[發(fā)明專利]硬件木馬檢測與定位方法及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010184947.8
• 申請日: 2020-03-17
• 公開（公告）號(hào): CN111460529B
• 公開（公告）日: 2023-07-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 侯波;王力緯;恩云飛;雷登云;黃云
• 申請（專利權(quán)）人: 中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所（（工業(yè)和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實(shí)驗(yàn)室））
• 主分類號(hào): G06F21/76
• 分類號(hào): G06F21/76;G06F18/2411;G01R31/28
• 代理公司: 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 虞凌霄

1.一種硬件木馬檢測與定位方法，其特征在于，包括：

施加激勵(lì)信號(hào)；所述施加激勵(lì)信號(hào)包括：在待檢芯片的時(shí)鐘輸入端輸入方波信號(hào)，電源輸入端和地線之間施加工作電壓V_DD；

檢測所述待檢芯片的每個(gè)區(qū)域在所述激勵(lì)信號(hào)下的電磁輻射信號(hào)；

獲取正常芯片所述每個(gè)區(qū)域的電磁數(shù)據(jù)，將每個(gè)所述區(qū)域的所述電磁輻射信號(hào)與所述電磁數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，若每個(gè)所述區(qū)域的所述電磁輻射信號(hào)均未超出所述電磁數(shù)據(jù)的上下限，則判定所述待檢芯片無硬件木馬；若存在電磁輻射信號(hào)超出所述上下限的區(qū)域，則判定這些區(qū)域存在硬件木馬；其中，所述電磁數(shù)據(jù)是通過測試正常芯片在所述激勵(lì)信號(hào)下的電磁輻射得到。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬件木馬檢測與定位方法，其特征在于，所述方波信號(hào)是周期和占空比保持不變的方波電壓數(shù)字信號(hào)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬件木馬檢測與定位方法，其特征在于，所述檢測所述待檢芯片的每個(gè)區(qū)域在所述激勵(lì)信號(hào)下的電磁輻射信號(hào)的步驟包括：

通過電磁探頭將電磁信號(hào)轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào)；

通過放大電路將所述電壓信號(hào)放大；

通過示波器得到隨時(shí)間變化的電壓數(shù)據(jù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的硬件木馬檢測與定位方法，其特征在于，所述測試正常芯片在所述激勵(lì)信號(hào)下的電磁輻射，是測試多個(gè)相同的正常芯片在所述激勵(lì)信號(hào)下的電磁輻射。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的硬件木馬檢測與定位方法，其特征在于，所述測試正常芯片在所述激勵(lì)信號(hào)下的電磁輻射包括：對測試的所有正常芯片的所述每個(gè)區(qū)域數(shù)據(jù)計(jì)算特征值，然后通過一分類支持向量機(jī)對所述每個(gè)區(qū)域的特征值進(jìn)行分類，確定邊界線；

所述將每個(gè)所述區(qū)域的所述電磁輻射信號(hào)與所述電磁數(shù)據(jù)進(jìn)行比較的步驟包括：對所述電磁輻射信號(hào)計(jì)算特征值，若每個(gè)所述區(qū)域的所述電磁輻射信號(hào)的特征值均在邊界線內(nèi)，則判定所述待檢芯片無硬件木馬，若存在電磁輻射信號(hào)的特征值在邊界線外的區(qū)域，則判定這些區(qū)域存在硬件木馬。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的硬件木馬檢測與定位方法，其特征在于，所述測試正常芯片在所述激勵(lì)信號(hào)下的電磁輻射包括：

獲取多個(gè)相同的正常芯片并編號(hào)為IC_k(k＝1,2,...,p)，p為芯片數(shù)；

將每個(gè)正常芯片均劃分為m×n的網(wǎng)格，并記為Net_ij(i＝1,2,...,m；j＝1,2,...,n)；

對芯片IC_k施加所述激勵(lì)信號(hào)，并測試每個(gè)網(wǎng)格的電磁輻射信號(hào)，得到每個(gè)網(wǎng)格的電磁輻射對應(yīng)的電壓曲線V_ij；

待所有的正常芯片測試完成后得到電壓曲線矩陣V_k,ij；

根據(jù)所述電壓曲線矩陣V_k,ij計(jì)算特征值，并通過一分類支持向量機(jī)進(jìn)行分類，確定邊界線bd_ij。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的硬件木馬檢測與定位方法，其特征在于，所述檢測所述待檢芯片的每個(gè)區(qū)域在所述激勵(lì)信號(hào)下的電磁輻射信號(hào)的步驟包括：檢測被劃分為m×n的網(wǎng)格的待檢芯片的電磁輻射信號(hào)，得到每個(gè)網(wǎng)格的電磁輻射對應(yīng)的電壓曲線V_dut,ij，根據(jù)所述電壓曲線V_dut,ij計(jì)算特征值E_ij；

所述將每個(gè)所述區(qū)域的所述電磁輻射信號(hào)與所述電磁數(shù)據(jù)進(jìn)行比較的步驟，是將所述特征值E_ij與所述邊界線bd_ij進(jìn)行比較。