[發(fā)明專利]一種單元測(cè)試代碼的生成方法、單元測(cè)試方法和裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010197189.3
• 申請(qǐng)日: 2020-03-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113495826A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-10-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳浩翔
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 浙江大搜車軟件技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京博思佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11415
• 代理人: 李威

本申請(qǐng)?zhí)峁﹩卧獪y(cè)試代碼的生成方法、單元測(cè)試方法和裝置，從待測(cè)試項(xiàng)目中讀取目標(biāo)測(cè)試源碼；通過(guò)源碼解析器對(duì)所述目標(biāo)測(cè)試源碼進(jìn)行解析，獲得源碼特征信息；獲取單元測(cè)試模板文件，所述單元測(cè)試模板文件包含用于生成單元測(cè)試代碼的基礎(chǔ)信息；將所述源碼特征信息注入所述單元測(cè)試模板文件中，并根據(jù)所述源碼特征信息和所述單元測(cè)試模板文件中定義的用于生成單元測(cè)試代碼的基礎(chǔ)信息生成針對(duì)所述目標(biāo)測(cè)試源碼的單元測(cè)試代碼。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及軟件處理技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種單元測(cè)試代碼的生成方法、單元測(cè)試方法和裝置。

背景技術(shù)

單元測(cè)試是指對(duì)軟件中的最小可測(cè)試單元進(jìn)行檢查和驗(yàn)證。單元測(cè)試是一種保證程序正確性的有效測(cè)試手段，單元測(cè)試往往由開(kāi)發(fā)人員來(lái)完成。然而，開(kāi)發(fā)人員編寫(xiě)單元測(cè)試的過(guò)程耗時(shí)耗力，增加了開(kāi)發(fā)人員的工作量。

在現(xiàn)有技術(shù)中，開(kāi)發(fā)人員通常采用Mock測(cè)試框架進(jìn)行單元測(cè)試，其中，常用的Mock測(cè)試工具有powermock、easymock、jmock、mockito等，采用Mock測(cè)試框架可以在一定程度上減輕開(kāi)發(fā)人員編寫(xiě)單元測(cè)試的工作量。

但是，開(kāi)發(fā)人員在使用Mock測(cè)試框架進(jìn)行單元測(cè)試時(shí)，開(kāi)發(fā)人員需要對(duì)Mock測(cè)試框架進(jìn)行學(xué)習(xí)，并且在單元測(cè)試時(shí)涉及將第三方依賴服務(wù)進(jìn)行模擬依賴的過(guò)程，仍然需要開(kāi)發(fā)人員手動(dòng)編寫(xiě)相關(guān)的代碼和數(shù)據(jù)，以及需要開(kāi)發(fā)人員對(duì)單元測(cè)試過(guò)程進(jìn)行維護(hù)。因此，即便采用Mock測(cè)試框架，仍然需要開(kāi)發(fā)人員投入大量的時(shí)間和精力編寫(xiě)單元測(cè)試代碼，并且學(xué)習(xí)成本高，增加了開(kāi)發(fā)人員的工作量。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請(qǐng)?zhí)峁┝藛卧獪y(cè)試代碼的生成方法、單元測(cè)試方法和裝置，以實(shí)現(xiàn)單元測(cè)試代碼的自動(dòng)生成。

具體地，本申請(qǐng)是通過(guò)如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：

根據(jù)本申請(qǐng)的第一方面，提供了一種單元測(cè)試代碼的生成方法，包括：

從待測(cè)試項(xiàng)目中讀取目標(biāo)測(cè)試源碼；

通過(guò)源碼解析器對(duì)所述目標(biāo)測(cè)試源碼進(jìn)行解析，獲得源碼特征信息；

獲取單元測(cè)試模板文件，所述單元測(cè)試模板文件包含用于生成單元測(cè)試代碼的基礎(chǔ)信息；

將所述源碼特征信息注入所述單元測(cè)試模板文件中，并根據(jù)所述源碼特征信息和所述單元測(cè)試模板文件中定義的用于生成單元測(cè)試代碼的基礎(chǔ)信息生成針對(duì)所述目標(biāo)測(cè)試源碼的單元測(cè)試代碼。

根據(jù)本申請(qǐng)的第二方面，提供了一種單元測(cè)試方法，包括：

獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試源碼的單元測(cè)試代碼，所述單元測(cè)試代碼如第一方面所述；

獲取針對(duì)所述目標(biāo)測(cè)試源碼的單元測(cè)試數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述單元測(cè)試代碼和所述單元測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)所述目標(biāo)測(cè)試源碼進(jìn)行單元測(cè)試。

根據(jù)本申請(qǐng)的第三方面，提供了一種單元測(cè)試代碼的生成裝置，包括：

讀取單元，用于從待測(cè)試項(xiàng)目中讀取目標(biāo)測(cè)試源碼；

解析單元，用于通過(guò)源碼解析器對(duì)所述目標(biāo)測(cè)試源碼進(jìn)行解析，獲得源碼特征信息；

獲取模板文件單元，用于獲取單元測(cè)試模板文件，所述單元測(cè)試模板文件包含用于生成單元測(cè)試代碼的基礎(chǔ)信息；

生成單元，用于將所述源碼特征信息注入所述單元測(cè)試模板文件中，并根據(jù)所述源碼特征信息和所述單元測(cè)試模板文件中定義的用于生成單元測(cè)試代碼的基礎(chǔ)信息生成針對(duì)所述目標(biāo)測(cè)試源碼的單元測(cè)試代碼。

根據(jù)本申請(qǐng)的第四方面，提供了一種單元測(cè)試裝置，包括：

獲取單元測(cè)試代碼單元，用于獲取針對(duì)目標(biāo)測(cè)試源碼的單元測(cè)試代碼，所述單元測(cè)試代碼如第一方面所述；