[發明專利]原子振蕩器以及頻率信號生成系統

有效

• 申請號: 202010216740.4
• 申請日: 2020-03-25
• 公開（公告）號: CN111756374B
• 公開（公告）日: 2023-06-27
• 發明（設計）人: 珎道幸治;林暢仁
• 申請（專利權）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: H03L7/26
• 分類號: H03L7/26
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 鄧毅;黃綸偉

1.一種原子振蕩器，其包含：

原子室，其收納有堿金屬原子，具有第1部分和與所述第1部分不同位置的第2部分；

發光元件，其將激發所述堿金屬原子的光朝向所述原子室射出；

第1溫度檢測元件，其對所述第1部分的溫度進行檢測；

第1溫度控制元件，其根據所述第1溫度檢測元件的檢測結果，對所述第1部分的溫度進行控制；

第2溫度檢測元件，其配置于具有所述第1部分與所述第2部分之間的熱阻以上的熱阻的部分，對所述部分的溫度進行檢測；

第2溫度控制元件，其根據所述第2溫度檢測元件的檢測結果或者所述第1溫度控制元件進行的溫度控制的信息，將所述第2部分的溫度控制為比所述第1部分的溫度高的溫度；

受光元件，其接受透過所述原子室的光；以及

屏蔽件，其具有磁屏蔽性并收納所述原子室，

所述第1溫度檢測元件配置于所述屏蔽件的內側，所述第2溫度檢測元件配置于所述屏蔽件的外側。

2.根據權利要求1所述的原子振蕩器，其中，

根據示出所述檢測結果與所述第2溫度控制元件的控制信號的關系的標準曲線決定出的控制信號被輸入到所述第2溫度控制元件。

3.根據權利要求1所述的原子振蕩器，其中，

根據示出所述第1溫度控制元件進行的溫度控制的信息與所述第2溫度控制元件的控制信號的關系的標準曲線決定出的控制信號被輸入到所述第2溫度控制元件。

4.根據權利要求1至3中的任意一項所述的原子振蕩器，其中，

所述第2溫度控制元件是所述第1溫度控制元件。

5.一種原子振蕩器，其包含：

原子室，其收納有堿金屬原子，具有第1部分和與所述第1部分不同位置的第2部分；

發光元件，其將激發所述堿金屬原子的光朝向所述原子室射出；

第1溫度檢測元件，其對所述第1部分的溫度進行檢測；

第1溫度控制元件，其根據所述第1溫度檢測元件的檢測結果，對所述第1部分的溫度進行控制；

第2溫度控制元件，其以恒定的輸出值將所述第2部分控制為比所述第1部分的溫度高的溫度；

受光元件，其接受透過所述原子室的光；以及

屏蔽件，其具有磁屏蔽性并收納所述原子室，

所述第1溫度檢測元件配置于所述屏蔽件的內側，所述第2溫度檢測元件配置于所述屏蔽件的外側。

6.一種頻率信號生成系統，其具有：

原子振蕩器；以及

處理部，其對來自所述原子振蕩器的頻率信號進行處理，

所述原子振蕩器包含：

原子室，其收納有堿金屬原子，具有第1部分和與所述第1部分不同位置的第2部分；

發光元件，其將激發所述堿金屬原子的光朝向所述原子室射出；

第1溫度檢測元件，其對所述第1部分的溫度進行檢測；

第1溫度控制元件，其根據所述第1溫度檢測元件的檢測結果，對所述第1部分的溫度進行控制；

第2溫度檢測元件，其配置于具有所述第1部分與所述第2部分之間的熱阻以上的熱阻的部分，對所述部分的溫度進行檢測；

第2溫度控制元件，其根據所述第2溫度檢測元件的檢測結果或者所述第1溫度控制元件進行的溫度控制的信息，將所述第2部分的溫度控制為比所述第1部分的溫度高的溫度；

受光元件，其接受透過所述原子室的光；以及

屏蔽件，其具有磁屏蔽性并收納所述原子室，

所述第1溫度檢測元件配置于所述屏蔽件的內側，所述第2溫度檢測元件配置于所述屏蔽件的外側。

7.一種頻率信號生成系統，其具有：

原子振蕩器；以及

處理部，其對來自所述原子振蕩器的頻率信號進行處理，

所述原子振蕩器包含：

原子室，其收納有堿金屬原子，具有第1部分和與所述第1部分不同位置的第2部分；

發光元件，其將激發所述堿金屬原子的光朝向所述原子室射出；

第1溫度檢測元件，其對所述第1部分的溫度進行檢測；

第1溫度控制元件，其根據所述第1溫度檢測元件的檢測結果，對所述第1部分的溫度進行控制；

第2溫度控制元件，其以恒定的輸出值將所述第2部分控制為比所述第1部分的溫度高的溫度；

受光元件，其接受透過所述原子室的光；以及

屏蔽件，其具有磁屏蔽性并收納所述原子室，

所述第1溫度檢測元件配置于所述屏蔽件的內側，所述第2溫度檢測元件配置于所述屏蔽件的外側。