[發(fā)明專利]阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊及其定值方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010193907.X
• 申請(qǐng)日: 2020-03-18
• 公開（公告）號(hào): CN111272702A
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 潘忠泉;楊欣欣;周賽;孫文慧;劉霞;胡國(guó)星;拓銳;龔維;任萬(wàn)杰;劉新;李昕
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 山東非金屬材料研究所
• 主分類號(hào): G01N21/41
• 分類號(hào): G01N21/41
• 代理公司: 濟(jì)南舜源專利事務(wù)所有限公司 37205
• 代理人: 苗峻;王增娣

1.一種阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊，由折射率介于1.3～1.7的光學(xué)玻璃材料制成，其特征在于：標(biāo)準(zhǔn)塊呈柱形，它包括至少三個(gè)垂直于同一平面的平面柱面，其第一平面柱面(1)和第二平面柱面(2)之間的夾角θ為89°59′～90°1′，第三平面柱面與第二平面柱面(3)的夾角β為22.5°～67.5°，上述三個(gè)平面柱面為拋光面。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊，其特征是：第一平面柱面(1)及第二平面柱面寬度(2)a、b不小于11mm，棱柱長(zhǎng)度L不小于15mm。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊，其特征是：所述的夾角β為60°。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊，其特征是：所述的棱柱為四棱柱，第四平面柱面(4)與第二平面柱面(2)平行。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊，其特征是：所述的棱柱為三棱柱。

6.利用如權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所述的阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊定值的方法，其特征是：所述的方法為最小偏向角法，以標(biāo)準(zhǔn)塊的第一平面柱面(1)或第二平面柱面(2)中的一個(gè)平面柱面與第三平面柱面(3)分別作為入射面和出射面，按照公式(1)計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)塊的折射率、按照公式(2)評(píng)價(jià)測(cè)量偏差：

式中：n--標(biāo)準(zhǔn)塊的折射率示值；

δ--出射光與入射光的夾角；

γ--入射平面柱面與出射平面柱面的夾角；當(dāng)?shù)谝黄矫嬷婧偷谌矫嬷婊槿肷浜统錾涿鏁r(shí)，γ為α；當(dāng)?shù)诙矫嬷婧偷谌矫嬷婊槿肷浜统錾涿鏁r(shí)，γ為β。

7.利用如權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所述的阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊的定值方法，其特征是：所述的方法為自準(zhǔn)直法定值，以標(biāo)準(zhǔn)塊的第三平面柱面為入射面、第一平面柱面或第二平面柱面中的一個(gè)平面柱面為反射面，按照公式(3)計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)塊的折射率、按照公式(4)評(píng)價(jià)測(cè)量偏差：

式中：n--標(biāo)準(zhǔn)塊的折射率示值；

i--入射角；

--入射平面柱面與反射平面柱面的夾角；當(dāng)?shù)谝黄矫嬷鏋榉瓷涿鏁r(shí)，為α；當(dāng)?shù)诙矫嬷鏋榉瓷涿鏁r(shí)，為β。

8.利用如權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所述的阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊的定值方法，其特征是：使用V棱鏡折射儀定值，將標(biāo)準(zhǔn)塊的兩個(gè)垂直的面與V棱鏡的V形基座配合,對(duì)標(biāo)準(zhǔn)塊進(jìn)行定值。