[發明專利]能量色散X熒光光譜儀的校準裝置及方法

有效

• 申請號: 202010192191.1
• 申請日: 2020-03-18
• 公開（公告）號: CN111272793B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 程鴻林
• 申請（專利權）人: 蘇州博訊儀器有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 蘇州市中南偉業知識產權代理事務所(普通合伙) 32257
• 代理人: 李艾

本發明公開了能量色散X熒光光譜儀的校準裝置及方法，包括光譜儀本體，具有一檢測口用于實現樣品的檢測；校準調整塊可移動的設于光譜儀本體上，螺紋套可軸向移動的設于容置槽內；位移機構設于光譜儀本體上并帶動校準調整塊做定向移動；限位機構設于光譜儀本體上用于對校準調整塊的移動進行限位。本發明通過螺紋旋轉帶動螺紋套在校準調整塊上做定向移動，直至光譜儀的檢測口完成樣品上的多點測試點的檢測動作，無需反復的固定樣品，大大提高了校準效率，而且能夠根據樣品的尺寸選擇不同的容置槽，只需要伺服傳動校準調整塊移動直至該容置槽的垂直中心線與檢測口的垂直中心線重疊即可，能夠適用不同尺寸的樣品，通用性好，方便實用。

技術領域

本發明涉及能量色散X熒光光譜儀技術領域，具體涉及能量色散X熒光光譜儀的校準裝置及方法。

背景技術

熒光光譜儀又稱熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質的激發光譜、發射光譜、量子產率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。能量色散X熒光光譜儀是常見的一種熒光光譜儀，光譜儀的校準主要是通過多次測量檢測數據計算其標準值。現有的能量色散X熒光光譜儀的校準裝置及方法大多是針對塊狀的樣品，對于圓筒狀的樣品而言，其檢測時的定位更為繁瑣，因此樣品來回換測的時間成本更高，校準效率較低，而且很難適用于不同尺寸的樣品的校準作業，通用性較差。

因此，為了解決上述存在的技術問題，本發明提供了能量色散X熒光光譜儀的校準裝置及方法，通過螺紋旋轉帶動螺紋套在校準調整塊上做定向移動，直至光譜儀的檢測口完成樣品上的多點測試點的檢測動作，無需反復的固定樣品，大大提高了校準效率，而且能夠根據樣品的尺寸選擇不同的容置槽，只需要伺服傳動校準調整塊移動直至該容置槽的垂直中心線與檢測口的垂直中心線重疊即可，能夠適用不同尺寸的樣品，通用性好，方便實用。

發明內容

本發明的一個目的是提供能量色散X熒光光譜儀的校準裝置，包括：

光譜儀本體，具有一檢測口用于實現樣品的檢測；

校準調整塊，可移動的設于所述光譜儀本體上，所述校準調整塊包括塊體，所述塊體具有多個容置槽，多個容置槽的直徑不一且間隔貫穿的設于所述塊體上；

螺紋套，可軸向移動的設于容置槽內，所述螺紋套具有與樣品相適配的定位孔，以及接頭；

位移機構，設于所述光譜儀本體上并帶動校準調整塊做定向移動，所述位移機構包括伺服電機、減速電機、齒輪和齒條，所述伺服電機傳動連接減速電機，減速電機傳動連接齒輪，齒輪與齒條嚙合，齒條安裝于所述光譜儀本體上；

限位機構，設于所述光譜儀本體上用于對校準調整塊的移動進行限位，限位機構包括導軌和導塊，導軌設于所述光譜儀本體上，導塊設于校準調整塊的底部，且校準調整塊通過導塊可移動的設于導軌上。

采用以上技術方案，所述螺紋套通過接頭與旋轉電機相連接，旋轉電機帶動螺紋套在校準調整塊上做軸向移動。

采用以上技術方案，所述螺紋套的外側壁設有外螺紋，容置槽的內側壁設有與外螺紋相適配的內螺紋。

采用以上技術方案，單個定位孔的內側壁設有與樣品相適配的凸楞。

采用以上技術方案，多個容置槽等距間隔的貫穿設于校準調整塊上。

采用以上技術方案，容置槽的垂直中心線與檢測口的垂直中心線重疊。

本發明的另一目的是能量色散X熒光光譜儀的校準方法，包括以下步驟：

S1：在樣品的不同位置標記多個測試點；

S2：依據樣品的直徑選擇校準調整塊上的其中一個容置槽，伺服電機通過減速電機帶動齒輪旋轉，齒輪嚙合齒條以帶動校準調整塊在光譜儀本體上移動直至移動到位；