[發明專利]信號處理裝置以及信號處理方法在審
| 申請號: | 202010181509.6 | 申請日: | 2015-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN111245306A | 公開(公告)日: | 2020-06-05 |
| 發明(設計)人: | 福村友博;藤田淳;石上翔太 | 申請(專利權)人: | 日本電產株式會社 |
| 主分類號: | H02P6/16 | 分類號: | H02P6/16 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝;黃志堅 |
| 地址: | 日本京都*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 信號 處理 裝置 以及 方法 | ||
1.一種信號處理裝置,其具有:
預處理電路,該預處理電路是輸出作為電信號的檢測信號的傳感器,該預處理電路將從以N個檢測信號的相位分別錯開360度/N的角度的方式配置的傳感器接收的所述N個檢測信號來生成N個校正檢測信號;
信號處理電路,其根據所述N個校正檢測信號,生成并輸出直線化了的線段連接信號;
記錄介質,其與所述信號處理電路連接,存儲對所述信號處理電路的動作進行控制的計算機程序,
所述信號處理電路按照所述計算機程序的指令執行如下處理:
逐次檢測所述N個校正檢測信號中的任意2個信號彼此交叉的交叉點;
將從所述交叉點聯結到與該交叉點相鄰的其他所述交叉點的校正檢測信號分割成1個或多個段,檢測各段作為分割信號;
從存儲裝置讀出測定數據,該測定數據是將與各段對應的值與全部的段對應起來而得到的;
參照所述測定數據,根據由線段連接信號規定的所述N個校正檢測信號的關系和所述分割信號,確定對應的段。
2.根據權利要求1所述的信號處理裝置,其中,
所述信號處理電路根據所述計算機程序的指令執行如下處理:
當可動子以恒定速度移動時,對每個段的所述可動子的移動時間進行測定,生成將與各段對應的所述可動子的移動量與全部的段對應起來的數據,作為所述測定數據而存儲在所述存儲裝置中。
3.根據權利要求1或2所述的信號處理裝置,其中,
表示可動子的位置估計值的信號具有與從基準位置起的所述可動子的移動量成比例地線性增大的值。
4.根據權利要求1或2所述的信號處理裝置,其中,
所述預處理電路執行從第1校正步驟、第2校正步驟和第3校正步驟中選擇的任意校正步驟,生成所述校正檢測信號,
所述第1校正步驟包含如下步驟:
從所述檢測信號中依次選擇1個檢測信號,從所選擇的所述檢測信號中減去未選擇的其他所述檢測信號的平均值,從而對所選擇的所述檢測信號進行校正,生成所述校正檢測信號,
所述第2校正步驟包含如下步驟:
針對各相的所述檢測信號,檢測每個極對的極大值和極小值以及至少2個周期的電角每1周期的振幅最大值和振幅最小值;
校正部針對各相的所述檢測信號,計算所述振幅最大值的平均和所述振幅最小值的平均;
將根據所述振幅最大值的平均和所述振幅最小值的平均計算出的最大最小平均值作為偏移校正值;
針對各個所述檢測信號,計算將所述極大值作為規定的最大值的每個磁極對的正側增益校正值;
針對各相的所述檢測信號,計算將所述極小值作為規定的最小值的每個磁極對的負側增益校正值;以及
針對各相的所述檢測信號,加上所述偏移校正值,將每個磁極對的正側的信號值與所述正側增益校正值相乘,將每個磁極對的負側的信號值與所述負側增益校正值相乘,
所述第3校正步驟包含如下的步驟:
針對各個所述檢測信號,根據所述檢測信號的波形的狀態,乘以預先決定的系數。
5.一種信號處理方法,該信號處理方法包含:
信號檢測步驟,N個傳感器分別檢測與可動子的位置對應的磁場,輸出作為電信號的檢測信號,各個該檢測信號的相位分別錯開360度除以N而得到的角度,其中,N為3以上的整數;
第1校正步驟,校正部按照每個檢測與所述可動子的位置對應的磁場的控制周期,依次選擇所述檢測信號中的1個檢測信號,從所選擇的所述檢測信號中減去未選擇的其他所述檢測信號的平均值,由此,針對各個所述檢測信號分別生成對所選擇的所述檢測信號進行校正后的檢測信號。
6.根據權利要求5所述的信號處理方法,其中,
在所述信號檢測步驟中,
所述傳感器的個數N是3個,
3個所述檢測信號的相位分別錯開120度。
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