[發(fā)明專利]滑動開關(guān)的開關(guān)位置檢測裝置及方法

在審

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• 申請日: 2020-03-25
• 公開（公告）號: CN113447801A
• 公開（公告）日: 2021-09-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 賀川
• 申請（專利權(quán)）人: 法雷奧汽車內(nèi)部控制（深圳）有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01B7/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105
• 代理人: 譚華

1.一種滑動開關(guān)的開關(guān)位置檢測裝置，所述滑動開關(guān)包括彈片以及至少兩個開關(guān)位置區(qū)域，且相鄰開關(guān)位置區(qū)域之間存在間隔區(qū)域，所述開關(guān)位置檢測裝置包括：

測量模塊，被配置為輸出用于確定所述滑動開關(guān)的開關(guān)位置的電參數(shù)測量值；

控制器，被配置為：

以預(yù)定采樣頻率從所述測量模塊獲取電參數(shù)測量值；

基于當(dāng)前采樣點之前的預(yù)設(shè)時間段內(nèi)的電參數(shù)測量值序列生成待檢測軌跡，

確定基準(zhǔn)曲線軌跡中與所述待檢測軌跡匹配的特定部分軌跡；以及

基于所述特定部分軌跡確定開關(guān)位置，

其中，所述基準(zhǔn)曲線軌跡上的每個軌跡點的坐標(biāo)指示：該軌跡點在所述至少兩個開關(guān)位置區(qū)域和間隔區(qū)域上的位置點、以及該位置點處的基準(zhǔn)電參數(shù)測量值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的開關(guān)位置檢測裝置，其中，確定基準(zhǔn)曲線軌跡中與所述待檢測軌跡匹配的特定部分軌跡包括：

對于所述待檢測軌跡中的每個電參數(shù)測量值，確定所述基準(zhǔn)曲線軌跡中與該電參數(shù)測量值相匹配的至少一個離散軌跡點；

基于分別與所述待檢測軌跡中的每個電參數(shù)測量值相匹配的離散軌跡點，獲得與所述待檢測軌跡匹配的特定部分軌跡。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的開關(guān)位置檢測裝置，其中，用于所述匹配的算法為隱馬爾科夫模型算法，

其中，對于所述待檢測軌跡中的每個電參數(shù)測量值，確定所述基準(zhǔn)曲線軌跡中與該電參數(shù)測量值相匹配的至少一個離散軌跡點包括：

對于每個電參數(shù)測量值，確定基準(zhǔn)電參數(shù)測量值與該電參數(shù)測量值的偏離在第一閾值范圍內(nèi)的至少一個離散軌跡點，并且

將所述至少一個離散軌跡點對應(yīng)的位置點的集合作為該電參數(shù)測量值的候選位置點集，其中每個候選位置點的發(fā)射概率隨著對應(yīng)的基準(zhǔn)電參數(shù)測量值與該電參數(shù)測量值的偏離增大而減小；

其中，基于分別與所述待檢測軌跡中的每個電參數(shù)測量值相匹配的離散軌跡點，獲得與所述待檢測軌跡匹配的特定部分軌跡包括：

計算相鄰電參數(shù)測量值的候選位置點集之間的狀態(tài)轉(zhuǎn)移概率矩陣，其中分別屬于兩個相鄰電參數(shù)測量值的候選位置點集的兩個候選位置點的距離越近，該兩個候選位置點的狀態(tài)轉(zhuǎn)移概率越大；以及

基于每個候選位置點集中的每個候選位置點的發(fā)射概率以及相鄰電參數(shù)測量值的候選位置點集之間的狀態(tài)轉(zhuǎn)移概率矩陣，確定與所述待檢測軌跡匹配的特定部分軌跡。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的開關(guān)位置檢測裝置，其中，基于每個候選位置點集中的每個候選位置點的發(fā)射概率以及相鄰電參數(shù)測量值的候選位置點集之間的狀態(tài)轉(zhuǎn)移概率矩陣，確定與所述待檢測軌跡匹配的特定部分軌跡包括：

將所述待檢測軌跡中的第一個電參數(shù)測量值的候選位置點集中的每個候選位置點的發(fā)射概率作為狀態(tài)概率；

對于所述待檢測軌跡中的第i個電參數(shù)測量值，根據(jù)第i-1個電參數(shù)測量值的候選位置集中的每個候選位置點的狀態(tài)概率、第i-1個電參數(shù)測量值的候選位置集到第i個電參數(shù)測量值的候選位置集的狀態(tài)轉(zhuǎn)移概率矩陣、以及第i個電參數(shù)測量值的候選位置集中的每個候選位置點的發(fā)射概率，來確定第i個電參數(shù)測量值的候選位置集中的每個候選位置點的狀態(tài)概率；

基于第N個電參數(shù)測量值的候選位置點集中具有最高狀態(tài)概率的候選位置點，確定所述待檢測軌跡匹配的特定部分軌跡，

其中，i大于等于2，且小于等于N，N為所述待檢測軌跡中的電參數(shù)測量值的總數(shù)量。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的開關(guān)位置檢測裝置，其中，基于所述特定部分軌跡確定開關(guān)位置包括：

提取所述特定部分軌跡中在當(dāng)前采樣點獲取的電參數(shù)測量值的對應(yīng)軌跡點，

將該對應(yīng)軌跡點所對應(yīng)的開關(guān)位置區(qū)域所屬的開關(guān)位置確定為當(dāng)前開關(guān)位置。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的開關(guān)位置檢測裝置，其中，所述控制器還被配置為：

將彈片位于所述至少兩個開關(guān)位置區(qū)域以及間隔區(qū)域上的各位置點時電參數(shù)測量值的理論值作為該位置點的基準(zhǔn)電參數(shù)測量值，以生成基準(zhǔn)曲線軌跡。

7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的開關(guān)位置檢測裝置，其中，所述控制器還被配置為：

基于所述電參數(shù)測量值序列，更新所述基準(zhǔn)曲線軌跡。