[發明專利]一種用戶低電壓成因大數據分析方法及系統

有效

• 申請號: 202010184861.5
• 申請日: 2020-03-17
• 公開（公告）號: CN111398859B
• 公開（公告）日: 2022-04-08
• 發明（設計）人: 安義;戚沁雅;歐陽文華;蒙天琪;馬亮;周求寬;王華云;李升健;鄭蜀江
• 申請（專利權）人: 國網江西省電力有限公司電力科學研究院;國家電網有限公司
• 主分類號: G01R31/54
• 分類號: G01R31/54;G01R31/66;G01R29/16;G01R31/08;G06Q50/06
• 代理公司: 南昌市平凡知識產權代理事務所 36122
• 代理人: 姚伯川

1.一種用戶低電壓成因大數據分析方法，其特征在于，所述方法通過用戶電表采集用戶側電壓數據，臺區電能表采集裝置采集臺區出口側三相電壓、電流、無功、有功電氣量數據，變電站母線電壓采集裝置采集三相或兩相母線電壓數據；分別生成用戶側低電壓事件、臺區出口低電壓事件及母線低電壓事件；并默認每次用戶側低電壓事件原因為0.4kV線路網架問題，每次臺區出口低電壓事件的原因為10kV線路網架問題；利用用戶側電壓數據、臺區出口電壓數據和母線電壓數據，由用戶低電壓成因大數據分析系統自動分析每次用戶低電壓原因；

所述自動分析在對臺區出口低電壓原因分析的基礎上，對用戶低電壓原因進行分析，從而形成用戶低電壓原因分析結果；

所述臺區出口低電壓原因分兩步分析如下：

第一步分析步驟如下：

(1)當臺區出口低電壓事件發生時，若該天臺區采集點小于24點，則判定為臺區采集器采集問題；

(2)計算臺區出口低電壓事件發生時，計算事件期間每個采集點三相電壓平均值；事件發生期間每個采集點三相電壓平均最小值是否均大于198V；若是，則當前低電壓事件原因判定為臺區三相不平衡問題；否則，進入下一步步驟；

(3)計算臺區出口低電壓事件發生時，是否存在接觸不良、斷相缺陷問題；判定規則如子步驟①、②、③所示；若是，則當前低電壓事件原因判定為臺區斷相、接觸不良缺陷問題，當前臺區出口電壓低電壓事件的dt_lowvlot_reason字段重新設置為“2”，表示臺區接觸不良、斷相缺陷問題；否則，進入下一步分析；

①若事件發生時間內某個采集點存在|u_a+u_b-u_c|50V，且max(u_a,u_b,u_c)198V，則判斷臺區斷相、接觸不良缺陷問題，即Yyn0配變缺陷問題為C相，Dyn11配變缺陷問題為A相；

②若事件發生時間內某個采集點存在|u_a+u_c-u_b|50V，且max(u_a,u_b,u_c)198V，則判斷臺區斷相、接觸不良缺陷問題，即Yyn0配變缺陷問題為B相，Dyn11配變缺陷問題為C相；

③若事件發生時間內某個采集點存在|u_c+u_b-u_a|50V，且max(u_a,u_b,u_c)198V，則判斷為臺區斷相、接觸不良缺陷問題，即Yyn0配變缺陷問題為A相，Dyn11配變缺陷問題為B相；

其中：u_a、u_b、u_c為低電壓事件期間的臺區出口a、b、c三相出口電壓數據序列；

第二步分析步驟：

(1)對臺區出口低電壓事件按所屬10kV線路按日分組，尋找所有臺區出口低電壓原因程序中的dt_lowvlot_reason字段設置為“6”的臺區出口低電壓事件；出口低電壓時間內是否存在10kV母線低電壓事件；若存在，則將當前時刻臺區出口低電壓事件判定為母線低電壓問題，當前臺區出口低電壓事件的dt_lowvlot_reason字段重新設置為“4”，表示該臺區出口低電壓成因由母線低電壓問題引起；

(2)對臺區出口低電壓事件按10kV線路按日分組，尋找所有臺區出口低電壓原因為臺區斷相、接觸不良缺陷問題，即程序中dt_lowvlot_reason字段值為“2”的事件；若存在2臺及以上臺區出口低電壓事件判定為10kV線路斷線、接觸不良缺陷問題，將所涉及的臺區出口低電壓事件程序中dt_lowvlot_reason字段重新設置為“5”，表示所涉及斷線、接觸不良缺陷問題的臺區出口低電壓由10kV線路缺陷問題引起；

(3)對臺區出口低電壓事件按10kV線路按日分組，再次尋找所有臺區出口低電壓事件原因為10kV線路網架問題的事件，若存在小于2臺的配變，則所涉及的臺區判定為臺區配變檔位問題。