[發(fā)明專利]氣體數(shù)據(jù)分析方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010184324.0
• 申請日: 2020-03-16
• 公開（公告）號: CN111398202A
• 公開（公告）日: 2020-07-10
• 發(fā)明（設計）人: 王越超;尚春莉
• 申請（專利權）人: 廣東小天才科技有限公司
• 主分類號: G01N21/3504
• 分類號: G01N21/3504
• 代理公司: 廣州德科知識產(chǎn)權代理有限公司 44381
• 代理人: 萬振雄;楊中強

1.一種氣體數(shù)據(jù)分析方法，其特征在于，包括：

對氣體傳感器所處環(huán)境的環(huán)境氣體進行檢測，得到電氣量曲線；

對所述電氣量曲線進行分析，確定所述電氣量曲線的第一曲線特征；

按照預設的判定策略，根據(jù)所述第一曲線特征判定所述電氣量曲線對應的氣體類型；

當所述氣體類型為目標氣體時，基于所述電氣量曲線輸出所述目標氣體的氣體參數(shù)；

當所述氣體類型為干擾氣體時，不輸出所述電氣量曲線對應的氣體參數(shù)。

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述電氣量曲線進行分析，確定所述電氣量曲線的第一曲線特征，包括：

計算所述電氣量曲線中至少一個時間點對應的曲率；

根據(jù)所述至少一個時間點對應的曲率確定所述電氣量曲線的平均曲率；

所述按照預設的判定策略，根據(jù)所述第一曲線特征判定所述電氣量曲線對應的氣體類型，包括：

當所述平均曲率大于第一閾值時，確定所述電氣量曲線對應的氣體類型為干擾氣體；

當所述平均曲率不大于所述第一閾值時，確定所述電氣量曲線對應的氣體類型為目標氣體。

3.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述至少一個時間點對應的曲率確定所述電氣量曲線的平均曲率，包括：

獲取所述電氣量曲線的響應時間點，所述響應時間點為所述電氣量曲線中首次出現(xiàn)斜率大于設定值的時間點；

將在所述響應時間點之后的預設時間段作為等待時間段，并根據(jù)在所述等待時間段之后的至少一個時間點對應的曲率確定所述電氣量曲線的平均曲率。

4.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述電氣量曲線進行分析，確定所述電氣量曲線的第一曲線特征，包括：

統(tǒng)計所述電氣量曲線的拐點數(shù)量，拐點為改變所述電氣量曲線向上方向或向下方向的點；

所述按照預設的判定策略，根據(jù)所述第一曲線特征判定所述電氣量曲線對應的氣體類型，包括：

當所述拐點數(shù)量大于第二閾值時，確定所述電氣量曲線對應的氣體類型為干擾氣體；

當所述拐點數(shù)量不大于所述第二閾值時，確定所述電氣量曲線對應的氣體類型為目標氣體。

5.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述按照預設的判定策略，根據(jù)所述第一曲線特征判定所述電氣量曲線對應的氣體類型，包括：

將所述第一曲線特征與數(shù)據(jù)庫中存儲的至少一種氣體的電氣量曲線的第二曲線特征進行比對；

當所述第一曲線特征與第二曲線特征匹配，則將所述第一曲線特征對應的氣體類型判定為與所述第一曲線特征匹配的第二曲線特征對應的氣體類型。

6.根據(jù)權利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一曲線特征包括第一趨勢特征，所述第二曲線特征包括第二趨勢特征；

所述將所述第一曲線特征與數(shù)據(jù)庫中存儲的至少一種氣體的電氣量曲線的第二曲線特征進行比對，包括：

將所述第一趨勢特征與數(shù)據(jù)庫中存儲的至少一種氣體的電氣量曲線的第二趨勢特征進行比對；

當所述第一趨勢特征與第二趨勢特征之間的差異小于第三閾值時，確定所述第一趨勢特征與第二趨勢特征匹配。

7.根據(jù)權利要求1-6任一所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取所述氣體傳感器所處環(huán)境的場景信息；

當所述場景信息為預設場景時，在判定所述電氣量曲線對應的氣體類型為干擾氣體之后，生成詢問信息，所述詢問信息用于確認所述所處環(huán)境中是否存在干擾源；

當存在所述干擾源時，在預設時長后，重新執(zhí)行所述對氣體傳感器所處環(huán)境的環(huán)境氣體進行檢測，得到電氣量曲線。