[發明專利]一種前瞻性相位校正平面回波成像方法

有效

• 申請號: 202010187891.1
• 申請日: 2020-03-17
• 公開（公告）號: CN111352055B
• 公開（公告）日: 2022-05-06
• 發明（設計）人: 吳子岳;羅海;陳瀟;葉洋
• 申請（專利權）人: 無錫鳴石峻致醫療科技有限公司
• 主分類號: G01R33/58
• 分類號: G01R33/58
• 代理公司: 成都高遠知識產權代理事務所(普通合伙) 51222
• 代理人: 李安霞;李佳龍

1.一種前瞻性相位校正平面回波成像方法，其特征在于包括以下步驟：

S100、參考數據采集，包括以下步驟：

S110、施加激發脈沖，同時在相位編碼方向施加層選梯度，層選梯度的強度G_s計算公式為

其中BW_rf為激發脈沖的帶寬，γ為磁旋比，thickness為激發的層厚，

S120、反向施加層選回聚梯度，

S130、施加相位編碼預散相梯度和相位編碼梯度，

S140、在施加相位編碼預散相梯度后，立即打開采樣窗口，采集磁共振信號直至平面回波成像序列最后一個頻率編碼梯度的中間，

S150、采集到的磁共振信號共N個點，為s_1，s₂……s_n；

S200、計算相鄰兩點相位差，計算公式為

其中conj()是復數共軛函數，phase()是取相位函數；

S300、計算相位編碼梯度強度，相位編碼梯度強度G_n的計算公式為

其中γ為磁旋比，d為激發層面與磁體中心的距離，Δt為采樣時間間隔；

S400、計算相位編碼梯度面積，包括以下步驟：

S410、計算第m步相位編碼的面積，計算公式為

積分的起點m_start為前一個頻率編碼梯度的中間，積分的起點的終點m_end為施加完第m步相位編碼后的頻率編碼梯度的中間，

S420、計算相位編碼梯度的平均面積A_{pe_mean}，計算公式為

其中M表示總共有M個相位編碼步；

S500、計算相位編碼梯度偏差比列，計算公式為

其中ε_m表示第m步相位編碼產生的誤差；

S600、補償相位編碼梯度偏差：在平面回波成像基礎上，相位編碼梯度增加校正梯度，校正梯度的面積分別為A₁，A₂……A_m；

S700、采集成像數據。

2.根據權利要求1所述的成像方法，其特征在于：步驟S110中，激發脈沖翻轉角度≤90°。

3.根據權利要求1所述的成像方法，其特征在于：步驟S110中，thickness＜1mm。

4.根據權利要求1所述的成像方法，其特征在于：步驟S110中，激發脈沖的中心頻率的計算公式為：

f＝γ·G_s·d

其中γ為磁旋比，d為激發層面與磁體中心的距離。

5.根據權利要求4所述的成像方法，其特征在于：d＝50mm。

6.根據權利要求1所述的成像方法，其特征在于：步驟S120中，層選回聚梯度的面積A_sr計算公式為

A_sr＝-A_s·r_refocus

其中A_s為層選梯度面積，r_refocus為激發脈沖的回聚比列。

7.根據權利要求1所述的成像方法，其特征在于：步驟S600中，校正梯度的面積計算公式為

A_m＝ε_m·A_pe

A_pe為理想的相位編碼梯度面積。