[發(fā)明專利]目標(biāo)分類識(shí)別方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010177845.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-03-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111401440B | 公開(公告)日: | 2023-03-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 韋鵬程;黃思行 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 重慶第二師范學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G06F18/241 | 分類號(hào): | G06F18/241;G06F18/2415;G06N3/0464;G06N3/047;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京國(guó)坤專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11491 | 代理人: | 趙紅霞 |
| 地址: | 400000*** | 國(guó)省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 目標(biāo) 分類 識(shí)別 方法 裝置 計(jì)算機(jī) 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
本方案涉及一種目標(biāo)分類識(shí)別方法。所述方法包括:獲取目標(biāo)物的多模態(tài)數(shù)據(jù),并對(duì)多模態(tài)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)預(yù)處理,得到目標(biāo)物的標(biāo)準(zhǔn)多模態(tài)數(shù)據(jù);將標(biāo)準(zhǔn)多模態(tài)數(shù)據(jù)輸入至測(cè)量模型中,通過測(cè)量模型提取標(biāo)準(zhǔn)多模態(tài)數(shù)據(jù)的特征向量;根據(jù)特征向量以及標(biāo)準(zhǔn)多模態(tài)數(shù)據(jù),通過測(cè)量模型中的回歸分類器對(duì)目標(biāo)物進(jìn)行分類識(shí)別處理,得到目標(biāo)分類識(shí)別結(jié)果。由于獲取的是目標(biāo)物的多模態(tài)數(shù)據(jù),且對(duì)多模態(tài)數(shù)據(jù)進(jìn)行了數(shù)據(jù)預(yù)處理,通過測(cè)量模型中的回歸分類器對(duì)目標(biāo)物進(jìn)行分類識(shí)別處理,可以提高目標(biāo)識(shí)別的精確度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種目標(biāo)分類識(shí)別方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)
隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,機(jī)器學(xué)習(xí)、數(shù)據(jù)處理等技術(shù)也越來越普遍。其中,深度學(xué)習(xí)是機(jī)器學(xué)習(xí)領(lǐng)域中非常火的研究熱點(diǎn),深度學(xué)習(xí)主要針對(duì)多模態(tài)數(shù)據(jù),因?yàn)槭艿綌?shù)據(jù)模態(tài)個(gè)數(shù)、數(shù)據(jù)的特征屬性以及特征之間的相關(guān)性的限制,所以數(shù)據(jù)如何表示一直是機(jī)器學(xué)習(xí)的重點(diǎn)和難點(diǎn)問題之一。學(xué)習(xí)效果也會(huì)因數(shù)據(jù)表示效果的不同受很大影響。現(xiàn)有的解決方式一般是提取特征,用統(tǒng)一的矢量形式表示其所有數(shù)據(jù)。深度學(xué)習(xí)中的目標(biāo)分類識(shí)別是機(jī)器學(xué)習(xí)領(lǐng)域非常常見的一類問題,例如,圖像識(shí)別、語(yǔ)音識(shí)別、文字識(shí)別等,一個(gè)人可以通過基于人臉、指紋、簽名或虹膜來進(jìn)行識(shí)別。現(xiàn)有的分類識(shí)別主要是通過普遍的深度學(xué)習(xí)算法來進(jìn)行的,具有代表性的深度學(xué)習(xí)方法有:協(xié)同訓(xùn)練算法、多核學(xué)習(xí)算法、子空間學(xué)習(xí)算法。
然而,傳統(tǒng)的分類識(shí)別方法存在目標(biāo)識(shí)別不精確的問題。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,為了解決上述技術(shù)問題,提供一種目標(biāo)分類識(shí)別方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),可以提高目標(biāo)分類識(shí)別的精度。
一種目標(biāo)分類識(shí)別方法,所述方法包括:
獲取目標(biāo)物的多模態(tài)數(shù)據(jù),并對(duì)所述多模態(tài)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)預(yù)處理,得到所述目標(biāo)物的標(biāo)準(zhǔn)多模態(tài)數(shù)據(jù);
將所述標(biāo)準(zhǔn)多模態(tài)數(shù)據(jù)輸入至測(cè)量模型中,通過所述測(cè)量模型提取所述標(biāo)準(zhǔn)多模態(tài)數(shù)據(jù)的特征向量;
根據(jù)所述特征向量以及所述標(biāo)準(zhǔn)多模態(tài)數(shù)據(jù),通過所述測(cè)量模型中的回歸分類器對(duì)所述目標(biāo)物進(jìn)行分類識(shí)別處理,得到目標(biāo)分類識(shí)別結(jié)果。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述方法還包括:
獲取初始測(cè)量模型;
所述初始測(cè)量模型通過無監(jiān)督學(xué)習(xí)獲得初始參數(shù);
使用反向傳播算法對(duì)所述初始測(cè)量模型中的初始參數(shù)進(jìn)行調(diào)整,得到所述測(cè)量模型。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述對(duì)所述多模態(tài)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)預(yù)處理,得到所述目標(biāo)物的標(biāo)準(zhǔn)多模態(tài)數(shù)據(jù),包括:
獲取初始數(shù)據(jù)處理范圍;
根據(jù)所述目標(biāo)物調(diào)整所述初始數(shù)據(jù)處理范圍,得到目標(biāo)數(shù)據(jù)處理范圍;
根據(jù)所述目標(biāo)數(shù)據(jù)處理范圍,對(duì)所述多模態(tài)數(shù)據(jù)中的異常數(shù)據(jù)進(jìn)行清除,得到所述目標(biāo)物的標(biāo)準(zhǔn)多模態(tài)數(shù)據(jù)。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述通過所述測(cè)量模型中的回歸分類器對(duì)所述目標(biāo)物進(jìn)行分類識(shí)別處理,得到目標(biāo)分類識(shí)別結(jié)果,包括:
所述回歸分類器通過受限玻爾茲曼機(jī)算法進(jìn)行學(xué)習(xí),并更新所述受限玻爾茲曼機(jī)算法的權(quán)重,得到所述受限玻爾茲曼機(jī)算法的權(quán)重更新公式;
根據(jù)所述權(quán)重更新公式得到目標(biāo)受限玻爾茲曼機(jī)算法;
根據(jù)所述目標(biāo)受限玻爾茲曼機(jī)算法,將所述標(biāo)準(zhǔn)多模態(tài)數(shù)據(jù)映射至所述測(cè)量模型中,通過所述測(cè)量模型對(duì)所述目標(biāo)物進(jìn)行分類識(shí)別處理,得到目標(biāo)分類識(shí)別結(jié)果。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述回歸分類器通過受限玻爾茲曼機(jī)算法進(jìn)行學(xué)習(xí),并更新所述受限玻爾茲曼機(jī)算法的權(quán)重,得到所述受限玻爾茲曼機(jī)算法的權(quán)重更新公式,包括:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于重慶第二師范學(xué)院,未經(jīng)重慶第二師范學(xué)院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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