[發(fā)明專利]一種臺區(qū)出口低電壓成因大數(shù)據(jù)分析方法及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010184948.2
• 申請日: 2020-03-17
• 公開（公告）號: CN111342454B
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 安義;戚沁雅;歐陽文華;蒙天琪;馬亮;周求寬;王華云;李升健;鄭蜀江
• 申請（專利權(quán)）人: 國網(wǎng)江西省電力有限公司電力科學(xué)研究院;國家電網(wǎng)有限公司
• 主分類號: H02J3/00
• 分類號: H02J3/00;G01R31/08
• 代理公司: 南昌市平凡知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 36122
• 代理人: 姚伯川

1.一種臺區(qū)出口低電壓成因大數(shù)據(jù)分析方法，其特征在于，所述方法利用臺區(qū)采集裝置采集供電出口側(cè)三相電壓、電流、有功電氣量，利用變電站母線電壓采集裝置采集三相或兩相母線電壓數(shù)據(jù)；對采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，并將時序數(shù)據(jù)存儲至后臺數(shù)據(jù)庫中，分成臺區(qū)運行數(shù)據(jù)表和母線電壓數(shù)據(jù)表；對采集到的臺區(qū)出口電壓數(shù)據(jù)及10kV母線電壓數(shù)據(jù)生成臺區(qū)出口低電壓事件及母線低電壓事件，并默認(rèn)每次臺區(qū)出口低電壓事件的原因為10kV線路網(wǎng)架問題；利用臺區(qū)出口電壓數(shù)據(jù)和母線電壓數(shù)據(jù)自動分析臺區(qū)出口低電壓原因；

所述自動分析臺區(qū)出口低電壓原因分兩步進(jìn)行：

第一步，初步分析臺區(qū)出口低電壓原因；

第二步，進(jìn)一步分析臺區(qū)出口低電壓原因；

初步分析臺區(qū)出口低電壓原因如下：

(1)當(dāng)?shù)碗妷菏录l(fā)生時，若該日臺區(qū)采集點小于24點，則判定為臺區(qū)采集器采集問題，則將臺區(qū)出口低電壓事件中的dt_lowvlot_reason字段重新設(shè)置為“0”，表示臺區(qū)采集器采集問題，否則，進(jìn)入步驟(2)；

(2)計算低電壓事件發(fā)生時每個采集點三相電壓平均值，事件發(fā)生時三相電壓平均值是否均大于198V，若是，則判定為臺區(qū)三相不平衡問題，則將臺區(qū)出口電壓低電壓事件的dt_lowvlot_reason字段重新設(shè)置為“1”，表示為臺區(qū)三相負(fù)荷不平衡問題，否則，進(jìn)入步驟(3)；

(3)計算低電壓事件發(fā)生時，是否存在接觸不良、斷相缺陷問題，判定規(guī)則如子流程①、②、③所示，若是，則判定為臺區(qū)為斷相、接觸不良缺陷問題，則將臺區(qū)出口電壓低電壓事件的dt_lowvlot_reason字段重新設(shè)置“2”，表示臺區(qū)斷相、接觸不良缺陷問題，否則，進(jìn)入第二步；

①若事件發(fā)生時間內(nèi)某個采集點存在|u_a+u_b-u_c|50V且max(u_a,u_b,u_c)198V，則判斷為臺區(qū)為斷相、接觸不良缺陷問題，Yyn0配變?nèi)毕轂镃相，Dyn11配變?nèi)毕轂锳相；

②若事件發(fā)生時間內(nèi)某個采集點存在|u_a+u_c-u_b|50V且max(u_a,u_b,u_c)198V，則判斷為臺區(qū)為斷相、接觸不良缺陷問題，Yyn0配變?nèi)毕轂锽相，Dyn11配變?nèi)毕轂镃相；

③若事件發(fā)生時間內(nèi)某個采集點存在|u_c+u_b-u_a|50V且max(u_a,u_b,u_c)198V，則判斷為臺區(qū)為斷相、接觸不良缺陷問題，Yyn0配變?nèi)毕轂锳相，Dyn11配變?nèi)毕轂锽相；

其中：u_a、u_b、u_c為低電壓事件期間的臺區(qū)出口a、b、c三相出口電壓數(shù)據(jù)序列；

所述進(jìn)一步分析臺區(qū)出口低電壓原因如下：

(1)以10kV線路為容器對臺區(qū)出口低電壓事件按日分組，尋找所有出口低電壓原因為10kV線路網(wǎng)架問題的臺區(qū)出口低電壓事件；每次事件出口低電壓時間內(nèi)是否存在10kV母線低電壓事件，若存在則將該臺區(qū)該時刻出口低電壓事件原因判定為母線低電壓問題，該臺區(qū)出口低電壓事件的dt_lowvlot_reason字段重新設(shè)置為“4”，表示該臺區(qū)出口低電壓由母線低電壓問題引起；

(2)以10kV線路為容器對臺區(qū)出口低電壓事件按日分組，尋找所有臺區(qū)出口低電壓原因為斷相、接觸不良缺陷問題dt_lowvlot_reason字段值為“2”的事件，若存在2臺及以上臺區(qū)低電壓事件為斷相、接觸不良缺陷問題，則判定為10kV線路斷線、接觸不良缺陷問題，將所涉及的臺區(qū)出口低電壓事件dt_lowvlot_reason字重新設(shè)置為“5”，表示所涉及的臺區(qū)出口低電壓由10kV線路缺陷問題引起；

(3)以10kV線路為容器對臺區(qū)出口低電壓事件按日分組，再次尋找所有臺區(qū)出口低電壓原因為10kV線路網(wǎng)架問題dt_lowvlot_reason字段值為“6”的事件，若存在小于2臺的配變，則所涉及的臺區(qū)判定為配變檔位問題，將所涉及的臺區(qū)出口低電壓事件dt_lowvlot_reason字重新設(shè)置為“3”。