[發明專利]用于評價用于技術系統的軌跡的方法和設備

在審

• 申請號: 202010190913.X
• 申請日: 2020-03-18
• 公開（公告）號: CN111722529A
• 公開（公告）日: 2020-09-29
• 發明（設計）人: T.D.阮-蔣;C.齊默;M.邁斯特
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G05B13/04
• 分類號: G05B13/04;G06F17/18
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 劉晗曦;劉春元

1.一種用于評價關于技術系統（1，11）的參量的軌跡（t）的方法，其中，在離散點上進行所述軌跡（t）的評價，并且根據預給定的評價函數根據在所述離散點（s₁,…,s_m，t^*）上的評價度量求取總評價度量（S），其中，在所述軌跡（t）上的離散點（s₁,…,s_m，t^*）的確定包括以下步驟：

重復地確定（S4）在所述軌跡（t）的位置上的離散點（s₁,…,s_m，t^*），從而使在相關的所述離散點（s₁,…,s_m，t^*）上的所述評價度量（z_t）不滿足在相關的所述離散點（t^*）上的預給定的評價標準（z_tz_thr）并且所有已經確定的離散點（s₁,…,s_m）的所述評價度量（z₁,…,z_m）滿足所述預給定的評價標準（z₁z_thr;…;z_mz_thr）的概率最大；以及

當所述概率滿足預給定的準確性標準時，結束（S6）離散點（s₁,…,s_m，t^*）的確定。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，由蒙特卡洛方法確定所述概率，并且，具有最大的概率的所述離散點（t^*）的選擇通過優化方法來進行、尤其通過利用多起點的、基于導數的方法或者元啟發式的優化方法來進行。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中，所述評價標準說明，所述評價度量在預給定的評價閾值（z_thr）以上/以下。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其中，借助于容差閾值（ε）來說明所述準確性標準，其中，根據所述概率和根據所述容差閾值（ε）來結束離散點（s₁,…,s_m，t^*）的確定。

5.一種用于運行用于測量技術系統（1，11）的試驗臺的方法，其中，只有在按照根據權利要求1至4所述的方法之一所確定的總評價度量說明所述技術系統（1，11）的安全運行的情況下，將輸入參量軌跡使用用于所述技術系統（1，11）的測量。