[發(fā)明專利]一種投影調(diào)試方法和系統(tǒng)、校正方法和系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010191903.8 | 申請日: | 2020-03-18 |
| 公開(公告)號: | CN111372065A | 公開(公告)日: | 2020-07-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄭崧;鄭小華;陳奮發(fā);廖微 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市康帕斯科技發(fā)展有限公司 |
| 主分類號: | H04N9/31 | 分類號: | H04N9/31 |
| 代理公司: | 廣州潤禾知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44446 | 代理人: | 林偉斌 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)坂*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 投影 調(diào)試 方法 系統(tǒng) 校正 | ||
1.一種投影調(diào)試方法,其特征在于,包括:
預(yù)設(shè)至少一個環(huán)境參數(shù)條件;
選取一個所預(yù)設(shè)的環(huán)境參數(shù)條件,當(dāng)判斷當(dāng)前環(huán)境滿足所選取的環(huán)境參數(shù)條件時,對投影儀的投影畫面進行幾何校正,得到所選取的環(huán)境參數(shù)條件對應(yīng)的幾何校正參數(shù),對所選取的環(huán)境參數(shù)條件對應(yīng)的幾何校正參數(shù)進行保存;
若預(yù)設(shè)的環(huán)境參數(shù)條件多于一個時,在所選取的環(huán)境參數(shù)條件對應(yīng)的幾何校正參數(shù)保存后,選取下一個所預(yù)設(shè)的環(huán)境參數(shù)條件,并繼續(xù)判斷當(dāng)前環(huán)境是否滿足所選取的環(huán)境參數(shù)條件,直到所有環(huán)境參數(shù)條件被選取完。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種投影調(diào)試方法,其特征在于,每個所述環(huán)境參數(shù)條件包括溫度條件、濕度條件、氣壓條件、投影儀工作功率條件的一種或多種。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種投影調(diào)試方法,其特征在于,所述對投影儀的投影畫面進行幾何校正的步驟,具體為:
對投影儀投影的網(wǎng)格畫面進行幾何校正。
4.一種投影調(diào)試系統(tǒng),其特征在于,包括:
參數(shù)設(shè)置模塊,用于預(yù)設(shè)至少一個環(huán)境參數(shù)條件;
環(huán)境監(jiān)測模塊,用于選取一個所預(yù)設(shè)的環(huán)境參數(shù)條件;
校正保存模塊,用于當(dāng)判斷當(dāng)前環(huán)境滿足所選取的環(huán)境參數(shù)條件時,對投影儀的投影畫面進行幾何校正,得到所選取的環(huán)境參數(shù)條件對應(yīng)的幾何校正參數(shù),對所選取的環(huán)境參數(shù)條件對應(yīng)的幾何校正參數(shù)進行保存;
所述環(huán)境監(jiān)測模塊還用于若預(yù)設(shè)的環(huán)境參數(shù)條件多于一個時,在所選取的環(huán)境參數(shù)條件對應(yīng)的幾何校正參數(shù)保存后,選取下一個所預(yù)設(shè)的環(huán)境參數(shù)條件,并繼續(xù)判斷當(dāng)前環(huán)境是否滿足所選取的環(huán)境參數(shù)條件,直到所有環(huán)境參數(shù)條件被選取完。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種投影調(diào)試系統(tǒng),其特征在于,每個所述環(huán)境參數(shù)條件包括溫度條件、濕度條件、氣壓條件、投影儀工作功率條件的一種或多種。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種投影調(diào)試系統(tǒng),其特征在于,所述投影校正模塊用于對投影儀的投影畫面進行幾何校正的步驟,具體為:
對投影儀投影的網(wǎng)格畫面進行幾何校正。
7.一種投影校正方法,其特征在于,包括:
判斷當(dāng)前環(huán)境滿足預(yù)設(shè)至少一個環(huán)境參數(shù)條件中的一個;
獲取當(dāng)前環(huán)境所滿足的環(huán)境參數(shù)條件對應(yīng)的幾何校正參數(shù);
根據(jù)所獲取的幾何校正參數(shù)對投影儀的投影畫面進行幾何校正。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的投影校正方法,其特征在于,所述幾何校正參數(shù)通過權(quán)利要求1-3任一項所述的投影調(diào)試方法獲得。
9.一種投影校正系統(tǒng),其特征在于,包括:
環(huán)境判斷模塊,用于判斷當(dāng)前環(huán)境滿足至少一個預(yù)設(shè)環(huán)境參數(shù)條件中的一個;
參數(shù)獲取模塊,用于獲取所述環(huán)境判斷模塊判斷到的當(dāng)前環(huán)境所滿足的環(huán)境參數(shù)條件對應(yīng)的幾何校正參數(shù);
投影校正模塊,用于根據(jù)所述參數(shù)獲取模塊所獲取的幾何校正參數(shù)對投影儀的投影畫面進行幾何校正。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種投影校正系統(tǒng),其特征在于,所述幾何校正參數(shù)通過權(quán)利要求4-6任一項所述的投影調(diào)試系統(tǒng)獲得。
11.一種計算機設(shè)備,包括存儲器和處理器,存儲器存儲有計算機程序,其特征在于,所述處理器執(zhí)行計算機程序時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至3任一項所述的投影調(diào)試方法或如權(quán)利要求7或8所述的投影校正方法。
12.一種計算機可讀存儲介質(zhì),其上存儲有計算機程序,其特征在于,所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至3任一項所述的投影調(diào)試方法或如權(quán)利要求7或8所述的投影校正方法。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市康帕斯科技發(fā)展有限公司,未經(jīng)深圳市康帕斯科技發(fā)展有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010191903.8/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 調(diào)試系統(tǒng)、調(diào)試方法和調(diào)試控制方法
- 一種終端調(diào)試方法和裝置
- 設(shè)備自動工程調(diào)試方法、裝置、系統(tǒng)和計算機設(shè)備
- 基于串口的遠程設(shè)備調(diào)試系統(tǒng)及方法
- 一種安卓系統(tǒng)動態(tài)調(diào)試的方法及系統(tǒng)
- 調(diào)試裝置和遠程調(diào)試系統(tǒng)
- 一種調(diào)試方法、裝置及系統(tǒng)
- 一種應(yīng)用程序開發(fā)的調(diào)試系統(tǒng)及方法
- 樓宇設(shè)備的異地調(diào)試控制方法、裝置和計算機設(shè)備
- 一種芯片調(diào)試系統(tǒng)及芯片調(diào)試方法





