[發(fā)明專利]窄設(shè)計(jì)窗口的對稱雙向可控硅靜電防護(hù)器件及其制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010193302.0 | 申請日: | 2020-03-18 |
| 公開(公告)號: | CN111341844B | 公開(公告)日: | 2023-04-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊浩澤;汪洋;楊紅姣 | 申請(專利權(quán))人: | 湘潭大學(xué) |
| 主分類號: | H01L29/74 | 分類號: | H01L29/74;H01L29/747;H01L29/06;H01L23/60 |
| 代理公司: | 深圳市華勤知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44426 | 代理人: | 隆毅 |
| 地址: | 4111*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 設(shè)計(jì) 窗口 對稱 雙向 可控硅 靜電 防護(hù) 器件 及其 制作方法 | ||
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種窄設(shè)計(jì)窗口的對稱雙向可控硅靜電防護(hù)器件及其制作方法,包括:P型襯底,P型外延層,第一P阱、第二P阱、第三P阱、第四P阱,第一N型深阱、第二N型深阱、第三N型深阱,第一P+注入?yún)^(qū)、第二P+注入?yún)^(qū)、第三P+注入?yún)^(qū)、第四P+注入?yún)^(qū)、第五P+注入?yún)^(qū)、第六P+注入?yún)^(qū),和N+注入?yún)^(qū)Ⅰ、P+注入?yún)^(qū)Ⅱ、P+注入?yún)^(qū)Ⅲ、P+注入?yún)^(qū)Ⅳ、P+注入?yún)^(qū)Ⅴ、P+注入?yún)^(qū)Ⅵ,第三P+注入?yún)^(qū)和N+注入?yún)^(qū)Ⅰ以金屬相連;第四P+注入?yún)^(qū)和N+注入?yún)^(qū)Ⅵ以金屬相連;第一P+注入?yún)^(qū)、第二P+注入?yún)^(qū)、第六P+注入?yún)^(qū)和N+注入?yún)^(qū)Ⅱ連接在一起并作為器件的陰極,第五P+注入?yún)^(qū)和N+注入?yún)^(qū)Ⅱ連接在一起并作為器件的陽極,如此,增加電荷泄放的通路,提高維持電壓。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及靜電防護(hù)領(lǐng)域,特別涉及一種窄設(shè)計(jì)窗口的對稱雙向可控硅靜電防護(hù)器件及其制作方法。
背景技術(shù)
隨著半導(dǎo)體工藝的進(jìn)一步發(fā)展,工藝制程的進(jìn)一步縮小,雖然帶來了器件的效能的大幅提高,但是對ESD的防護(hù)帶來了新的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的可控硅器件其觸發(fā)電壓高,易超出設(shè)計(jì)窗口,維持電壓低容易造成閂鎖現(xiàn)象,很難適應(yīng)現(xiàn)代ESD防護(hù)器件的設(shè)計(jì)窗口要求。
傳統(tǒng)雙向可控硅靜電防護(hù)器件是在傳統(tǒng)單向可控硅靜電防護(hù)器件基礎(chǔ)上改良而來的,可認(rèn)為是兩個(gè)傳統(tǒng)單向可控硅的面對面串聯(lián)的形成,傳統(tǒng)雙向可控硅器件正向和反向的工作方式同傳統(tǒng)單項(xiàng)可控硅的正向工作方式相同,傳統(tǒng)雙向可控硅靜電防護(hù)器件的剖面圖如圖1所示,其等效電路圖如圖2所示。當(dāng)陽極出現(xiàn)靜電電壓時(shí),第三P阱和第一N阱之間形成正向PN結(jié),電荷由陽極進(jìn)入第一N阱,第二P阱和第一N阱之間形成反向PN結(jié),當(dāng)靜電電壓大于第二P阱和第一N阱之間之間的反向PN結(jié)時(shí),PNP三極管導(dǎo)通,形成雪崩電荷,靜電電荷由第一N阱流入第二P阱,隨后由陰極流出。隨著流經(jīng)第二P阱電荷的增加,在第二P阱和N+注入?yún)^(qū)Ⅰ之間形成正向?qū)妷海琋PN三極管Q3的bc之間導(dǎo)通,NPN三極管Q3導(dǎo)通。此時(shí)三極管Q2、Q3的導(dǎo)通,構(gòu)成正反饋回路。在形成正反饋回路之后,即使沒有雪崩電流,由于三極管的導(dǎo)通,也可以形成電荷泄放路徑。當(dāng)傳統(tǒng)的雙向可控硅靜電防護(hù)器件的陰極出現(xiàn)靜電電壓時(shí),工作原理與正向基本相同,但是產(chǎn)生雪崩的區(qū)域不同。當(dāng)陰極出現(xiàn)靜電電壓時(shí),第一N阱與第三P阱之間的反向PN結(jié)發(fā)生雪崩擊穿,使得PNP三極管Q2與NPN三極管Q1導(dǎo)通,形成正反饋泄放靜電路徑。
傳統(tǒng)的SCR結(jié)構(gòu)的高觸發(fā)電壓易于超出設(shè)計(jì)窗口的上限,而低觸發(fā)電壓易造成閂鎖現(xiàn)象。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種窄設(shè)計(jì)窗口的對稱雙向可控硅靜電防護(hù)器件及其制作方法,增加電荷泄放的通路,提高維持電壓。
本發(fā)明實(shí)施例提供的一種窄設(shè)計(jì)窗口的對稱雙向可控硅靜電防護(hù)器件,包括:P型襯底,其中所述P型襯底上方為P型外延層,所述P型外延層內(nèi)從左到右依次設(shè)有第一P阱,第一N型深阱,第二P阱,第二N型深阱,第三P阱,第三N型深阱,第四P阱,所述P型外延層底部有N型埋層;
所述第一P阱內(nèi)設(shè)有第一P+注入?yún)^(qū);
所述第一N型深阱底部與N型埋層部分相連;
所述第二P阱內(nèi)從左至右依次設(shè)有第二P+注入?yún)^(qū)、N+注入?yún)^(qū)Ⅰ以及N+注入?yún)^(qū)Ⅱ;
所述第二N型深阱底部與N型埋層相連,內(nèi)設(shè)有第一N阱,并在所述第一N阱設(shè)內(nèi)從左至右設(shè)有第三P+注入?yún)^(qū)、第四P+注入?yún)^(qū);
所述第二P阱和第一N阱交界處設(shè)有N+注入?yún)^(qū)Ⅲ;
所述第三P阱內(nèi)從左至右依次設(shè)有N+注入?yún)^(qū)Ⅴ、N+注入?yún)^(qū)Ⅵ和第五P+注入?yún)^(qū);
所述第一N阱注入?yún)^(qū)和第三P阱交界處設(shè)有N+注入?yún)^(qū)Ⅳ;
所述第三N型深阱底部與N型埋層部分相連;
所述第四P阱內(nèi)設(shè)有第六P+注入?yún)^(qū);
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