[發明專利]一種致密氣藏壓裂直井產能計算方法有效
| 申請號: | 202010216345.6 | 申請日: | 2020-03-25 |
| 公開(公告)號: | CN111444610B | 公開(公告)日: | 2021-04-16 |
| 發明(設計)人: | 朱維耀;宋智勇;高玉寶;岳明;劉雨薇;鄒國棟 | 申請(專利權)人: | 北京科技大學 |
| 主分類號: | G06F30/20 | 分類號: | G06F30/20;G06Q50/02;E21B43/26;G06F111/10;G06F119/14 |
| 代理公司: | 北京鼎承知識產權代理有限公司 11551 | 代理人: | 柯宏達 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 致密 氣藏壓裂直井 產能 計算方法 | ||
1.一種致密氣藏壓裂直井產能計算方法,其特征在于,所述計算方法包括:
將致密氣儲層壓裂后形成的滲流場簡化為3個滲流區,所述3個滲流區分別為:I區-人工壓裂裂縫內的高速非達西滲流區;II區-裂縫控制橢圓范圍內的達西滲流區;III區-遠離裂縫位置的流體流入裂縫控制范圍橢圓的達西滲流區;
根據所述3個滲流區,分別建立直井壓裂后產能模型;以及
將所述產能模型耦合在一起,得到致密氣藏壓裂直井產能模型;
所述I區-人工壓裂裂縫內的高速非達西滲流區的產能模型為
式中:下標sc表示標準狀態下的物理量;為r=0處對應的擬壓力;為對應r位置的擬壓力;xf為裂縫半長;w為裂縫寬度;h為儲層厚度;T為溫度;psc為標準壓力;Tsc為標準狀態下溫度;qsc為標準條件下氣井流量;Zsc為標準條件下氣體壓縮因子;為平均壓力下氣體粘度;K為氣相滲透率;Krg為氣相相對滲透率;ρgsc為標準條件下氣體密度,r為距井底距離,rw為氣井半徑。
2.根據權利要求1所述的致密氣藏壓裂直井產能計算方法,其特征在于,所述I區-人工壓裂裂縫內的高速非達西滲流區的擬壓力函數為
式中,下標1代表I區的物理量,m*為擬壓力函數,μ為氣相粘度;Z為氣體壓縮因子,p為氣相當前地層壓力。
3.根據權利要求1所述的致密氣藏壓裂直井產能計算方法,其特征在于,所述II區-裂縫控制橢圓范圍內的達西滲流區的產能模型為
式中:K0為基質滲透率;b為滑脫系數;pe為地層邊界壓力;α為應力敏感系數;ζi為橢圓外邊界;ζw為橢圓內邊界;p為氣相當前地層壓力。
4.根據權利要求3所述的致密氣藏壓裂直井產能計算方法,其特征在于,所述II區-裂縫控制橢圓范圍內的達西滲流區的擬壓力函數為
式中,下標2代表II區的物理量,μ為氣相粘度;Z為氣體壓縮因子。
5.根據權利要求3所述的致密氣藏壓裂直井產能計算方法,其特征在于,所述III區-遠離裂縫位置的流體流入裂縫控制范圍橢圓的達西滲流區的產能模型為
式中,為外邊界壓力;re為儲層半徑。
6.根據權利要求5所述的致密氣藏壓裂直井產能計算方法,其特征在于,所述III區-遠離裂縫位置的流體流入裂縫控制范圍橢圓的達西滲流區的擬壓力函數為
式中,下標3代表III區的物理量。
7.根據權利要求5所述的致密氣藏壓裂直井產能計算方法,其特征在于,所述致密氣藏壓裂直井產能模型為:
8.根據權利要求1所述的致密氣藏壓裂直井產能計算方法,其特征在于,所述方法還包括根據得到的產能模型計算致密氣藏壓裂直井產能。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京科技大學,未經北京科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010216345.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





