[發明專利]顯示面板有效
| 申請號: | 202010216895.8 | 申請日: | 2020-03-25 |
| 公開(公告)號: | CN111261093B | 公開(公告)日: | 2021-08-24 |
| 發明(設計)人: | 傅曉立 | 申請(專利權)人: | TCL華星光電技術有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/20 | 分類號: | G09G3/20 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570 | 代理人: | 楊艇要 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示 面板 | ||
一種顯示面板,包括閘極陣列基板;第一軟性電路板,與所述閘極陣列基板連接;印刷電路板,與所述第一軟性電路板連接,設置有中心控制板,所述中心控制板輸出閘極陣列驅動訊號;第二軟性電路板,設置于所述閘極陣列基板的側邊緣;以及電平位移器,設置在所述第二軟性電路板上,與所述中心控制板電連接,所述電平位移器抬升所述閘極陣列驅動訊號,達到降低面板制造成本,增加面板設計靈活性,以及控制閘極驅動電路的掃描方向的效果。
【技術領域】
本揭示涉及顯示技術領域,具體涉及顯示面板。
【背景技術】
請參閱圖1,其為現有技術包含閘極驅動電路的顯示面板方塊示意圖。如圖1所示,在顯示面板100中,印刷電路板110與閘極陣列基板GOA1之間設置有芯片承載薄膜(chip onfilm,COF)120,電平位移器111設置在印刷電路板110的內部,閘極陣列基板GOA1與電平位移器111電性連接。
然而,現有技術存在如下幾個缺陷:
首先,電平位移器價格高,再加上搭配電平位移器的外圍器件復雜,導致現有技術的面板制造成本增加。再者,隨著閘極陣列基板時脈個數的改變,經常不能找到直接使用的電平位移器,常需要多個電平位移器并搭配對應的外圍電路設計才能完成顯示面板,影響設計靈活性。此外,現有技術的面板亦不能改變閘極驅動電路的掃描方向。
故,有需要提供一種新的顯示面板,以解決現有技術存在的問題。
【發明內容】
為解決上述問題,本揭示提出一種顯示面板,其可達到降低面板制造成本,增加面板電路設計架構靈活性,以及控制閘極驅動電路的掃描方向的效果。
為達成上述目的,本揭示提供一種顯示面板,其特征在于,包括:閘極陣列基板;第一軟性電路板,與所述閘極陣列基板連接;印刷電路板,與所述第一軟性電路板連接,設置有中心控制板(timing controller,T-CON),所述中心控制板輸出閘極陣列驅動訊號;第二軟性電路板,設置于所述閘極陣列基板的側邊緣;電平位移器,設置在所述第二軟性電路板上,與所述中心控制板電連接,所述電平位移器(Level Shifter)抬升所述閘極陣列驅動訊號。
于本揭示其中的一實施例中,所述第二軟性電路板還包括移位暫存器(ShifterRegister)以及輸出緩沖器(Output Buffer),所述移位暫存器接收閘極陣列驅動訊號并產生暫存閘極陣列驅動訊號,所述電平位移器抬升所述暫存閘極陣列驅動訊號后傳輸至所述輸出緩沖器,由所述輸出緩沖器輸出閘極陣列控制訊號控制所述閘極陣列基板上的薄膜電晶體開啟和關閉。
于本揭示其中的一實施例中,所述閘極陣列控制訊號包含多個時脈控制訊號。
于本揭示其中的一實施例中,所述時脈控制訊號的數量是12個。
于本揭示其中的一實施例中,所述閘極陣列驅動訊號被配置為包含低頻訊號,所述第二軟性電路板被配置為還包含低頻訊號分離元件,所述低頻訊號分離元件被配置為用于將所述低頻訊號轉換為第一低頻訊號及第二低頻訊號。
于本揭示其中的一實施例中,所述第二軟性電路板被配置為還包含控制所述閘極驅動電路掃描方向的掃描方向控制元件,通過接收掃描方向控制訊號控制掃描方向。
于本揭示其中的一實施例中,所述掃描方向控制元件還包含接收掃描方向控制訊號的接收單元。
于本揭示其中的一實施例中,所述閘極陣列驅動訊號被配置為包含起始訊號,所述第二軟性電路板被配置為還包含起始訊號分離元件,所述起始訊號分離元件被配置為用于將所述起始訊號轉換為第一起始訊號及第二起始訊號。
于本揭示其中的一實施例中,所述閘極陣列驅動訊號被配置為包含左起始訊號及右起始訊號,所述第二軟性電路板被配置為還包含起始訊號轉換元件,所述起始訊號轉換元件被配置為用于將所述左起始訊號及右起始訊號轉換為第一起始訊號及第二起始訊號。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于TCL華星光電技術有限公司,未經TCL華星光電技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010216895.8/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:晶圓的檢測方法和檢測設備
- 下一篇:一種優化的地下調壓箱





