[發(fā)明專利]一種檢測芯片、其修飾方法及反應(yīng)系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010197439.3 | 申請日: | 2020-03-19 |
| 公開(公告)號: | CN111266142A | 公開(公告)日: | 2020-06-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 殷雨丹;于靜;劉浩男;劉祝凱 | 申請(專利權(quán))人: | 京東方科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | B01L3/00 | 分類號: | B01L3/00;G01N33/68 |
| 代理公司: | 北京同達(dá)信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291 | 代理人: | 劉源 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測 芯片 修飾 方法 反應(yīng) 系統(tǒng) | ||
1.一種檢測芯片的修飾方法,其特征在于,包括:
對具有硅氧化物的所述檢測芯片活化處理,以使所述硅氧化物轉(zhuǎn)化為硅羥基;
將具有所述硅羥基的所述檢測芯片置于3-甘油丙基三甲氧基硅烷的有機溶液中,得到表面結(jié)合有環(huán)氧基的所述檢測芯片。
2.如權(quán)利要求1所述的修飾方法,其特征在于,將具有所述硅羥基的所述檢測芯片置于3-甘油丙基三甲氧基硅烷的有機溶液中,得到表面結(jié)合有環(huán)氧基的所述檢測芯片,具體包括:
將具有所述硅羥基的所述檢測芯片放入0.5%-5%(v/v)3-甘油丙基三甲氧基硅烷的甲苯溶液中,在室溫至70℃的溫度條件下密閉浸泡24h-72h。
3.如權(quán)利要求2所述的修飾方法,其特征在于,所述將具有所述硅羥基的所述檢測芯片放入0.5%-5%(v/v)3-甘油丙基三甲氧基硅烷的甲苯溶液中,在室溫至70℃的溫度條件下密閉浸泡24h-72h,具體包括:
將具有所述硅羥基的所述檢測芯片放入3%(v/v)3-甘油丙基三甲氧基硅烷的甲苯溶液中,在70℃下密閉浸泡24h。
4.如權(quán)利要求1所述的修飾方法,其特征在于,所述對具有硅氧化物的所述檢測芯片活化處理,以使所述硅氧化物轉(zhuǎn)化為硅羥基,具體包括:
將具有硅氧化物的所述檢測芯片放入食人魚溶液中,在70℃-90℃的溫度條件下浸泡12h-24h;所述食人魚溶液由濃硫酸和30%雙氧水構(gòu)成,其中,所述濃硫酸與所述30%雙氧水的體積比為1:3。
5.如權(quán)利要求1所述的修飾方法,其特征在于,在執(zhí)行每一步驟之后,對所述檢測芯片進行如下處理:
采用去離子水對所述檢測芯片沖洗兩遍;
將沖洗后的所述檢測芯片在去離子水中超聲清洗處理后,氮氣吹干備用。
6.如權(quán)利要求1-5任一項所述的修飾方法,其特征在于,在所述對具有硅氧化物的所述檢測芯片活化處理之前,還包括:
依次采用丙酮、乙醇、去離子水對具有硅氧化物的所述檢測芯片進行超聲清洗,并采用氮氣對清洗后的所述檢測芯片吹干備用。
7.如權(quán)利要求6所述的修飾方法,其特征在于,在所述采用丙酮對具有硅氧化物的所述檢測芯片進行超聲清洗之前,還包括:
對玻璃基底進行預(yù)處理,形成具有硅氧化物的所述檢測芯片。
8.如權(quán)利要求7所述的修飾方法,其特征在于,所述對玻璃基底進行預(yù)處理,形成具有硅氧化物的所述檢測芯片,具體包括:
在所述玻璃基底上形成多個點樣平臺;
采用等離子體增強化學(xué)的氣相沉積法,在390℃的溫度條件下,在各所述點樣平臺所在層上沉積厚度為300nm、材質(zhì)為硅氧化物的親水層,并對所述親水層進行刻蝕,保留各所述點樣平臺所在區(qū)域的硅氧化物,獲得具有所述硅氧化物的所述檢測芯片。
9.一種檢測芯片,其特征在于,包括:玻璃基底,位于所述玻璃基底上的多個點樣平臺,以及覆蓋各所述點樣平臺的親水層,所述親水層包括具有化學(xué)修飾基團的硅氧化物;其中,
所述化學(xué)修飾基團采用如權(quán)利要求1-8任一項所述的修飾方法獲得。
10.一種反應(yīng)系統(tǒng),其特征在于,包括如權(quán)利要求9所述的檢測芯片。
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