[發明專利]一種外切型光纖彎曲半徑測量尺及其測量方法在審
| 申請號: | 202010217187.6 | 申請日: | 2020-03-25 |
| 公開(公告)號: | CN111272048A | 公開(公告)日: | 2020-06-12 |
| 發明(設計)人: | 鞏超;張光欣;劉榮浩;侯波;陳堯粲;陳妍;藺穎平 | 申請(專利權)人: | 國網天津市電力公司;國家電網有限公司 |
| 主分類號: | G01B5/213 | 分類號: | G01B5/213 |
| 代理公司: | 天津盛理知識產權代理有限公司 12209 | 代理人: | 王來佳 |
| 地址: | 300010*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 外切 光纖 彎曲 半徑 測量 及其 測量方法 | ||
一種外切型光纖彎曲半徑測量尺及其測量方法,包括帶有刻度的環形尺、固定尺板及活動尺板,其中環形尺的中部固裝有轉軸,轉軸的側壁上制有光纖限位槽,該轉軸上固定套裝固定尺板,且轉軸上轉動套裝活動尺板;固定尺板及活動尺板的自由端均固裝有定位光纖的U型卡,且固定尺板及活動尺板的中部均穿透安裝環形尺。避免了傳統測量方法尋找圓心過程造成的誤差,結構簡單、光纖外側測量利于在狹小作業空間單人操作,具有測量精度高、使用方便且測量范圍廣泛的優點。
技術領域
本發明涉及計量設備技術領域,涉及一種外切型光纖彎曲半徑測量尺及其測量方法。
背景技術
光纖最重要優點之一就是易彎曲性。如果光纖彎曲的曲率半徑過小,將引起光的傳播途徑改變,使光從纖芯滲透到包層,甚至有可能穿過包層向外滲透,造成光束功率的損耗,進而影響通訊質量;另一方面,由于實際現場的安裝條件(包括安裝空間的設計要求,靠近發熱元件的距離等)的限制,光纖安裝半徑不能過大,因此有必要對光纖安裝過程中半徑的長度進行有效地測量和控制。現行測試方法靠經驗目測,無法準確獲得光纖的彎曲半徑,因此需要一種能夠快速測量光纖彎曲半徑的裝置。
經對公開專利進行檢索,未發現高度相關的公開專利。
發明內容
本發明的目的在于克服現有技術的不足之處,提供一種外切型光纖彎曲半徑測量尺及其測量方法,可精準測量光纖圓弧彎曲半徑,有效解決了現有技術中靠經驗目測準確性差的問題。
一種外切型光纖彎曲半徑測量尺,包括帶有刻度的環形尺、固定尺板及活動尺板,其中環形尺的中部固裝有轉軸,轉軸的側壁上制有光纖限位槽,該轉軸上固定套裝固定尺板,且轉軸上轉動套裝活動尺板;固定尺板及活動尺板的自由端均固裝有定位光纖的U型卡,且固定尺板及活動尺板的中部均穿透安裝環形尺。
而且,固定尺板及活動尺板的一端均一體制出有U型連接臂,該U型連接臂的內部穿透安裝環形尺;固定尺板端部的U型連接臂與轉軸固定連接,活動尺板端部的U型連接臂與轉軸旋轉連接。
而且,環形尺包括環型尺板及多個扇形連接片,其中扇形連接片的外圓均與環形尺板的內壁固定連接,扇形連接片的內圓均與轉軸固定連接。
一種外切型光纖彎曲半徑測量尺的測量方法,包括以下步驟:
步驟一:將光纖的中部固定搭接在轉軸的光纖限位槽內,而后將光纖的兩端卡入到固定尺板及活動尺板自由端上的U型卡內部,此時固定尺板應與活動尺板共線;
步驟二;在光纖的兩端記錄標記點,并分別讀取兩個標記點分別位于固定尺板與活動尺板上的刻度度數;
步驟三:手持固定尺板及活動尺板逐漸彎折光纖,直至光纖無法繼續彎折為止,此時再次讀取兩個標記點分別位于固定尺板與活動尺板上的刻度度數,并讀取環形尺板上的角度度數;
步驟四:通過步驟二及步驟三分別計算固定尺板與活動尺板上光纖標記點的位移差x,并利用公式r=x·tanα計算光纖的彎曲半徑;
而且,步驟四的公式r=x·tanα中,r為光纖的彎曲半徑,a為環形尺板上的角度度數的一半,x為光纖直線狀態與光纖彎折狀態,其兩端標記點的位移量。
而且,步驟四進行完成后還應進行誤差判定,設固定尺板上光纖標記點位移量為x1,活動尺板上光纖標記點位移量為x2,若x1=x2則判定為測量準確,否則調松U型卡與光纖外壁的貼合力再重復步驟二至步驟四。
本發明的優點和技術效果是:
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