒng)的請(qǐng)求數(shù)據(jù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述接口組件以及所述請(qǐng)求數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)，包括：

將所述請(qǐng)求數(shù)據(jù)輸入所述接口組件，以基于所述接口組件請(qǐng)求所述被測(cè)系統(tǒng)；

將所述被測(cè)系統(tǒng)的在線用戶數(shù)進(jìn)行梯度增加處理，以獲取所述被測(cè)系統(tǒng)對(duì)于所述請(qǐng)求數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述接口組件以及所述請(qǐng)求數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)，包括：

獲取測(cè)試工具；

基于所述被測(cè)系統(tǒng)的所述接口組件生成所述測(cè)試工具的依賴包；

結(jié)合所述測(cè)試工具以及所述依賴包獲取所述請(qǐng)求數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的所述測(cè)試數(shù)據(jù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述結(jié)合所述測(cè)試工具以及所述依賴包獲取所述請(qǐng)求數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的所述測(cè)試數(shù)據(jù)，包括：

根據(jù)測(cè)試需求確定對(duì)應(yīng)的測(cè)試環(huán)境參數(shù)；

基于所述測(cè)試環(huán)境參數(shù)以及所述依賴包運(yùn)行所述測(cè)試工具，以獲取所述請(qǐng)求數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的所述測(cè)試數(shù)據(jù)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述被測(cè)系統(tǒng)包括風(fēng)控決策系統(tǒng)。

9.一種測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

組件獲取模塊，用于獲取待測(cè)試的被測(cè)系統(tǒng)包含的組件；

數(shù)據(jù)獲取模塊，用于根據(jù)被測(cè)系統(tǒng)包含的組件，獲取針對(duì)所述被測(cè)系統(tǒng)的請(qǐng)求數(shù)據(jù)；

測(cè)試確定模塊，用于對(duì)所述被測(cè)系統(tǒng)整體進(jìn)行封裝，以得到所述被測(cè)系統(tǒng)的接口組件，并基于所述接口組件以及所述請(qǐng)求數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)；

結(jié)果確定模塊，用于通過所述測(cè)試數(shù)據(jù)獲取所述被測(cè)系統(tǒng)的性能指標(biāo)，以確定所述被測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試結(jié)果。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的方法。

11.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：

處理器；以及

存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)所述處理器的可執(zhí)行指令；

其中，所述處理器配置為經(jīng)由執(zhí)行所述可執(zhí)行指令來執(zhí)行權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的方法。