[發明專利]鏡片缺陷檢測系統

有效

• 申請號: 202010199277.7
• 申請日: 2020-03-20
• 公開（公告）號: CN111307421B
• 公開（公告）日: 2022-08-19
• 發明（設計）人: 諸慶;金澤聞;陳旭瓊;高德民
• 申請（專利權）人: 寧波舜宇儀器有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01N21/958
• 代理公司: 北京謹誠君睿知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11538
• 代理人: 陸鑫;延慧

1.一種鏡片缺陷檢測系統，包括：

轉盤模塊（1），設有多個檢測載具用于裝載檢測鏡片；

檢測模塊（2），包括用于鏡片全區域檢測的中心檢測組件（21）、用于鏡片平面區域檢測的邊緣檢測組件（22）和用于鏡片非球面區域檢測的中心補位檢測組件（23）；其特征在于，所述中心檢測組件（21）包括位于所述轉盤模塊（1）下側的組合光源（3），所述組合光源（3）包括波段與所述檢測鏡片反射波段相近的環形光源（31）和波段與所述檢測鏡片反射波段相對的背光光源（32）；

所述中心檢測組件（21）還包括鏡頭（5）和圖像傳感器（6）；

所述中心補位檢測組件 （23）包括聚光光源（7）、第三鏡頭（8）和第三圖像傳感器（9）；

所述邊緣檢測組件（22）包括第二環形光源（221）、第二鏡頭（222）和第二圖像傳感器（223）；

所述聚光光源（7）位于所述轉盤模塊（1）下方，包括位置調整平臺（71）和與所述位置調整平臺（71）相連接的光源組件（72），所述光源組件（72）包括照明件和聚光鏡組；

所述環形光源（31）位于所述背光光源（32）上方與所述背光光源（32）相連接，并且所述環形光源（31）與所述背光光源（32）之間設有間隔距離；

所述環形光源（31）與所述背光光源（32）之間的間隔距離大于等于所述環形光源內孔直徑的1/6；

所述背光光源（32）包括背光源和漫射板，所述背光源的直徑大于等于10倍的環形光源（31）與所述背光光源（32）之間的間隔距離；

所述漫射板的顏色與所述環形光源（31）的顏色設置為互補色。

2.根據權利要求1所述的鏡片缺陷檢測系統，其特征在于，所述環形光源（31）為高角度無影光。

3.根據權利要求1所述的鏡片缺陷檢測系統，其特征在于，所述中心檢測組件（21）還包括用于驅動所述組合光源（3）移動的動力件（4）以及用于控制所述環形光源（31）工作、所述背光光源（32）關閉和控制所述環形光源（31）關閉、所述背光光源（32）工作的控制器。

4.根據權利要求1所述的鏡片缺陷檢測系統，其特征在于，沿所述轉盤模塊（1）周向，所述檢測模塊（2）設置為中心檢測組件（21）、邊緣檢測組件（22）和中心補位檢測組件（23）依次排布或邊緣檢測組件（22）、中心檢測組件（21）和中心補位檢測組件（23）依次排布。

5.根據權利要求1或3所述的鏡片缺陷檢測系統，其特征在于，所述鏡頭（5）和所述圖像傳感器（6）位于所述轉盤模塊（1）的上方。

6.根據權利要求1所述的鏡片缺陷檢測系統，其特征在于，所述邊緣檢測組件（22）還包括位于所述轉盤模塊（1）下方的頂出組件（224）,所述頂出組件（224）包括Z向驅動件（2241）和吸附頂針（2242）；

所述第二環形光源（221）、所述第二鏡頭（222）和所述第二圖像傳感器（223）位于所述轉盤模塊（1）的上方。

7.根據權利要求1所述的鏡片缺陷檢測系統，其特征在于，所述鏡片缺陷檢測系統還包括上料模塊（10）和下料分揀模塊（11）；

所述上料模塊（10）包括上料搬運機構（101）、上料放置機構（102）和上料校正組件（103），所述上料校正組件（103）包括第四環形光源（1031）、第四鏡頭（1032）、第四圖像傳感器（1033）和第一微調平臺（1034）所述下料分揀模塊（11）包括下料搬運機構（111）、下料分揀機構（112）、第五環形光源（113）、第五鏡頭（114）、第五圖像傳感器（115）和第二微調平臺（116）。