[發明專利]OTA性能測試系統

有效

• 申請號: 202010199385.4
• 申請日: 2020-03-20
• 公開（公告）號: CN111404622B
• 公開（公告）日: 2022-02-08
• 發明（設計）人: 孫思揚;安旭東;王瑞鑫;張欽娟;祝思婷;王娜
• 申請（專利權）人: 中國信息通信研究院
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 谷敬麗;許曼

1.一種OTA性能測試系統，其特征在于，包括：位于全電波暗室頂部的球面天線墻、位于全電波暗室中的5G FR1及4G LTE MIMO OTA測試天線環、位于全電波暗室側壁的干擾天線；

所述球面天線墻包括有不同頻段的天線陣列；

根據用戶需求，從不同頻段的天線陣列中選擇相應的天線作為干擾天線施加干擾信號，從不同頻段的天線陣列中選擇相應的天線作為測量天線用于模擬GNSS衛星星座的空間分布發射GNSS信號，位于全電波暗室側壁的干擾天線發射不同制式的干擾信號模擬低仰角干擾源，從而完成GNSS抗干擾接收機及抗干擾天線性能測試；

選擇暗室頂部正中央位置天線作為單探頭測量天線，通過單探頭遠場測試的方式，實現無源和/或有源天線陣列靜態和準動態方向圖性能測試；

根據不同信道模型場景，選擇天線墻中特定位置的相應頻段天線作為測量天線，完成Massive MIMO場景下的5G NR信道容量測試；

根據不同應用場景，從球面天線墻中的不同頻段的天線陣列中選擇不同數量，不同仰角、方位角的天線作為干擾天線，模擬相鄰小區干擾信號場景，實現干擾場景下的有源天線陣列自適應波束切換測試，通過不同干擾天線切換，模擬動態干擾源的影響；

所述5G FR1及4G LTE MIMO OTA測試天線環產生不同應用場景的信道環境，滿足5GFR1終端設備和/或4G LTE終端設備的MIMO OTA性能測試需求。

2.如權利要求1所述的OTA性能測試系統，其特征在于，所述球面天線墻為張角120°的球面。

3.如權利要求1所述的OTA性能測試系統，其特征在于，所述球面天線墻包括Sub 6GHz頻段天線墻和5G FR2頻段天線墻。

4.如權利要求3所述的OTA性能測試系統，其特征在于，所述Sub 6GHz頻段天線墻與5GFR2頻段天線墻交錯排列。

5.如權利要求3所述的OTA性能測試系統，其特征在于，Sub 6GHz頻段天線墻上布置有多個400MHz-7.125GHz頻段天線；

所述5G FR2頻段天線墻上布置有多個5G FR2頻段天線。

6.如權利要求1所述的OTA性能測試系統，其特征在于，所述位于全電波暗室側壁的干擾天線為雙極化Sub 6GHz天線，該干擾天線的仰角調節范圍為15°至30°，間隔5°；該干擾天線的方位角調節范圍為360°，間隔30°。

7.如權利要求5所述的OTA性能測試系統，其特征在于，所述多個400MHz-7.125GHz頻段天線以5°步進，均勻分布在所述Sub 6GHz頻段天線墻上。

8.如權利要求5所述的OTA性能測試系統，其特征在于，所述多個5G FR2頻段天線以5°步進，均勻分布在所述5G FR2頻段天線墻上。

9.如權利要求1所述的OTA性能測試系統，其特征在于，所述暗室頂部的球面天線墻上的不同頻段的天線到暗室中心的距離相同。

10.如權利要求1所述的OTA性能測試系統，其特征在于，5G FR1及4G LTE MIMO OTA測試天線環為16組雙極化天線陣列。