[發明專利]相位偏折術在玻璃缺陷檢測的應用

有效

• 申請號: 202010180342.1
• 申請日: 2020-03-16
• 公開（公告）號: CN111323434B
• 公開（公告）日: 2021-08-13
• 發明（設計）人: 都衛東;王巖松;和江鎮;吳健雄;王天翔
• 申請（專利權）人: 征圖新視（江蘇）科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958
• 代理公司: 常州品益專利代理事務所(普通合伙) 32401
• 代理人: 喬楠

本發明涉及玻璃缺陷檢測，尤其是一種相位偏折術在玻璃缺陷檢測的應用，為解決現有玻璃缺陷檢測時存在尺寸較小的凹坑無法檢出，缺陷會受到玻璃下表面成像干擾的問題：提供一種相位偏折術在玻璃缺陷檢測的應用，包括如下步驟：1)、點亮環形光源時面陣相機拍照，采集暗場圖像，暗場圖像通過電腦計算缺陷檢測，得到暗場檢測結果；2)、控制器點亮顯示屏，顯示屏播放條紋圖像，在顯示器每幀切換時CCD相機采集圖像，該圖像通過電腦中的相位偏折算法計算缺陷檢測，得到相位偏折檢測結果；3)、將步驟1)中得到暗場檢測結果和步驟2)中得到相位偏折檢測結果配合進行綜合計算，本發明能提高產品生產檢測效率，降低人工以及設備成本。

技術領域

本發明涉及玻璃缺陷檢測，尤其是一種相位偏折術在玻璃缺陷檢測的應用。

背景技術

現有玻璃缺陷檢測，尤其是手機蓋板玻璃產品缺陷檢測中，會存在尺寸較小的凹坑無法檢出，缺陷會受到玻璃下表面成像干擾的問題；同時現有技術只用于檢測非透明高反物體，無法檢測透明的物體，因為透明物體存在下表面的成像干擾，又由于臟下表面二次反射嚴重影響了原本的相位偏折的信息，從而導致在檢出的缺陷圖中下表面干擾與真實缺陷無法區分。

發明內容

本發明為了解決現有玻璃缺陷檢測時存在尺寸較小的凹坑無法檢出，缺陷會受到玻璃下表面成像干擾的問題：提供一種相位偏折術在玻璃缺陷檢測的應用。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種相位偏折術在玻璃缺陷檢測的應用，包括如下步驟：

1)、面陣相機安裝在被測物的正上方且垂直于被測物，控制裝置控制點亮環形光源，點亮環形光源時面陣相機拍照一次，采集到一幅暗場圖像，暗場圖像通過電腦計算缺陷檢測，得到暗場檢測結果；

2)、在步驟1)完成暗場拍攝完成后，環形光源和面陣相機上升到預設高度，控制器點亮顯示屏，顯示屏依次播放條紋圖像，在顯示器每幀切換的時候控制器控制CCD相機同時采集圖像，得到用于相位偏折算法檢測的圖像，該圖像通過電腦中的相位偏折算法計算缺陷檢測，得到相位偏折檢測結果；

3)、將步驟1)中得到暗場檢測結果和步驟2)中得到相位偏折檢測結果配合進行綜合計算，其中暗場檢測結果與相位偏折檢測結果的配合是一個取交集的關系，二者各得到一個灰度圖，灰度圖各像素的亮度表示該點為缺陷的概率，當某個像素點在暗場檢測結果上的亮度與相位偏折檢測結果上的亮度都超過設定閾值時，判定該點存在缺陷。

進一步的，所述步驟2)中顯示屏依次播放的條紋圖像有26幅，包括橫、豎格雷碼圖像各9幅和橫、豎正弦條紋圖像各4幅，其中正弦條紋圖像為在x方向，或者y方向，單方向隨坐標變換，灰度在0到255之間呈正弦周期變化的圖像。

進一步的，所述橫正弦條紋圖像初相位依次為0°，90°，180°和270°，縱正弦條紋圖像初相位依次為0°，90°，180°和270°。

進一步的，所述采用的相位偏折術在玻璃缺陷檢測系統包括面陣相機、控制裝置、環形光源、顯示屏、CCD相機、電腦和升降裝置，電腦與控制裝置電連接，控制裝置接收電腦發出的指令，并控制面陣相機、環形光源、顯示屏、CCD相機和/或升降裝置動作，面陣相機和環形光源設置在升降裝置上，設置完成后的面陣相機和環形光源位于被測物的正上方且垂直于被測物，面陣相機和環形光源在升降裝置的驅動下，垂直于被測物上下往復運動，在該上下往復運動軌跡的兩側分別設置了CCD相機和顯示屏，CCD相機和顯示屏朝向被測物。

進一步的，所述顯示屏為LCD顯示屏，LCD顯示屏上依次顯示N+8幅條紋圖像，其中橫、豎格雷碼圖像各N/2幅，橫、豎正弦條紋圖像各4幅，N為雙數。

進一步的，所述條紋圖像數量為26幅，N為18。