[發(fā)明專利]具有抵消磁通的內(nèi)阻檢測(cè)設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010176823.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-03-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111257777B | 公開(公告)日: | 2022-05-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊權(quán)龍;任光前 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市新威爾電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/389 | 分類號(hào): | G01R31/389 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518049 廣東省深圳市福田區(qū)梅林街道梅都*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 抵消 內(nèi)阻 檢測(cè) 設(shè)備 | ||
本發(fā)明提供了一種具有抵消磁通的內(nèi)阻檢測(cè)設(shè)備,包括前置放大器模塊、放大器模塊、帶通濾波器模塊、跟隨器模塊、同相放大器模塊、反相放大器模塊、第一模擬開關(guān)模塊、第二模擬開關(guān)模塊、低通濾波器模塊、直流放大器模塊、AD轉(zhuǎn)換器模塊、光耦隔離模塊、MCU模塊、四階低通濾波器模塊、可調(diào)增益放大器模塊、電壓電流轉(zhuǎn)換模塊、電流源模塊,本發(fā)明的有益效果在于:本發(fā)明具有抗干擾能力強(qiáng)、速率高、穩(wěn)定性好,從而消除了電磁感應(yīng)對(duì)檢測(cè)造成的干擾,能夠使得電池內(nèi)阻值的檢測(cè)精度有效提高,并且提高了工業(yè)生產(chǎn)線的工作效率,降低了人力成本。
【技術(shù)領(lǐng)域】
本發(fā)明涉及一種內(nèi)阻檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域,尤其涉及一種具有抵消磁通的內(nèi)阻檢測(cè)設(shè)備。
【背景技術(shù)】
隨著電池技術(shù)的發(fā)展,電池的性能也越來越強(qiáng)大。電池的內(nèi)阻或者阻抗是一個(gè)影響電池性能的重要參數(shù),目前使用的側(cè)內(nèi)阻方法主要是四線法。但是在使用四線法測(cè)量電池內(nèi)阻時(shí),由于檢測(cè)回路會(huì)形成一定面積,當(dāng)電流導(dǎo)線通有交變電流時(shí)會(huì)產(chǎn)生交變磁場(chǎng),導(dǎo)致電壓檢測(cè)線回路中的磁通量也隨之發(fā)生變化,從而產(chǎn)生感應(yīng)電壓,因此所測(cè)電壓實(shí)際上是電池兩端電壓和電壓檢測(cè)線上的感應(yīng)電壓之和,導(dǎo)致電池內(nèi)阻的檢測(cè)結(jié)果存在一定誤差。
由于實(shí)際使用中,電壓檢測(cè)線回路的面積是隨機(jī)的,感應(yīng)電壓的頻率和電流源頻率一致,也無法通過選頻濾波濾除干擾電壓,因?yàn)殡姵貎?nèi)阻的數(shù)值非常小,因此感應(yīng)電壓的干擾會(huì)導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果出現(xiàn)較大誤差。
【發(fā)明內(nèi)容】
本發(fā)明的目的在于解決由于實(shí)際使用中,電壓檢測(cè)線回路的面積是隨機(jī)的,感應(yīng)電壓的頻率和電流源頻率一致,也無法通過選頻濾波濾除干擾電壓,因?yàn)殡姵貎?nèi)阻的數(shù)值非常小,因此感應(yīng)電壓的干擾會(huì)導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果出現(xiàn)較大誤差的不足而提供的一種新型的具有抵消磁通的內(nèi)阻檢測(cè)設(shè)備。
本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的:
一種具有抵消磁通的內(nèi)阻檢測(cè)設(shè)備,包括前置放大器模塊、放大器模塊、帶通濾波器模塊、跟隨器模塊、同相放大器模塊、反相放大器模塊、第一模擬開關(guān)模塊、第二模擬開關(guān)模塊、低通濾波器模塊、直流放大器模塊、AD轉(zhuǎn)換器模塊、光耦隔離模塊、MCU模塊、四階低通濾波器模塊、可調(diào)增益放大器模塊、電壓電流轉(zhuǎn)換模塊、電流源模塊,所述前置放大器模塊與所述放大器模塊相連接,所述放大器模塊與所述帶通濾波器模塊相連接,所述帶通濾波器模塊與所述跟隨器模塊相連接,所述跟隨器模塊分別與所述同相放大器模塊、反相放大器模塊相連接,所述同相放大器模塊分別與所述第一模擬開關(guān)模塊、第二模擬開關(guān)模塊相連接,所述反相放大器模塊分別與所述第一模擬開關(guān)模塊、第二模擬開關(guān)模塊相連接,所述第一模擬開關(guān)模塊、第二模擬開關(guān)模塊分別與所述低通濾波器模塊相連接,所述低通濾波器模塊與所述直流放大器模塊相連接,所述直流放大器模塊與所述AD轉(zhuǎn)換器模塊相連接,所述AD轉(zhuǎn)換器模塊通過所述光耦隔離模塊與所述MCU模塊相連接,所述第一模擬開關(guān)模塊、第二模擬開關(guān)模塊分別通過光耦隔離模塊與所述MCU模塊相連接;
所述MCU模塊輸出四路相位可調(diào)的同頻率信號(hào),在經(jīng)過光耦隔離模塊與四階低通濾波器模塊相連接,所述四階低通濾波器模塊與所述電壓電流轉(zhuǎn)換模塊相連接,所述四階低通濾波器模塊與所述可調(diào)增益放大器模塊相連接,所述電壓電流轉(zhuǎn)換模塊與所述電流源相連接,所述可調(diào)增益放大器模塊與所述電壓電流轉(zhuǎn)換模塊相連接。
進(jìn)一步地,所述MCU模塊輸出的其中一路相位可調(diào)的同頻率的信號(hào)與產(chǎn)生的磁通信號(hào)相互抵消。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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