[發(fā)明專利]TCONLESS主板信號轉(zhuǎn)換裝置及檢測系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010215758.2
• 申請日: 2020-03-24
• 公開（公告）號: CN111405202B
• 公開（公告）日: 2022-11-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 涂志雄;胡傳輝;張洋;嚴(yán)勇;張偉
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳創(chuàng)維-RGB電子有限公司
• 主分類號: H04N5/268
• 分類號: H04N5/268;H04N5/765
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 肖文靜

本發(fā)明公開了一種TCONLESS主板信號轉(zhuǎn)換裝置及檢測系統(tǒng)。本發(fā)明通過在TCONLESS主板中內(nèi)置SOC芯片，在TCONLESS主板上設(shè)置有信號切換測試點(diǎn)及屏信號輸出接口，在信號切換測試點(diǎn)為第一電平時，通過SOC芯片切換屏信號，獲得待轉(zhuǎn)換屏信號；屏信號輸出接口與信號轉(zhuǎn)接板連接，將待轉(zhuǎn)換屏信號發(fā)送至信號轉(zhuǎn)接板；信號轉(zhuǎn)接板與測試裝置連接，通過線序轉(zhuǎn)換將待轉(zhuǎn)換屏信號轉(zhuǎn)換成兼容測試裝置的預(yù)設(shè)信號。其中，通過TCONLESS主板和信號轉(zhuǎn)接板的信號轉(zhuǎn)換，使需要檢測的信號兼容測試裝置，進(jìn)而兼容普通液晶屏，解決了需要專用液晶屏完成主板檢測的技術(shù)問題，提高了檢測效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種TCONLESS主板信號轉(zhuǎn)換裝置及檢測系統(tǒng)。

背景技術(shù)

液晶電視正常顯示時一般需要TCON(Time Control，邏輯板)提供給液晶屏可以直接使用的DATA數(shù)據(jù)信號及驅(qū)動控制信號。目前電視市場上TCON存在形式主要有兩種：一種是單獨(dú)的TCON，靠近液晶屏端有單獨(dú)的TCON板，將電視主板輸出信號經(jīng)過轉(zhuǎn)換后送給液晶屏。另一種是TCONLESS方案，TCON內(nèi)置于電視主板內(nèi)，直接輸出P2P(Point to Point，點(diǎn)對點(diǎn))信號送到液晶屏顯示。

隨著技術(shù)的發(fā)展，以及市場競爭日益激烈，市場對液晶電視的成本提出了更高的要求，而將液晶屏的TCON整合到電視主板上、并進(jìn)一步將TCON整合到SOC芯片中可有效降低成本，因此此類電視主板逐漸成為主流。電視主板中集成TCON芯片或?qū)CON芯片集成在SOC芯片中，此類主板通常簡稱為TCONLESS主板。

在TCONLESS主板的生產(chǎn)測試環(huán)節(jié)，通常是FCT(Functional Circuit Test，功能測試)測試儀將主板輸出的V-BY-ONE信號、LVDS信號和MINI LVDS信號轉(zhuǎn)換為VGA信號或HDMI信號，然后進(jìn)行自動測試，確保主板各功能正常。然而目前不同廠家的液晶面板規(guī)格信息和通信協(xié)議存在差異，如EPI協(xié)議、CEDS協(xié)議等，生產(chǎn)檢測過程中，當(dāng)TCONLESS主板采用上述非標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議的規(guī)格時，無法使用FCT測試儀自動檢測，而是需要準(zhǔn)備相應(yīng)規(guī)格的液晶屏，才能點(diǎn)亮TCONLESS主板，生產(chǎn)檢測成本高且效率低。

上述內(nèi)容僅用于輔助理解本發(fā)明的技術(shù)方案，并不代表承認(rèn)上述內(nèi)容是現(xiàn)有技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種TCONLESS主板信號轉(zhuǎn)換裝置及檢測系統(tǒng)，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中使用非標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議進(jìn)行生產(chǎn)測試需要專用液晶屏導(dǎo)致成本高且效率低的技術(shù)問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種TCONLESS主板信號轉(zhuǎn)換裝置，所述TCONLESS主板信號轉(zhuǎn)換裝置包括TCONLESS主板及信號轉(zhuǎn)接板；其中，

所述TCONLESS主板，內(nèi)置SOC芯片，所述TCONLESS主板上設(shè)置有信號切換測試點(diǎn)及屏信號輸出接口，所述屏信號輸出接口與所述信號轉(zhuǎn)接板連接；所述TCONLESS主板用于在所述信號切換測試點(diǎn)為第一電平時，通過所述SOC芯片切換屏信號，獲得待轉(zhuǎn)換屏信號，并通過所述屏信號輸出接口發(fā)送所述待轉(zhuǎn)換屏信號至所述信號轉(zhuǎn)接板；

信號轉(zhuǎn)接板，與測試裝置連接，用于將所述待轉(zhuǎn)換屏信號轉(zhuǎn)換成預(yù)設(shè)信號，所述預(yù)設(shè)信號兼容所述測試裝置。

優(yōu)選地，所述屏信號輸出接口包括第一屏信號輸出接口及第二屏信號輸出接口，所述第一屏信號輸出接口及所述第二屏信號輸出接口均與所述信號轉(zhuǎn)接板連接。

優(yōu)選地，所述第一屏信號輸出接口及所述第二屏信號輸出接口均兼容所述待轉(zhuǎn)換信號。

優(yōu)選地，所述第一屏信號輸出接口及所述第二屏信號輸出接口為EPI接口或CEDS接口。

優(yōu)選地，所述信號切換測試點(diǎn)通過所述屏信號輸出接口與所述SOC芯片連接，或所述信號切換測試點(diǎn)與所述SOC芯片連接。