[發明專利]一種超柔性透明半導體薄膜及其制備方法在審
| 申請號: | 202010213156.3 | 申請日: | 2020-03-24 |
| 公開(公告)號: | CN113451108A | 公開(公告)日: | 2021-09-28 |
| 發明(設計)人: | 趙宇坤;陸書龍;邢志偉;張建亞 | 申請(專利權)人: | 中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L21/78;B81B7/04;B81C1/00 |
| 代理公司: | 深圳市銘粵知識產權代理有限公司 44304 | 代理人: | 孫偉峰;陽志全 |
| 地址: | 215123 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 柔性 透明 半導體 薄膜 及其 制備 方法 | ||
本發明公開了一種超柔性透明半導體薄膜及其制備方法,該方法包括:提供一外延襯底;在外延襯底上生長犧牲層;在犧牲層上層疊生長至少一層Al1?nGanN外延層,其中,0<n≤1;在Al1?nGanN外延層上生長含有GaN材料的納米柱陣列;刻蝕犧牲層,以將犧牲層上的外延結構整體剝離;將剝離后的外延結構轉移至柔性透明襯底的表面。相對于傳統的平面薄膜,本發明不僅可以通過釋放應力提高晶體質量,也能通過納米柱材料自身的特點提高柔性和透明度。另外,外延結構所需的緩沖層和犧牲層的總厚度可以很小,而且外延生長過程中無需額外的催化劑,有利于降低外延成本和工藝難度。本發明實用性強,可為隱形半導體器件和超柔性器件提供技術支持。
技術領域
本發明涉及半導體制備技術領域,尤其涉及一種超柔性透明半導體薄膜及其制備方法。
背景技術
近幾年來,柔性光電子器件在可穿戴智能器件、發光器件、太陽能電池、傳感器和生物應用等方面有非常廣闊的應用前景,市場十分巨大。氮化鎵(GaN)基半導體材料具有耐高溫、物理化學性質穩定和抗輻射能力強等優點,同時帶隙寬且連續可調,是目前制備光電器件的理想材料。但是GaN材料本身為硬質材料,柔性差,而且一般外延生長GaN基材料所用的襯底不透明,所以目前很難制備超柔性透明GaN基材料。而目前廣泛研究的二維材料,如石墨烯,雖然有超柔性且透明的優點,但是其本身無法作為半導體器件使用,因此無法替代GaN基材料制備半導體器件。
目前,有科研人員先在藍寶石(sapphire)襯底上先外延生長一層2μm厚的非摻雜GaN作為緩沖層,再生長一層2.5μm厚的GaN重摻雜層作為犧牲層,然后再生長器件所需的約0.8μm厚的平面結構外延層(Appl.Phys.Express 2016,9,081003)。該實驗中通過刻蝕掉犧牲層,將其上的平面結構層剝離出來,則可以獲得柔性的薄膜。此制備方法提供了一種新的制備柔性GaN基外延薄膜的途徑,具有創新性和價值,然而也有幾點局限:A.在生長器件所需的外延結構層前需要生長4.5μm厚的GaN外延層,增加了外延成本;B.在生長器件所需的外延結構層前生長的2.5μm厚的GaN重摻雜層會增加缺陷密度,降低外延晶體質量;C.剝離所得的約0.8μm厚的平面結構層較厚,透明度未知,該文章沒有相關數據,即使GaN和AlGaN材料的禁帶寬度對應的波長小于可見光范圍(380nm-800nm),透明度高一些,但InGaN材料的禁帶寬度窄,會吸收可見光,透明度則差很多;D.剝離所得的外延薄膜有近1μm的厚度,柔性受到了限制,彎折過程中的擠壓很可能會損傷晶體質量。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





