[發明專利]一種設備基準快速調平方法有效
| 申請號: | 202010184959.0 | 申請日: | 2020-03-17 |
| 公開(公告)號: | CN111238458B | 公開(公告)日: | 2022-03-25 |
| 發明(設計)人: | 王銅;梁靜;羅濤;董嵐;馬娜;何振強;柯志勇;門玲鸰;李波;王小龍;閆路平;韓圓穎;盧尚;沈建新;張曉輝 | 申請(專利權)人: | 散裂中子源科學中心;中國科學院高能物理研究所 |
| 主分類號: | G01C15/00 | 分類號: | G01C15/00;G01B11/00;G06F17/16 |
| 代理公司: | 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281 | 代理人: | 郭燕 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 設備 基準 快速 平方 | ||
本發明涉及測量設備技術領域,具體涉及一種設備基準快速調平方法,首先對設備進行標定,在設備上設置多個標定點,在設備上選取多個特征點,通過激光跟蹤儀獲取多個特征點的坐標,依據特征點的坐標擬合出設備基準并依此建立設備坐標系,獲取標定點在設備坐標系下的理論坐標以及在水平坐標系下的實測坐標后,通過坐標轉換后,獲取標定點的調整偏差,根據調整偏差指導調整設備進行調平,這樣調平方法直觀且有效,可以快速的將設備調平。
技術領域
本發明涉及測量設備技術領域,具體涉及一種設備基準快速調平方法。
背景技術
在設備安裝的過程中,經常要將設備的基準調整水平,這樣方便設備后續組裝。設備的基準通常為基線線、面,由反映設備基準的特征位置來表示,如機械精加工面。通過在特征位置上選取覆蓋整個特征位置的測量點進行測量,對測量點進行幾何構造得到設備基準,然后指導設備高度調節機構不斷調整,從而使設備基準調平。
設備的調平是一個動態過程,某一個高程調節機構的調整會影響整個設備的水平狀態,此時所有測量點的位置會發生變化。對于大型復雜的設備,特征位置基本覆蓋了整個設備,其測量點很多,每進行一次調整,對所有測量點的更新測量會大大降低工作效率。同時,設備由多個高度調節機構共同支撐,高度調節機構會使高度調整產生相互耦合且其調節范圍有限,因此現有的設備調平過程需要花費大量的時間。
發明內容
為了解決現有技術中設備調平的方法調節過程慢且需要消耗大量的時間的技術問題,本申請提供一種設備基準快速調平方法。
一種設備基準快速調平方法,包括:
設備標定步驟,在設備上設置多個標定點,在設備上選取多個特征點,通過激光跟蹤儀獲取所述多個特征點的坐標,依據所述特征點的坐標擬合出設備基準并依此建立設備坐標系,獲取所述標定點在所述設備坐標系下的理論坐標;
調整偏差獲取步驟,采用激光跟蹤儀測量所述標定點在水平坐標系下的實測坐標,將所述水平坐標系和設備坐標系關聯后,根據每個標定點的實測坐標和理論坐標獲取其對應的調整偏差;
調平步驟,根據所述調整偏差調整設備的對應的調節機構,直到所述調整偏差縮小至預設限差之內。
其中,所述在設備上選取多個特征點,通過激光跟蹤儀獲取所述多個特征點的坐標,依據所述特征點的坐標擬合出設備基準并依此建立設備坐標系包括:
在設備上選取多個特征點,依次將反射球放置在每個特征點處,通過激光跟蹤儀獲取每個特征點處的反射球的坐標,依據所述特征點處的反射球的坐標構造出設備的基準,依據所述基準建立三維直角坐標系作為設備坐標系。
其中,所述在設備上設置多個標定點包括:
在設備上選取多個標定點,使得所述標定點至少與調節機構一一對應,在所述標定點處固定靶標座,在所述靶標座上放置反射球。
其中,所述采用激光跟蹤儀測量所述標定點在水平坐標系下的實測坐標包括:
將激光跟蹤儀調至水平狀態,然后測量所述標定點在激光跟蹤儀水平坐標系下的坐標作為實測坐標。
其中,所述將所述水平坐標系和設備坐標系關聯后,根據每個標定點的實測坐標和理論坐標獲取其對應的調整偏差包括:
通過坐標轉換的方法將所述水平坐標系下測量到的所述標定點的實測坐標轉換到設備坐標系下,將每個標定點轉換后的實測坐標與所述理論坐標相減,得到每個標定點的調整偏差。
其中,所述通過坐標轉換的方法將所述水平坐標系下測量到的所述標定點的實測坐標轉換到設備坐標系下,將每個標定點轉換后的實測坐標與所述理論坐標相減,得到每個標定點的調整偏差包括:
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