[發明專利]一種CCD校正方法、系統、具有CCD校正系統的光譜儀在審
| 申請號： | 202010199248.0 | 申請日： | 2020-03-20 |
| 公開（公告）號： | CN111504454A | 公開（公告）日： | 2020-08-07 |
| 發明（設計）人： | 周穎;黃云彪 | 申請（專利權）人： | 重慶川儀自動化股份有限公司 |
| 主分類號： | G01J1/42 | 分類號： | G01J1/42;G01J3/28 |
| 代理公司： | 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 尹麗云 |
| 地址： | 400700*** | 國省代碼： | 重慶;50 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 ccd 校正 方法 系統 具有 光譜儀 | ||
1.一種CCD校正方法，其特征在于，包括：
采集入射光子輸入像元一像元產生光電荷的理想值與實際值，獲取所述理想值與所述實際值之間的斜率偏差；
采集所述像元在不同積分時間下的斜率偏差，并在單位時間內進行歸一化處理，獲取歸一值；
通過多個所述歸一值確定校正規則；
根據所述校正規則以及各個像元的實際值，確定各個所述像元的校正值，完成校正。
2.根據權利要求1所述的CCD校正方法，其特征在于，歸一化處理的過程：
將積分時間按照等間隔調整，記錄不同積分時間下輸出光強值；
將各個輸出光強值除以對應的積分時間，得到單位積分時間內光強的實際值，再將每一像元單位積分時間內的光強值與分別與該像元同一積分時間下的最大單位積分時間內的光強值比較，完成單位積分時間內光強值的歸一化處理。
3.根據權利要求1所述的CCD校正方法，其特征在于，通過多個所述歸一值與所述理想值確定校正規則的步驟包括：將多個所述歸一值和對應的理想值進行最小二乘法處理，確定校正規則。
4.根據權利要求3所述的CCD校正方法，其特征在于，所述校正規則包括多個n階多項式。
5.根據權利要求4所述的CCD校正方法，其特征在于，n為整數，且7≥n≥1。
6.根據權利要求1或者3所述CCD校正方法，其特征在于，所述校正規則的數學表達為：
其中，ak為擬合系數；xi為每一像元輸出光強值，yi為每一像元對應的歸一化處理結果。
7.一種CCD校正系統，其特征在于，包括：
采集模塊，用于采集入射光子輸入像元一像元產生光電荷的理想值與實際值，獲取所述理想值與所述實際值之間的斜率偏差；
處理模塊，采集所述像元在不同積分時間下的斜率偏差，并在單位時間內進行歸一化處理，獲取歸一值，通過多個所述歸一值確定校正規則
校正模塊，根據所述校正規則以及各個像元的實際值，確定各個所述像元的校正值，完成校正。
8.根據權7所述的CCD校正系統，其特征在于，所述歸一化處理的步驟包括：
將積分時間按照等間隔調整，記錄不同積分時間下輸出光強值；
將各個輸出光強值除以對應的積分時間，得到單位積分時間內光強的實際值，再將每一像元單位積分時間內的光強值與分別與該像元同一積分時間下的最大單位積分時間內的光強值比較，完成單位積分時間內光強值的歸一化處理。
9.根據權7所述的CCD校正系統，其特征在于，所述校正規則包括：
其中，ak為擬合系數；xi為每一像元輸出光強值，yi為每一像元對應的歸一化處理結果。
10.具有CCD校正系統的光譜儀，其特征在于，所述光譜儀包括用于分光的光柵系統、用于校正的CCD校正系統以及用于采集數據的數據采集系統，由輸入至輸出依次設置所述光柵系統、所述CCD校正系統以及所述數據采集系統。
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