[發明專利]輸入源兼容性測試方法、裝置和系統

在審

• 申請號: 202010187577.3
• 申請日: 2020-03-17
• 公開（公告）號: CN113407385A
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發明（設計）人: 賀凱;郭倫恒;韋桂鋒
• 申請（專利權）人: 西安諾瓦星云科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳精智聯合知識產權代理有限公司 44393
• 代理人: 鄧鐵華

本發明實施例涉及一種輸入源兼容性測試方法、裝置及系統。所述方法例如包括：a)下發測試指令至受試設備，以供電連接所述受試設備的源輸入設備獲知所述測試指令包含的測試顯示參數、并響應所述測試顯示參數向所述受試設備輸入相對應的測試源；b)與所述受試設備進行數據交互以讀取所述受試設備識別所述測試源得到的目標顯示參數；以及c)自動比對所述目標顯示參數與所述測試顯示參數以得到比對結果、并生成測試記錄。本發明實施例可以實現受試設備的輸入源兼容性測試自動化，進而提升測試效率。

技術領域

本發明涉及設備制造及測試技術領域，尤其涉及一種輸入源兼容性測試方法、一種輸入源兼容性測試裝置以及一種輸入源兼容性測試系統。

背景技術

隨著LED顯示行業的蓬勃發展，目前市場上的各種顯卡視頻源和視頻處理器源等輸入源類型越來越多，市場對LED顯示控制器等受試設備的兼容性要求也越來越高。為了滿足這種大量的市場需求，必須加強受試設備和前端視頻源的分辨率兼容性，為此需要做大量的兼容性測試，這首先就包括初版本大量的顯卡以及視頻處理器和受試設備的兼容性，其次就是版本迭代中大量的重復性工作，最后就是每一款LED顯示控制器等受試設備都需要做這種大量的兼容性測試。這部分工作重復性高、技術難度低、且工作量非常大。因此如何提供提高測試效率、解放人工測試是目前亟待解決的技術問題。

發明內容

為克服相關技術中存在的缺陷和不足，本發明的實施例提供一種輸入源兼容性測試方法、一種輸入源兼容性測試裝置以及一種輸入源兼容性測試系統。

一方面，本發明實施例提出的一種輸入源兼容性測試方法，包括：a)下發測試指令至受試設備，以供電連接所述受試設備的源輸入設備獲知所述測試指令包含的測試顯示參數、并響應所述測試顯示參數向所述受試設備輸入相對應的測試源；b)與所述受試設備進行數據交互以讀取所述受試設備識別所述測試源得到的目標顯示參數；以及c)自動比對所述目標顯示參數與所述測試顯示參數以得到比對結果、并生成測試記錄。

本實施例的輸入源兼容性測試方法，其對受試設備進行測試指令下發、識別參數自動回讀、以及自動進行顯示參數比對并生成測試記錄，也即實現了受試設備的輸入源兼容性測試自動化，有利于解放人工、提升測試效率。

在本發明的一個實施例中，所述輸入源兼容性測試方法還包括：根據輸入參數生成多個待測顯示參數，其中每一個所述待測顯示參數包含分辨率和刷新率，且所述多個待測顯示參數相互具有不同的分辨率和/或刷新率；以及逐一使用所述多個待測顯示參數作為所述測試顯示參數生成所述測試指令。

在本發明的一個實施例中，所述輸入參數包括起始分辨率、終止分辨率、增長步進值和刷新率；所述根據輸入參數生成多個待測顯示參數，包括：根據所述起始分辨率、所述終止分辨率和所述增長步進值生成多個分辨率；以及將生成的所述多個分辨率逐一與所述刷新率進行組合，以生成所述多個待測顯示參數。

在本發明的一個實施例中，所述輸入源兼容性測試方法還包括：響應于所述比對結果表征所述目標顯示參數與所述測試顯示參數不一致，獲取所述源輸入設備向所述受試設備輸入所述測試源時的顯卡參數；響應于所述顯卡參數中的分辨率和刷新率與所述測試顯示參數中的分辨率和刷新率不一致，根據所述測試顯示參數重新設定所述源輸入設備的顯卡參數后控制所述源輸入設備向所述受試設備輸入第二測試源；與所述受試設備進行數據交互以讀取所述受試設備識別所述第二測試源得到的第二目標顯示參數；以及自動比對所述第二目標顯示參數與所述測試顯示參數以得到比對結果、并更新所述測試記錄。

另一方面，本發明實施例提出的一種輸入源兼容性測試裝置，包括：指令下發模塊，用于下發測試指令至受試設備，以供電連接所述受試設備的源輸入設備獲知所述測試指令包含的測試顯示參數、并響應所述測試顯示參數向所述受試設備輸入相對應的測試源；參數讀取模塊，用于與所述受試設備進行數據交互以讀取所述受試設備識別所述測試源得到的目標顯示參數；以及，記錄生成模塊，用于自動比對所述目標顯示參數與所述測試顯示參數以得到比對結果、并生成測試記錄。