[發(fā)明專利]一種內(nèi)置保險(xiǎn)絲固體鉭電解電容的失效分析方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010212378.3
• 申請(qǐng)日: 2020-03-24
• 公開（公告）號(hào): CN111521957B
• 公開（公告）日: 2023-01-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郭金花
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 航天科工防御技術(shù)研究試驗(yàn)中心
• 主分類號(hào): G01R31/74
• 分類號(hào): G01R31/74;G01R31/66;H01H85/02;H01H85/22
• 代理公司: 北京風(fēng)雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 王剛

1.一種內(nèi)置保險(xiǎn)絲固體鉭電解電容的失效分析方法，其特征在于，包括如下步驟：

（a）觀察固體鉭電解電容的外觀形貌和內(nèi)部結(jié)構(gòu)，并確定保險(xiǎn)絲的位置和焊接狀態(tài)；

（b）測(cè)試固體鉭電解電容的電參數(shù)，并根據(jù)電參數(shù)初步確認(rèn)保險(xiǎn)絲和焊接是否正常，以及固體鉭電解電容的失效模式；

（c）機(jī)械去除保險(xiǎn)絲周圍的包封材料，并測(cè)試保險(xiǎn)絲兩端電極之間的第一電阻，隨后解焊保險(xiǎn)絲，再測(cè)試保險(xiǎn)絲兩端的第二電阻，根據(jù)第一電阻和第二電阻驗(yàn)證保險(xiǎn)絲和焊接是否正常；

（d）對(duì)解焊后的固體鉭電解電容進(jìn)行化學(xué)開封，觀察暴露鉭芯形貌以確定鉭芯是否存在缺陷；

（e）根據(jù)上述各步驟結(jié)果確定固體鉭電解電容失效原因；

其中，所述電參數(shù)包括電容值、損耗值、漏電流大小、兩端電極之間的第三電阻和保險(xiǎn)絲測(cè)試點(diǎn)與臨近端電極之間的第四電阻，所述根據(jù)電參數(shù)初步確認(rèn)固體鉭電解電容的失效模式以及保險(xiǎn)絲和焊接是否正常包括：

根據(jù)電容值、損耗值、漏電流大小和兩端電極之間的第三電阻初步確認(rèn)固體鉭電解電容的失效模式；

根據(jù)保險(xiǎn)絲測(cè)試點(diǎn)與臨近端電極之間的第四電阻初步確認(rèn)保險(xiǎn)絲和焊接是否正常；

所述失效模式的初步確認(rèn)方法如下：

若在規(guī)定的測(cè)試條件下，電容值、損耗值或漏電流大小超過檢測(cè)固體鉭電解電容的標(biāo)稱值允許的誤差范圍，則初步確認(rèn)固體鉭電解電容為電參數(shù)變化失效；

若在規(guī)定的測(cè)試條件下，兩端電極之間的第三電阻為低阻狀態(tài)，則初步確認(rèn)固體鉭電解電容為短路失效；

若在規(guī)定的測(cè)試條件下，無法測(cè)試到電容電參數(shù)，則初步確認(rèn)固體鉭電解電容為開路失效；

所述保險(xiǎn)絲和焊接是否正常的初步確認(rèn)方法如下：

若保險(xiǎn)絲測(cè)試點(diǎn)與臨近端電極之間的第四電阻小于1Ω，則初步確認(rèn)保險(xiǎn)絲和焊接正常；

若保險(xiǎn)絲測(cè)試點(diǎn)與臨近端電極之間的第四電阻為1Ω以上，則初步確認(rèn)保險(xiǎn)絲和焊接異常。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的失效分析方法，其特征在于，所述包封材料的去除方式為機(jī)械研磨。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的失效分析方法，其特征在于，所述第一電阻測(cè)試之前，對(duì)保險(xiǎn)絲兩端電極表面進(jìn)行清理。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的失效分析方法，其特征在于，所述內(nèi)部結(jié)構(gòu)通過射線觀察固體鉭電解電容得到。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的失效分析方法，其特征在于，所述缺陷包括燒毀、擊穿、開裂和瑕疵。