[發明專利]圖像處理方法及裝置、圖像處理模型的訓練方法及裝置在審
| 申請號: | 202010179545.9 | 申請日: | 2020-03-13 |
| 公開(公告)號: | CN113139911A | 公開(公告)日: | 2021-07-20 |
| 發明(設計)人: | 徐魯輝;范浩強;李帥 | 申請(專利權)人: | 北京邁格威科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 董艷芳 |
| 地址: | 100000 北京市海淀區科*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 處理 方法 裝置 模型 訓練 | ||
1.一種圖像處理方法,其特征在于,所述方法應用于電子設備,所述方法包括:
獲取原始衍射圖像;
將所述原始衍射圖像輸入至圖像處理模型;
通過所述圖像處理模型對所述原始衍射圖像進行復原處理,得到所述原始衍射圖像對應的目標標準圖像。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述通過所述圖像處理模型對所述原始衍射圖像進行復原處理,得到所述原始衍射圖像對應的目標標準圖像的步驟,包括:
通過所述圖像處理模型檢測所述原始衍射圖像中各像素點的亮度值;
基于檢測的亮度值確定所述原始衍射圖像中包含目標光源的光斑區域;
基于所述光斑區域對所述原始衍射圖像進行復原處理,得到所述原始衍射圖像對應的目標標準圖像。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述光斑區域對所述原始衍射圖像進行復原處理的步驟,包括:
對所述光斑區域進行衍射條紋的去除,得到所述原始衍射圖像對應的待復原圖像;
對所述待復原圖像進行清晰度處理,得到目標標準圖像。
4.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于檢測的亮度值確定所述原始衍射圖像中包含目標光源的光斑區域的步驟,包括:
根據檢測的亮度值大于預設亮度閾值的像素點的位置,確定所述原始衍射圖像上的亮度區域;
判斷所述亮度區域的外接圓的半徑是否大于預設半徑;
如果是,將所述亮度區域確定為包含目標光源的光斑區域。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取原始衍射圖像的步驟,包括:
通過所述電子設備帶有的屏下攝像頭采集所述原始衍射圖像。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述圖像處理模型為基于圖像樣本對訓練得到的,所述圖像樣本對包括通過屏上攝像頭拍攝指定場景的樣本標準圖像和所述樣本標準圖像對應的樣本衍射圖像;其中,所述樣本衍射圖像為基于所述樣本標準圖像模擬屏下攝像頭拍攝所述指定場景得到的圖像,和/或為通過屏下攝像頭拍攝所述指定場景得到的圖像。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述電子設備包括顯示屏,所述顯示屏包括多個發光單元和多個透光區域;其中,每個所述發光單元包括預設數量的子像素;所述多個發光單元中的多個子像素之間存在間隙,以在所述間隙形成所述多個透光區域,所述多個透光區域中包括至少兩個非重復性的第一透光區域。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,多個所述發光單元中的任意一個子像素,與多個所述透光區域中的任意一個透光區域相互分離。
9.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述至少兩個非重復性的第一透光區域為以下一種或多種第一透光區域:
至少兩個所述第一透光區域之間具有不同的尺寸參數、外形參數、姿態參數、位置分布參數;
每個所述第一透光區域與其他透光區域之間具有不同的尺寸參數、外形參數、姿態參數、位置分布參數;以及
所有所述透光區域具有不同的尺寸參數、外形參數、姿態參數、位置分布參數。
10.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述電子設備包括顯示屏,所述顯示屏包括多個發光單元和多個透光區域;其中,每個所述發光單元包括預設數量的子像素;至少兩個所述發光單元的多個子像素呈非重復性分布。
11.根據權利要求10所述的方法,其特征在于,非重復性分布的多個子像素的間隙里形成至少兩個非重復性分布的透光區域。
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